[實(shí)用新型]探針卡無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200820114831.1 | 申請日： | 2008-05-21 |
| 公開（公告）號： | CN201203632Y | 公開（公告）日： | 2009-03-04 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 安玧泰 | 申請（專利權(quán)）人： | 安玧泰 |
| 主分類號： | G01R1/073 | 分類號： | G01R1/073;G01R31/00;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京眾合誠成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 龔燮英 |
| 地址： | 韓國京畿道華城*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 探針 | ||
1、一種探針卡，包括一基座、一具有驅(qū)動IC的線路模塊、一探針組件以及一固定板，所述線路模塊位于所述基座下方，所述探針組件設(shè)置于所述線路模塊下方，而所述固定板設(shè)置于所述探針組件下方，其特征在于，所述探針組件通過所述固定板固定于所述基座上，所述探針組件包括上、下芯片、多個上探針片以及多個下探針片，且所述上、下芯片也設(shè)有多個組接部，所述多個組接部之間以焊接方式進(jìn)行固定，所述上、下探針片分別設(shè)置于所述上、下芯片的組接部中，所述上探針片前端凸伸出所述下芯片，所述下探針片后端凸伸出所述上芯片，且所述上、下探針片外顯于所述探針組件。
2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針卡，其特征在于，所述上探針片前側(cè)端設(shè)有一朝下凸伸的面板接觸部，后側(cè)端設(shè)有一朝上凸伸的電路接觸部，所述上探針片上緣設(shè)有至少一固定部，下緣設(shè)有至少一支撐部。
3、根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的探針卡，其特征在于，所述下探針片前側(cè)端設(shè)有一朝下凸伸的面板接觸部，后側(cè)端設(shè)有一朝上凸伸的電路接觸部，所述下探針片上緣設(shè)有至少一支撐部，下緣設(shè)有至少一固定部。
4、根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的探針卡，其特征在于，所述線路模塊包括一驅(qū)動IC、一玻璃基板及一軟性電路板，所述驅(qū)動IC電性連接所述軟性電路板，且所述玻璃基板底面的一側(cè)連接所述軟性電路板。
5、根據(jù)權(quán)利要求4所述的探針卡，其特征在于，所述驅(qū)動IC設(shè)置于所述玻璃基板上。
6、根據(jù)權(quán)利要求4所述的探針卡，其特征在于，所述驅(qū)動IC設(shè)置于所述軟性電路板上。
7、根據(jù)權(quán)利要求3所述的探針卡，其特征在于，所述線路模塊包括有一驅(qū)動IC、一玻璃基板及一軟性電路板，所述驅(qū)動IC電性連接所述軟性電路板，且所述玻璃基板底面的一側(cè)連接所述軟性電路板。
8、根據(jù)權(quán)利要求7所述的探針卡，其特征在于，所述驅(qū)動IC設(shè)置于所述玻璃基板上。
9、根據(jù)權(quán)利要求7所述的探針卡，其特征在于，所述驅(qū)動IC設(shè)置于所述軟性電路板上。
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G01R 測量電變量；測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn)；這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備，例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合，例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
