[實用新型]在位式氣體測量裝置無效
| 申請號: | 200820165808.5 | 申請日: | 2008-10-09 |
| 公開(公告)號: | CN201266168Y | 公開(公告)日: | 2009-07-01 |
| 發明(設計)人: | 黃偉;顧海濤;王健 | 申請(專利權)人: | 聚光科技(杭州)有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/17 | 分類號: | G01N21/17;G01N21/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 310052浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 在位 氣體 測量 裝置 | ||
1、一種在位式氣體測量裝置,包括光源、分束器件、第一和第二探測器、分析單元、向光源和/或第一探測器所處區域供應吹掃氣體的吹掃單元;其特征在于:所述分束器件設置在所述光源或第一探測器所處區域內,測量光在所述分束器件上被分為第一光束和第二光束,所述第二探測器設置在所述第二光束的行進路線上。
2、根據權利要求1所述的氣體測量裝置,其特征在于:所述分束器件和第二探測器設置在光源或第一探測器所處區域內。
3、根據權利要求1所述的氣體測量裝置,其特征在于:所述分束器件和第二探測器分別設置在光源和第一探測器所處區域內。
4、根據權利要求1所述的氣體測量裝置,其特征在于:所述分束器件和第二探測器分別設置在第一探測器和光源所處區域內。
5、根據權利要求1至4任一所述的氣體測量裝置,其特征在于:所述分束器件是會聚透鏡或玻片。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于聚光科技(杭州)有限公司,未經聚光科技(杭州)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200820165808.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:適于肢體運動的MP3
- 下一篇:立式輥磨機省力裝置





