[實用新型]一種光學外差法倏逝波腔衰蕩光譜分析裝置無效
| 申請號: | 200820084729.1 | 申請日: | 2008-03-31 |
| 公開(公告)號: | CN201173897Y | 公開(公告)日: | 2008-12-31 |
| 發明(設計)人: | 高秀敏;王健 | 申請(專利權)人: | 杭州電子科技大學 |
| 主分類號: | G01N21/39 | 分類號: | G01N21/39;G01N21/25 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司 | 代理人: | 張法高 |
| 地址: | 310018浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光學 外差 法倏逝波腔衰蕩 光譜分析 裝置 | ||
1、一種光學外差法倏逝波腔衰蕩光譜分析裝置,包括探測部件、光纖、光電探測器、分光鏡和激光光源,其特征在于所述的探測部件為對稱結構的柱體或半球體,內部形成光反射腔,外表面鍍有高反射膜,探測部件光纖耦合準直器與探測部件位置配合;激光光源和分光鏡光纖耦合準直器分別設置在分光鏡的兩側,激光光源的發射光方向與分光鏡的工作面的夾角為45°,分光鏡光纖耦合準直器設置在發射光方向上;光電探測器與分光鏡光纖耦合準直器設置在分光鏡的工作面的同一側面,并且設置在分光鏡的反射光方向上;探測部件光纖耦合準直器與分光鏡光纖耦合準直器通過光纖連接。
2、如權利要求1所述的一種光學外差法倏逝波腔衰蕩光譜分析裝置,其特征在于所述的探測部件為截面呈半圓形的柱體,柱體的弧面鍍有高反射膜;探測部件光纖耦合準直器設置在半圓形的徑向方向上。
3、如權利要求1所述的一種光學外差法倏逝波腔衰蕩光譜分析裝置,其特征在于所述的探測部件為截面呈等腰三角形的柱體,柱體的等腰面鍍有高反射膜;探測部件光纖耦合準直器與等腰三角形一邊的腰平行設置。
4、如權利要求1所述的一種光學外差法倏逝波腔衰蕩光譜分析裝置,其特征在于所述的半球體的探測部件的弧面鍍有高反射膜;探測部件光纖耦合準直器設置在半球體的徑向方向上。
5、如權利要求1所述的一種光學外差法倏逝波腔衰蕩光譜分析裝置,其特征在于所述的分光鏡為分光棱鏡;光纖為單模光纖、多模光纖、光纖束中的一種。
6、如權利要求1所述的一種光學外差法倏逝波腔衰蕩光譜分析裝置,其特征在于所述的分光鏡為偏振分光棱鏡,偏振分光棱鏡與分光鏡光纖耦合準直器之間設置有四分之一波片,四分之一波片的光軸方向與偏振分光棱鏡的出射光偏振方向的夾角為45°;所述的光纖為保偏光纖。
7、如權利要求1所述的一種光學外差法倏逝波腔衰蕩光譜分析裝置,其特征在于所述的光電探測器為光電二極管、雪崩管、光電倍增管中的一種。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于杭州電子科技大學,未經杭州電子科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200820084729.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:共軛二烯系聚合物及其制造方法和該聚合物組合物
- 下一篇:便攜式藍光音樂播放器





