[實用新型]測試插件

無效

• 申請號: 200820092293.0
• 申請日: 2008-02-20
• 公開（公告）號: CN201156050Y
• 公開（公告）日: 2008-11-26
• 發明（設計）人: 賴啟鑰;白南
• 申請（專利權）人: 賴啟鑰
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02;G01R31/28;G01R31/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1、一種測試插件，包括有一與測試儀器接觸的上基板(1)，上基板(1)設有第一連接上電極(11-1)、下電極(11-2)，有一與檢測探針接觸的下基板(2)，下基板(2)設有對應上基板(1)第一連接下電極(11-2)的第二連接上電極(21-1)，下基板(2)還設有第二連接下電極(21-2)，有一支承架(3)，支承架(3)設有對應上基板(1)第一連接下電極(11-2)、下基板(2)第二連接上電極(21-1)的通孔(31)，其特征在于：還包括一個可拆式插設在所述通孔(31)內的連接插件(4)；連接插件(4)由伸縮彈簧(41)與芯柱(42)組成，伸縮彈簧(41)下端與下基板(2)的第二連接上電極(21-1)電性接觸，伸縮彈簧(41)另一端與芯柱(42)的擋片(421)彈性接觸，芯柱(42)擋片(421)以下的一端設于彈簧(41)內，芯柱(42)擋片(421)以上的一端與上基板(1)的第一連接下電極(11-2)電性接觸。

2、根據權利要求1所述的測試插件，其特征在于：其中設于彈簧(41)內的芯柱(42)下端部具有一接觸部(422)，接觸部(422)在靠近第二連接上電極(21-1)時與彈簧(41)下部內壁面電性接觸。