[實(shí)用新型]電子鎮(zhèn)流器及其檢測(cè)裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200820134003.4 | 申請(qǐng)日: | 2008-09-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN201336762Y | 公開(kāi)(公告)日: | 2009-10-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃保生 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 達(dá)方電子股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H05B41/14 | 分類(lèi)號(hào): | H05B41/14 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人: | 蒲邁文 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子鎮(zhèn)流器 及其 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種檢測(cè)裝置,電連接至一電子鎮(zhèn)流器,包含:
一微電阻,與該電子鎮(zhèn)流器的一輸出電路電連接,一電流自該輸出電路 流經(jīng)該微電阻,致使該微電阻的兩端形成一第一電壓;
一放大器,與該微電阻電連接,該放大器將該第一電壓放大為一第二電 壓;
一比較器,與該放大器電連接,該比較器根據(jù)一參考電壓及該第二電壓, 選擇性地輸出一第三電壓或一第四電壓,該第三電壓異于該第四電壓;以及
一顯示器,與該比較器電連接,該顯示器接收該第三電壓或該第四電壓 而選擇性地發(fā)光。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其中該顯示器包含一第一發(fā)光體及一 第二發(fā)光體,該第一發(fā)光體可發(fā)射該第一色光,該第二發(fā)光體可發(fā)射該第二 色光。
3.如權(quán)利要求2所述的檢測(cè)裝置,其中該顯示器包含一第一N型金屬氧 化物半導(dǎo)體及一第二N型金屬氧化物半導(dǎo)體,分別電性連接至該第一發(fā)光體 及一第二發(fā)光體。
4.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,進(jìn)一步包含一電源供應(yīng)器,電性連接 至該電子鎮(zhèn)流器。
5.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其中該參考電壓為2.5伏特。
6.一種電子鎮(zhèn)流器,包含:
一諧振電路,包含一輸出電路;
一微電阻,電連接至該輸出電路,一電流自該輸出電路流經(jīng)該微電阻, 致使該微電阻的兩端形成一第一電壓;
一放大器,與該微電阻電連接,該放大器將該第一電壓放大為一第二電 壓;
一比較器,與該放大器電連接,該比較器根據(jù)一參考電壓及該第二電壓, 選擇性地輸出一第三電壓或一第四電壓,該第三電壓異于該第四電壓;以及
一顯示器,與該比較器電連接,該顯示器接收該第三電壓或該第四電壓 而選擇性地發(fā)光。
7.如權(quán)利要求6所述的電子鎮(zhèn)流器,其中該顯示器包含一第一發(fā)光體及 一第二發(fā)光體,該第一發(fā)光體可發(fā)射該第一色光,該第二發(fā)光體可發(fā)射該第 二色光。
8.如權(quán)利要求7所述的電子鎮(zhèn)流器,其中該顯示器包含一第一N型金屬 氧化物半導(dǎo)體及一第二N型金屬氧化物半導(dǎo)體,分別電性連接至該第一發(fā)光 體及一第二發(fā)光體。
9.如權(quán)利要求6所述的電子鎮(zhèn)流器,其中該參考電壓為2.5伏特。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于達(dá)方電子股份有限公司,未經(jīng)達(dá)方電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200820134003.4/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 光源裝置、照明裝置、液晶裝置和電子裝置
- 預(yù)測(cè)裝置、編輯裝置、逆預(yù)測(cè)裝置、解碼裝置及運(yùn)算裝置
- 圖像形成裝置、定影裝置、遮光裝置以及保持裝置
- 打印裝置、讀取裝置、復(fù)合裝置以及打印裝置、讀取裝置、復(fù)合裝置的控制方法
- 電子裝置、光盤(pán)裝置、顯示裝置和攝像裝置
- 光源裝置、照明裝置、曝光裝置和裝置制造方法
- 用戶(hù)裝置、裝置對(duì)裝置用戶(hù)裝置、后端裝置及其定位方法
- 遙控裝置、通信裝置、可變裝置及照明裝置
- 透鏡裝置、攝像裝置、處理裝置和相機(jī)裝置
- 抖動(dòng)校正裝置、驅(qū)動(dòng)裝置、成像裝置、和電子裝置





