[實用新型]氣體自動測試夾具的裝置

無效

• 申請號: 200820156454.8
• 申請日: 2008-12-03
• 公開（公告）號: CN201364345Y
• 公開（公告）日: 2009-12-16
• 發明（設計）人: 張華銀;任重
• 申請（專利權）人: 英華達(上海)科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司
• 代理人: 王敏杰

技術領域

本實用新型是有關于一種氣體自動測試夾具的裝置，特別是有關于以氣動方式使上針盤組件壓抵電路板使上、下針盤組件的探針接觸電路板的測試點的氣體自動測試夾具的裝置。

背景技術

目前測試電路板或連板，常見是以自動測試夾具對電路板進行測試，必須使自動測試夾具的測試探針與電路板上預留的相對應測試點相接觸，并使測試探針保持彈性而有足夠的壓縮量，這也是一般測試夾具設計的基本目的，但往往僅能測試面積較小的電路板或連板，如果測試面積較大的電路板或連板，自動測試夾具的部分測試探針往往無法有效接觸電路板的測試點。同時，考慮到被測試電路板的大小、測試點的分布、PCB的取放方便等因素影響，夾具的結構也不相同。特別是電路板面積偏大時，現有夾具往往會碰到難以下壓，或電路板置入取出不便，有些自動測試夾具則不能滿足測試點及測試點的間距較小等問題。

另外，目前測試面積較大的電路板或連板，一般所使用的真空自動測試夾具加以測試，受到真空自動夾具所選用的專用測試探針的影響，因測試探針及測試探針之間具有一定的間距，因此必須要求被測的電路板其測試點的間距不得低于1.27mm，而普通探針因結構限制無法用于真空夾具上，但隨著電路板集成程度日益提高，往往其部分測試點及測試點的間距大都低于1.27mm。

綜上所述，需要設計開發一種能夠使探針緊密接觸面積較大的電路板或連板上的測試點，以及能使用普通且測試探針及測試探針的間距可以更加密集的夾具，本新型的氣體自動測試夾具其設計的目的即是為滿足這些要求。

實用新型內容

為克服上述已有技術的不足，本實用新型要解決的技術問題是提供一種氣體自動測試夾具的裝置，藉由氣缸體帶動傳動機構位移，使上針盤組件緊密壓抵電路板，導致上針盤組件或下針盤組件的可替換的通用探針能夠緊密接觸面積較大的電路板或連板上的測試點。

為解決上述技術問題，本實用新型的技術方案是：

一種氣體自動測試夾具的裝置，應用于測試電路板，電路板具有多個測試點，氣體自動測試夾具的裝置包含：

箱體；

下針盤組件，位于箱體上，具有轉軸；

上針盤組件，樞接于下針盤組件，具有多個微軸承；

傳動機構，連接于下針盤組件，傳動機構的兩側分別具有至少一個導向槽；

氣缸體，位于下針盤組件，氣缸體一端連接傳動機構；

其中，當電路板置放于下針盤組件，且上針盤組件以轉軸為軸心作旋轉運動時，多個微軸承分別置入相對應的至少一個導向槽，利用氣缸體推動傳動機構位移，使傳動機構作第一方向運動，并且，藉由多個微軸承分別于至少一個導向槽位移，使微軸承作第二方向運動，而使上針盤組件或下針盤組件接觸多個測試點。

氣體自動測試夾具的裝置還包含傳動機構保護蓋，連接于下針盤組件。

氣體自動測試夾具的裝置，還包含至少一個氣彈簧，氣彈簧兩端分別與上針盤組件及傳動機構保護蓋相連接，以平緩上針盤組件的作動。

上針盤組件具有多個探針，多個探針分別接觸多個測試點。

下針盤組件具有多個探針，多個探針分別接觸多個測試點。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果可以是：

(1)本新型氣體自動測試夾具的裝置能夠測試面積較大的電路板或連板。

(2)本新型氣體自動測試夾具的裝置能夠測試測試點至測試點的間距低于1.27mm的電路板。

(3)本新型氣體自動測試夾具的裝置可藉由適用通用探針，節省氣體自動測試夾具的裝置制造成本。

(4)本新型氣體自動測試夾具的裝置可藉由氣缸體的動作而以氣動使上針盤組件向下壓抵電路板，以節省人力。

(5)本新型氣體自動測試夾具的裝置可藉由更換上針盤組件及下針盤組件，以測試不同的測試產品，達到更換方便、下壓平穩及緊密接觸測試點，以保證被測試電路板的變形在許可范圍內。

附圖說明

圖1為本新型氣體自動測試夾具的裝置的立體結構示意圖。

圖2為本新型氣體自動測試夾具的裝置的另一視角立體結構示意圖。

圖3為本新型的上針盤組件的立體結構示意圖。

圖4為本新型的上針盤組件的另一視角立體結構示意圖。

圖5為本新型的下針盤組件的立體結構示意圖。

圖6為本新型的下針盤組件的另一視角立體結構示意圖。

圖7為本新型的傳動機構的立體結構示意圖。

圖8為本新型的箱體的立體結構示意圖。