[實用新型]輔助檢測用的導光照明板

無效

• 申請號: 200820129748.1
• 申請日: 2008-12-30
• 公開（公告）號: CN201330999Y
• 公開（公告）日: 2009-10-21
• 發明（設計）人: 蔡正欣
• 申請（專利權）人: 捷毅系統股份有限公司
• 主分類號: F21V8/00
• 分類號: F21V8/00;F21W131/40
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 李樹明

【技術領域】

本實用新型是關于一種檢測裝置，特別是關于一種輔助檢測裝置進行檢測的導光照明板。

【背景技術】

一般在半導體制程中，以發光二極管(LED)為例，其上游晶粒廠在制造發光二極管晶粒后，會使用檢測裝置進行發光二極管晶粒數目的檢測步驟，請參考圖4所示，該檢測裝置是包含一箱體70、一照明平臺71以及一攝影鏡頭72，其中，箱體70頂部具有一檢視孔700；該照明平臺71則設于箱體70內側底部，可提供LED晶粒的承載膜片73置于其上；該攝影鏡頭72則透過箱體70檢視孔700對承載膜片73上LED晶粒擷取影像，并將影像傳至一電腦進行計算而檢測出晶?？倲担源_保出貨數量的正確性。

前述檢測裝置的照明平臺71有時會受承載膜片73的厚度影響其透光程度，使得承載膜片73上部分晶粒分布的區域，無法顆粒分明地呈現于攝影鏡頭72所擷取影像中，最后導致電腦檢測產生誤差。

一般為解決了解決此問題，廠商是如圖5所示，于箱體70側邊進一步加裝側光源75，以期完整照明承載膜片73的LED晶粒，然而，由于側光源75投射的光線往往會使得LED晶粒出現陰影，導致LED晶粒之間可能因陰影覆蓋的關系而數量遭到誤判，所以，現有檢測裝置仍有待進一步改良以求降低誤判數目的情形發生。

由上述說明可知，現有檢測裝置容易受承載膜片的厚度影響其透光程度而產生檢測誤差，即使加裝側光源，待測物(如晶粒)的陰影仍會影響其檢測準確率。

【實用新型內容】

有鑒于此，本實用新型的目的在于提供一種輔助檢測用的導光照明板，以解決現有裝置的缺失。

欲達成上述目的所使用的技術手段，該輔助檢測用的導光照明板是主要于一透光板體內設有一組發光源，并于該透光板體穿設有至少一通孔。

該透光板體主要應用于一檢測裝置，該檢測裝置包含一箱體、一背光平臺以及一攝影鏡頭，其中箱體頂部設有一頂板，該頂板中間位置設有一檢視孔；該背光平臺是設于箱體內側底部而提供一待測載片置放定位于其上；該攝影鏡頭是設于箱體的檢視孔上方。

該透光板體是供設于箱體的頂板而朝下投光，其通孔對應頂板的檢視孔，使攝影鏡頭可經由檢視孔及通孔對箱體底部的待測載片進行攝像檢測。

借由導光照明板的設置配合背光平臺來提供待測載片完整的照明環境，不僅正面提供光源而無陰影產生，并可改善待測載片的厚度造成背光平臺的透光性不佳，大幅降低待測物數目檢測產生誤差的可能性。

【附圖說明】

圖1：是本實用新型一較佳實施例的立體示意圖。

圖2：是本實用新型實施于一檢測裝置的立體示意圖。

圖3：是使用第一圖的檢測裝置進行檢測的待測載片一較佳實施例的平面示意圖。

圖4：是一現有檢測裝置的立體示意圖。

圖5：是現有檢測裝置加裝側光源的立體示意圖。

(10)箱體????????(11)檢視孔

(20)背光平臺????(30)導光照明板

(31)透光板體????(32)通孔

(33)均光片??????(40)攝影鏡頭

(50)待測載片????(51)晶粒

(60)支架????????(61)桿體

(62)基座????????(70)箱體

(71)照明平臺????(72)攝影鏡頭

(700)檢視孔?????(73)承載膜片

(74)側光源

【具體實施方式】

本實用新型輔助檢測用的導光照明板是可供設于一檢測裝置，作為輔助照明之用，其具體實施態樣請參考圖1及圖2所示，其中該圖2揭露的檢測裝置，是包括一箱體10、一背光平臺20、本實用新型的導光照明板30以及一攝影鏡頭40，其中：

該箱體10的頂部具有一頂板，于頂板上設有一檢視孔11。

該背光平臺20是設于箱體10內側底部，其頂面可透光并可提供一待測載片50置于其上，該背光平臺20內部設有一組光發射端朝上的光源，用以透過背光平臺20頂面朝上投光，其投射的光線可穿透待測載片50，該待測載片50如圖3所示，可為一具有數個待測的晶粒51粘附于表面的晶粒承載膜片。