[實用新型]鏡頭測試架

有效

• 申請號: 200820165302.4
• 申請日: 2008-09-26
• 公開（公告）號: CN201259608Y
• 公開（公告）日: 2009-06-17
• 發明（設計）人: 周盛民
• 申請（專利權）人: 浙江悍馬光電設備有限公司
• 主分類號: G03B43/00
• 分類號: G03B43/00;G01M11/02
• 代理公司: 杭州杭誠專利事務所有限公司
• 代理人: 俞潤體

技術領域

本實用新型涉及一種相機的檢測設備，尤其是涉及一種對鏡頭測試架等結構的改良。

背景技術

攝像機、手機攝像頭乃至航空相機等攝影裝置中，光學鏡頭是一個不可缺少的部件。航空相機拍攝物體的影像品質主要取決于光學鏡頭的成像質量。對于光學鏡頭的制造而言，對光學鏡頭成像質量要求及把關的程序在于光學鏡頭的測試過程。中國專利公開了一種鏡頭測試裝置及方法(公開號：CN101097398A)，其裝置包括一個影像感測器；一個光源模塊，用于提供測試鏡頭所需要的測試條紋圖樣；一個測試平臺，位于影像感測器和光源模塊之間；鏡頭測試裝置進一步包括一個影像擷取裝置及一個數據處理裝置，影像擷取裝置用于在鏡頭測試前取得測試平臺上的鏡頭的圖樣，以判斷鏡頭是否放置好，數據處理裝置分別與所述影像感測器及影像擷取裝置電連接；數據處理裝置為計算機，其內安裝有能夠識別圖像信息并處理相關數據的程序；測試平臺為一載盤，其上開設多個容置孔，該多個容置孔用于容置并固持鏡頭，容置孔為一臺階狀通孔，包括同軸設置的通光部和容置部，且該通光部的直徑小于該容置部的直徑；通光部分為喇叭狀圓孔，其與容置部連接一端的直徑小于另一端的直徑，多個容置孔按一定規律排列于測試平臺上。其測試方法包括以下步驟：提供一個數據處理裝置、一個影像感測器、一個光源模塊及一個測試平臺，測試平臺位于影像感測器和光源模塊之間；將鏡頭放到測試平臺上；用一個影像擷取裝置取得測試平臺上的鏡頭的影像；判斷所述鏡頭是否放置好；若鏡頭放置好，則移動影像感測器及光源模塊對鏡頭進行測試。但這種測試裝置的測試光源無法隨意調節，不能從各個方向測試鏡頭的光學參數，測試所得到的數據較為單一。

實用新型內容

本實用新型需要解決的技術問題是提供一種鏡頭測試架，其主要是解決現有技術所存在的測試裝置的測試光源無法隨意調節，不能從各個方向測試鏡頭的光學參數，測試所得到的數據較為單一等的技術問題。

本實用新型的上述技術問題主要是通過下述技術方案得以解決的：

本實用新型的鏡頭測試架，包括立柱，立柱上連接有平行設立的3根及以上根的橫桿，其特征在于所述的每根橫桿通過萬向調節架活動連接有3個及以上個平行光管，平行光管整體成錐形，其包括有光源燈，光源燈通過支桿連接燈罩。立柱與橫桿可為金屬材料制成。光源燈通過三根支桿連接燈罩，三根支桿與燈罩組成錐形，并且燈罩通過萬向調節架與橫桿連接。平行光管可在萬向調節架上隨意上下左右調節，以適應相機對于不同角度光線的測試需求。根據所需測試點的多少，橫桿以及平行光管可設置為多個。待測鏡頭可擺放在離鏡頭測試架幾米遠的地方，鏡頭測試架通電后，從各方向向待測鏡頭處投射光線。

作為優選，所述的萬向調節架包括固定在橫桿上的下底座，下底座上部為一圓柱體，圓柱體上套接有水平調節機構，水平調節機構下部設有可將下底座與水平調節機構鎖緊的水平鎖緊通孔；水平調節機構上部開槽，槽內穿接有軸，軸上鉸接有垂直調節機構，垂直調節機構與平行光管固定，水平調節機構上設有可將水平調節機構與垂直調節機構鎖緊的垂直鎖緊通孔。水平調節機構可在下底座處左右旋轉，轉到一定位置時，可在水平鎖緊通孔內插入鎖緊螺栓進行固定。垂直調節機構插接在水平調節機構上部的槽內，并且可繞著槽內穿接的軸上下轉動，待轉動到一定位置時，可以通過在垂直鎖緊通孔內插入鎖緊螺栓進行固定。垂直調節機構上部可以連接有托架，托架上可以設有安裝孔，便于其與平行光管上的燈罩固定。

作為優選，所述的下底座上部的圓柱體外表面開有與水平鎖緊通孔位置相適應的環槽或通孔。下底座上部的圓柱體外表面可均勻設置有多個通孔，這樣可以使得旋轉后有多個工位可以固定。圓柱體外表面開有環槽時，通過鎖緊螺栓可在水平調節機構旋轉后在任意工位上固定。

作為優選，所述的立柱或/和橫桿上固接有可擺放單個平行光管的架桿。通過在立柱、橫桿上設立架桿，可以在整個測試架上單獨設立幾個測試光點，以適應不同的檢測需要。

作為優選，所述的橫桿為3根，每根橫桿上的平行光管為均布的5個。

作為優選，所述的立柱為2根，橫桿為3根，每根橫桿上的平行光管為均布的5個，相鄰兩根橫桿之間的2根立柱上分別連接有1根架桿，靠下的兩根橫桿上分別通過轉接桿也連接有1根架桿，每根架桿都連接有單個平行光管。相鄰兩根橫桿上中心位置的架桿可通過轉接桿連接在任意一根橫桿上。

作為優選，所述的靠下的相鄰兩根橫桿之間的3根架桿離同一根橫桿的距離相同；靠上的相鄰兩根橫桿之間的3根架桿離同一根橫桿的距離不相同。靠上的3根架桿按照階梯型排列，這樣可以檢測多個高度光源的成像質量。