[實用新型]自動光學檢測裝置

無效

• 申請號: 200820129801.8
• 申請日: 2008-12-24
• 公開（公告）號: CN201352202Y
• 公開（公告）日: 2009-11-25
• 發明（設計）人: 葉東益
• 申請（專利權）人: 晶彩科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 北京泛誠知識產權代理有限公司
• 代理人: 文 琦;陳 波

技術領域

本實用新型涉及一種自動光學檢測裝置，特別是一種體積較小的 自動光學檢測裝置。

背景技術

自動光學檢測(Automated?Optical?Inspection，AOI)裝置經過多年的 改良，已經成功地運用于外觀檢測。舉例而言，自動光學檢測裝置可 用來檢測玻璃基板是否刮傷、印刷電路板是否有漏銅或異物附著等。

請參照圖1，現有的自動光學檢測裝置1是將倒U型的支架12、 14固定到基座11上，使基板4可根據箭頭A的方向通過支架12、14 的兩立柱之間。缺陷掃描單元13設置在前端的支架12的橫梁上，用 來檢測下方通過的基板4是否有缺陷。如果基板4有缺陷，則缺陷掃 描單元13輸出缺陷所在的坐標。缺陷影像獲取單元15設置在后端的 支架14的橫梁上，其可根據缺陷所在的坐標而獲取缺陷所在位置的影 像。缺陷影像獲取單元15獲取的影像可供操作人員檢視，以進一步分 析該缺陷的成因或判斷該缺陷是否為誤判。

隨著液晶顯示器的面板朝著大尺寸的方向發展，用于檢測玻璃基 板或液晶顯示面板的自動光學檢測裝置的體積也相對地增大。為了方 便維修，現有的自動光學檢測裝置1會在基座11上設置走道16，維 修人員即可在走道16上維修缺陷掃描單元13或缺陷影像獲取單元 15。根據上述結構，缺陷掃描單元13以及缺陷影像獲取單元15之間 必須保留足夠維修人員通過的間距D1，因而使得自動光學檢測裝置1 的體積無法有效縮小。

請參照圖2，另一種現有的自動光學檢測裝置2則是在基座11上 設置單一支架21。缺陷掃描單元13以及缺陷影像獲取單元15分別設 置在支架21的橫梁兩側，走道16鄰近缺陷掃描單元13和/或缺陷影 像獲取單元15，并設置在基座11上。然而，為同時設置缺陷掃描單 元13和缺陷影像獲取單元15，支架21必須有足夠的體積以增加其強 度和支撐性，并且支架21與缺陷掃描單元13、缺陷影像獲取單元15 間，也需要各自設置連接組件，導致缺陷掃描單元13與缺陷影像獲取 單元15之間的距離，仍無法有效縮短。

綜上所述，如何改良自動光學檢測裝置的結構，使其體積減小、 易于維修并且增加操作彈性，便是目前亟需努力的目標。

實用新型內容

針對上述問題，本實用新型目的之一是提供一種自動光學檢測裝 置，其將連接缺陷掃描單元和/或缺陷影像獲取單元的支架，以可移動 的方式設置在基座上，以使缺陷掃描單元與缺陷影像獲取單元之間的 間距可根據需求任意配置。這樣，缺陷掃描單元與缺陷影像獲取單元 之間的間距可以縮減至最小，而自動光學檢測裝置的體積也因而減縮， 但是在維修自動光學檢測裝置時，移動缺陷掃描單元和/或缺陷影像獲 取單元可使缺陷掃描單元與缺陷影像獲取單元之間仍有足夠的空間供 維修人員通過。

為了達到上述目的，本實用新型的一個實施例的自動光學檢測裝 置包括：基座、第一支架、至少一個缺陷掃描單元、第二支架以及至 少一個缺陷影像獲取單元。第一支架跨接在基座的兩側。缺陷掃描單 元設置在第一支架上，用來檢測出基板上的至少一處缺陷并輸出該缺 陷的坐標。第二支架也跨接在基座的兩側。缺陷影像獲取單元則設置 在第二支架上，用來根據前述坐標獲取缺陷的影像，其中該第一支架 和/或該第二支架可以移動。

以下通過具體實施例配合附圖予以詳加說明，可以更容易了解本 實用新型的目的、技術內容、特點及其所達成的功效。

附圖說明

圖1為示出現有的自動光學檢測裝置的側視圖。

圖2為示出另一現有的自動光學檢測裝置的側視圖。

圖3a為示出本實用新型優選實施例的自動光學檢測裝置的檢測狀 態的側視圖。

圖3b為示出本實用新型優選實施例的自動光學檢測裝置的維修狀 態的側視圖。

主要組件符號說明

1、2???????現有的自動光學檢測裝置

11?????????基座

12、14、???支架

21

13?????????缺陷掃描單元

15?????????缺陷影像獲取單元

16?????????走道

3??????????本實用新型的自動光學檢

???????????測裝置

31?????????基座