[實用新型]母板

有效

• 申請號: 200820124500.6
• 申請日: 2008-12-12
• 公開（公告）號: CN201298124Y
• 公開（公告）日: 2009-08-26
• 發明（設計）人: 郭建;明星;周偉峰
• 申請（專利權）人: 北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/1333
• 分類號: G02F1/1333;G01N21/958
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司
• 代理人: 劉 芳

技術領域

本實用新型涉及液晶顯示器制造領域，尤其涉及一種母板。

背景技術

薄膜晶體管液晶顯示器(Thin?Film?Transistor-Liquid?Crystal?Display；以下簡稱：TFT-LCD)因其體積小、功耗低、無輻射等特點，占據了現有平板顯示器市場的主導地位。TFT-LCD器件是由陣列玻璃基板和彩膜玻璃基板對盒而形成的。在TFT?LCD的生產過程中，玻璃基板由于應力不均勻或者碰撞引起的裂痕和破損一直是生產中比較嚴重的問題，而且該種不良主要產生于搬運過程中或者設備內。一旦玻璃基板破碎，所產生的碎屑、灰塵等會對設備造成很大的影響，需要動用大量的人力物力進行清理，嚴重的情況下甚至會引起設備損傷，例如陣列檢測(array?test)階段就容易因為玻璃基板的破損而損傷檢測裝置(modulator)。為了保證用于制作液晶面板的玻璃基板是無損傷的，因此要對所用玻璃基板進行損傷檢測。

目前，對玻璃基板的破損檢測大多采用接觸檢測的方式，具體為在玻璃基板平面的周邊沉積一圈不閉合導電線圖形，檢測時通過電信號發生裝置的觸頭對該導線兩端施加探測信號，進而檢測玻璃基板的損傷情況。現有檢測方式的缺點是需要具有能夠提供電信號的檢測設備來進行檢測，不但限制了檢測的位置和工序，具有較大的局限性，而且不能達到實時監控的目的。

實用新型內容

本實用新型提供一種母板，用以解決現有技術采用接觸檢測的方式對玻璃基板進行破損檢測過程中，局限性大且不能實時檢測的缺陷，實現采用非接觸的方式對玻璃基板進行破損檢測。

本實用新型提供一種母板，包括透明基板，沿所述透明基板的邊緣表面設置有用于為光線提供傳輸通道的導光通道，所述導光通道的輸入端和輸出端相互臨近。

本實用新型提供的用于制造陣列基板和彩膜基板的母板中，通過設置能夠為光線提供傳輸通道的非閉合的導光通道，利用光線對母板進行破損檢測。基于此種母板結構，進行破損檢測時可以通過光照的非接觸方式進行檢測，不但提高了檢測的靈活性，而且避免了在母板上進行圖形形成過程中造成的檢測不能；還可以在后續圖形形成過程的任意工序中進行破損檢測，增強了檢測的實時性，進一步保證基板質量，提高成品率。

附圖說明

圖1為本實用新型母板實施例結構示意圖；

圖2為本實用新型母板實施例的結構側視圖；

圖3為本實用新型母板另一實施例的結構側視圖；

圖4為本實用新型母板破損檢測第一實施例示意圖；

圖5為本實用新型母板的導光通道中光線的全反射示意圖；

圖6為本實用新型母板破損檢測第二實施例示意圖；

圖7為本實用新型母板再一實施例的結構側視圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例進一步說明本實用新型實施例的技術方案。

圖1為本實用新型母板實施例結構示意圖，如圖1所示，該母板包括透明基板，所述透明基板可以為用于制造陣列基板和彩膜基板所用的玻璃基板或石英基板，本實用新型中各實施例均以玻璃基板為例進行說明。如圖1所示在玻璃基板1的邊緣表面位置處設置有導光通道2，所述的玻璃基板1的邊緣表面位置即是指沿玻璃基板1的四周且靠近邊緣位置，由于玻璃基板發生破損絕大多數情況是發生在基板邊緣，因此本實施例中要將用于檢測玻璃基板破損狀態的導光通道設置在靠近玻璃基板的邊緣位置，而且該種設置不會影響到后續玻璃基板上圖形的設置，并且有利于后續進行切割。導光通道2具有輸入端21和輸出端22，且輸入端21和輸出端22彼此臨近，由此可知，導光通道是非閉合的通道，即輸入端21和輸出端22不相互連接，探測光線從輸入端21入射，經過為光線提供傳輸通道的導光通道2后，最后從輸出端22射出，不會形成回路，為破損檢測提供檢測依據。在玻璃基板上設置導光通道具體地可以為，玻璃基板的結構和工藝條件都和普通制作流程相同，只是在所有工序之前，在玻璃基板1外圍沒有設計圖形的位置上，形成一圈非閉合的導光通道2。導光通道2環繞玻璃基板1一周，其輸入端21和輸出端22彼此之間十分接近，這樣既便于光信號的發送和接收，又可以保證對整個玻璃基板的探測。