[實用新型]皮秒脈沖對比度單次測量儀

無效

• 申請號: 200820151905.9
• 申請日: 2008-08-13
• 公開（公告）號: CN201237532Y
• 公開（公告）日: 2009-05-13
• 發明（設計）人: 歐陽小平;李小燕;朱健強
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海光學精密機械研究所
• 主分類號: G01J11/00
• 分類號: G01J11/00;G02F1/35;G02B17/06
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司
• 代理人: 張澤純

1、一種皮秒脈沖對比度單次測量裝置，特征在于由分光鏡(2-1)、第一反射鏡(2-2)、第二反射鏡(2-3)、第三反射鏡(2-4)、第四反射鏡(2-5)、基頻達曼光柵(2-6)、基頻補償光柵組(2-7)、第五反射鏡(2-8)、第六反射鏡(2-9)、二倍頻晶體(2-10)、二倍頻達曼光柵(2-11)、二倍頻補償光柵組(2-12)、反射鏡組(2-13)、合束鏡組(2—14)、三倍頻晶體組(2-15)、濾光片組(2-16)和光電倍增管組(2-17)構成，其位置關系如下：

入射的待測脈沖作為基頻光，經過所述的分光鏡(2-1)被分為透射光束和反射光束，該透射光束通過由第一反射鏡(2-2)、第二反射鏡(2-3)、第三反射鏡(2-4)和第四反射鏡(2-5)組成的光程延遲機構，入射到基頻達曼光柵(2-6)上，形成基頻多路子光束，每一路子光束都各自對應所述的基頻補償光柵組(2-7)的一塊基頻補償光柵，然后射向合束鏡組的(2—14)相應的合束鏡，所述的反射光束通過第五反射鏡(2-8)和第六反射鏡(2-9)進入所述的二倍頻晶體(2-10)，得到二倍頻光，該二倍頻光入射到二倍頻達曼光柵(2-11)上，形成二倍頻多路子光束，每路二倍頻子光束都對應二倍頻補償光柵組(2-11)的一塊二倍頻補償光柵，得到二倍頻多路子光束，該二倍頻多路子光束通過反射鏡組(2-13)相應的反射鏡反射后進入所述的合束鏡組(2—14)，與所述的基頻子光束合束后共線傳輸，一起進入三倍頻晶體組(2-15)，得到三倍頻光，該多束三倍頻光通過濾光片組(2-16)，被光電倍增管組(2-17)探測三倍頻信號的強度，計算后就可以得到待測脈沖的對比度。

2、根據權利要求1所述的皮秒脈沖對比度單次測量裝置，其特征在于所述的基頻補償光柵組(2-7)由五塊結構相同的基頻補償光柵構成，所述的二倍頻補償光柵組(2-11)由五塊結構相同的二倍頻補償光柵構成，所述的反射鏡組(2-13)由五塊結構相同的反射鏡構成，所述的合束鏡組的(2—14)由五塊結構相同的合束鏡構成、所述的三倍頻晶體組(2-15)由五塊結構相同的三倍頻晶體構成、所述的濾光片組(2-16)由五塊結構相同的濾光片構成，所述的光電倍增管組(2-17)由五塊結構相同的光電倍增管構成。