[實用新型]物體三維輪廓測量裝置無效
| 申請號: | 200820157252.5 | 申請日: | 2008-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN201344792Y | 公開(公告)日: | 2009-11-11 |
| 發明(設計)人: | 張軍;周常河;賈偉;武騰飛 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海光學精密機械研究所 |
| 主分類號: | G01B11/25 | 分類號: | G01B11/25 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 | 代理人: | 張澤純 |
| 地址: | 201800上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 物體 三維 輪廓 測量 裝置 | ||
1、一種物體三維輪廓測量裝置,其特征在于由激光二極管(1)、透鏡(2)、小孔光闌(3)、二維達曼光柵(4)、柱面鏡(5)、面陣CCD相機(6)、傳輸線(7)和計算機(8)構成,各部件的連接關系是:所述的激光二極管(1)發出的光束依次經過透鏡(2)、小孔光闌(3)、二維達曼光柵(4)和柱面鏡(5)后,形成一維投影陣列條紋,照明待測目標的表面(S),由所述的面陣CCD相機(6)采集被測量目標表面(S)三維面形調制的光柵投影條紋,經傳輸線(7)輸入所述的計算機(8)。
2、根據權利要求1所述的物體三維輪廓測量裝置,其特征在于所述的二維達曼光柵(4)的空間分束比為N×N,該N為2以上的正整數,對所述的激光二極管(1)波長的衍射圖樣為正方形的均勻點陣分布。
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