[實用新型]一種用于光學三維測量的光柵器件

無效

• 申請號: 200820089206.6
• 申請日: 2008-01-28
• 公開（公告）號: CN201163313Y
• 公開（公告）日: 2008-12-10
• 發明（設計）人: 車向前;邊莉;楊桂林
• 申請（專利權）人: 黑龍江科技學院
• 主分類號: G02B27/42
• 分類號: G02B27/42;G02B5/18;G01B11/00;G01B11/24
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所
• 代理人: 徐愛萍

1、一種用于光學三維測量的光柵器件，其特征在于它由刻在石英玻璃片(1)上的十字線光柵(2)、第一組相移光柵(3)、第二組相移光柵(4)、第三組相移光柵(5)和全白光柵(6)組成，石英玻璃片(1)的左端向右端依次沿軸向方向設置有十四幅光柵圖，所述的十四幅光柵圖中的第一幅光柵圖為十字線光柵(2)，第二幅至第五幅光柵圖為第一組相移光柵(3)，第一組相移光柵(3)的黑白條紋周期為λ₁，第六幅至第九幅光柵圖為第二組相移光柵(4)，第二組相移光柵(4)的黑白條紋周期為λ₂，第十幅至第十三幅光柵圖為第三組相移光柵(5)，第三組相移光柵(5)的黑白條紋周期為λ₃，第十四幅光柵圖為全白光柵(6)，所述的十四幅光柵圖的光柵大小相同，每個光柵之間的光柵條紋方向互相平行，并與光柵排列方向垂直或平行。

2、根據權利要求1所述的一種用于光學三維測量的光柵器件，其特征在于第一組相移光柵(3)中每一幅光柵圖的黑白條紋周期依次比左側一幅光柵圖的黑白條紋周期同時向右或左偏移四分之一個周期，即相移差為90度；第二組相移光柵(4)和第三組相移光柵(5)中每一幅光柵圖的黑白條紋周期與第一組相移光柵(3)中每一幅光柵圖的黑白條紋周期排列規則相同。

3、根據權利要求1所述的一種用于光學三維測量的光柵器件，其特征在于第一組相移光柵(3)，第二組相移光柵(4)和第三組相移光柵(5)的每一個光柵圖中有至少64個黑白條紋周期，每一個光柵圖寬邊的每單位毫米長度上最多有32個黑白條紋周期。

4、根據權利要求3所述的一種用于光學三維測量的光柵器件，其特征在于8mm寬的光柵圖中黑白條紋周期為128。

5、根據權利要求1所述的一種用于光學三維測量的光柵器件，其特征在于第一組相移光柵(3)，第二組相移光柵(4)和第三組相移光柵(5)黑白條紋周期為λ₁＜λ₂＜λ₃，且λ₁+λ₃＝2×λ₂+1mm。

6、根據權利要求1所述的一種用于光學三維測量的光柵器件，其特征在于十字線光柵(2)的十字線設置在第一副光柵圖的中心位置。