[實用新型]光學檢測機改良結構

無效

• 申請號: 200820110921.3
• 申請日: 2008-04-29
• 公開（公告）號: CN201199232Y
• 公開（公告）日: 2009-02-25
• 發明（設計）人: 黃秋逢
• 申請（專利權）人: 賴秀惠
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 北京天平專利商標代理有限公司
• 代理人: 趙海生

技術領域

本發明涉及一種光學檢測機改良結構，屬于電子產品檢測的設備領域，具體說屬于平板電子產品(如投影電視屏幕、薄膜液晶顯示器等)平面光學檢測設備的技術領域。

背景技術

隨著知識信息時代的來臨，無論是網絡通訊應用的多元化或是現今3C產業技術及多媒體信息的蓬勃發展，無論是傳統產業或是科技產業皆是以降低制造成本、增加制造產能或是提升產品質量為目標，并藉此來增加企業的獲利以及競爭力，以目前的薄膜液晶顯示器為例，廠商為了因應市場需求、降低制造成本及增加制造產能，便于制程階段、成品販賣上逐年增加面板尺寸，利用上述方法來達到降低制造成本及增加制造產能的目的，但伴隨著面板尺寸逐年的增加，其面板便需更大的檢測儀器來控制或檢測該面板的質量。

請參閱圖6所示，為習用的側視示意圖，一般檢測裝置為利用測試光源A、反射鏡B、透鏡C及待測基板D所組成，其將可發出測試光源A的光源投影機或光源投射機(圖中未示出)及反射鏡B架設于天花板或墻面，其測試光源A可透過反射鏡B反射，再經由透鏡C來使測試光源A照射于待測基板D上，因透鏡C系為凸透鏡、菲涅爾鏡片(fresnel?lens)、背投影電視屏幕或其它具聚光特性的鏡片，便可將光源集中、照射于待測基板D來形成明亮的光斑，此時，檢測人員便可藉由光斑來檢測待測基板D表面是否具有缺陷或判斷待測基板D表面的微結構組織。

再者，上述例舉的檢測裝置不僅可運用于液晶顯示器中玻璃基板的檢測，亦可運用于如印刷電路基板及晶圓基板等組件基板的表面缺陷檢測、表面微結構組織檢測或是基板的表面電子零件接合檢測等運用領域，然而上述習用技術對于現成組件基板尺寸的檢測尚稱足夠，但是對于目前產業待測基板D尺寸愈來愈大的情況下，則顯然無法滿足其需求，因透鏡C的尺寸需與待測基板D的尺寸成正比，當待測基板D尺寸增大則與其配合的透鏡C的尺寸也需隨之增大。

然而，透鏡C的成本、及重量其制程的難度卻與其尺寸成等倍增加，所以，對檢測組件基板的相關廠商而言，若欲加大透鏡C的尺寸來檢測較大的待測基板D，不但難以將加大重量后的透鏡C吊置于天花板或墻面，更增加了檢測裝置的購置成本，再者，若僅是單純的加大透鏡的尺寸來配合日益增大的組件基板，有朝一日相關廠商將無法克服透鏡的光學特性。

如何解決習用檢測裝置光源照射、檢測面積不足的問題與缺失，即為從事此行業的相關廠商所研究改善的方向。

發明內容

本發明針對現有技術的不足提供一種可形成最大光源檢測區域的光學檢測機改良結構。以實現符合所需的操作距離，可進行不同條件的測試，進而具有提升適用性優點的目的。

為達到上述目的本發明所采用的技術方案是：

一種光學檢測機改良結構，尤指可增大光源照射于預設待測基板上所形成檢測區域的光學檢測機，包括光源裝置、反射鏡、透鏡組所組成；其中：

該光源裝置設有至少一個以上可發射光源的發光組件；

該反射鏡為呈預設角度傾斜裝設于光源裝置前側，且反射鏡為將光源裝置的光源反射至透鏡組；

該透鏡組設有二個以上折射發散光源使其照射于預設待測基板的背投影電視屏幕，并于二個以上的背投影電視屏幕之間設有可調整使光線直射或散射的調光薄膜。

該光源裝置于一個以上發光組件前側依序設有使光源均勻射出的光均勻部及可形成不同波長、頻率光源的濾鏡，且于濾鏡前側設有將光線平面狀發散射出的投影鏡頭。

該一個以上發光組件與光均勻部之間設有將光源集中射出的聚光鏡。

該光均勻部與濾鏡之間設有將光源集中射出的聚光鏡。

該投影鏡頭出口端的發散半角為16度～35度。

該一個以上發光組件鄰近光均勻部一側設有反射紫外光、紅外光及熱源的熱鏡。

該透鏡組可于二個以上的背投影電視屏幕及調光薄膜下方裝設有可支撐及調整位置的托持組件。

該托持組件為可供光線平行穿透的托盤、托架或其它可支撐、托持的組件。

該背投影電視屏幕的焦距為900mm～3500mm。

該背投影電視屏幕分別設有一凸面側及一平面側，且二個以上的背投影電視屏幕以凸面側朝向待測基板。

該背投影電視屏幕分別設有一凸面側及一平面側，且二個以上的背投影電視屏幕以平面側朝向待測基板。

該背投影電視屏幕分別設有一凸面側及一平面側，且二個以上的背投影電視屏幕以平面側朝向調光薄膜。

該背投影電視屏幕分別設有一凸面側及一平面側，且二個以上的背投影電視屏幕以凸面側朝向調光薄膜。