[實用新型]一種針對LGA775平臺輸出電壓的測試裝置無效

申請號：	200820153533.3	申請日：	2008-09-26
公開（公告）號：	CN201262633Y	公開（公告）日：	2009-06-24
發明（設計）人：	周濟;楊軍	申請（專利權）人：	上海華北科技有限公司
主分類號：	G01R19/00	分類號：	G01R19/00;G06F11/22
代理公司：	上海伯瑞杰知識產權代理有限公司	代理人：	吳瑾瑜
地址：	200233上海市徐***	國省代碼：	上海;31
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種針對 lga775 平臺輸出電壓測試裝置
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【權利要求書】：

1.一種針對LGA775平臺輸出電壓的測試裝置，其特征在于包括一基板(150)，其一面上設置有若干與主板(110)之呈矩形狀觸電對應的測試點(151)，另一面設置有一可編程邏輯電路(150)，以及一與所述可編程邏輯電路(150)相連接的控制板(100)，在該控制板(100)上設有一顯示模塊(1701)和一VID組合調節模塊(1702)。

2.按照權利要求1所述的一種針對LGA775平臺輸出電壓的測試裝置，其特征在于所述的VID組合調節模塊(1702)由一插入式組合開關以及多個電阻組成。

3.按照權利要求1所述的一種針對LGA775平臺輸出電壓的測試裝置，其特征在于所述的VID組合調節模塊(1702)與主板(110)上VRD電壓模塊相連。

4.按照權利要求1、2或3所述的一種針對LGA775平臺輸出電壓的測試裝置，其特征在于所述的顯示模塊(1701)為LED。

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