[實(shí)用新型]一種超聲波探傷試塊

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200820076491.8
• 申請日: 2008-03-12
• 公開（公告）號: CN201207045Y
• 公開（公告）日: 2009-03-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郝紅衛(wèi);李樹軍;牛曉光;張彥新;李中偉;李瑞峰;敬尚前
• 申請（專利權(quán)）人: 河北省電力研究院
• 主分類號: G01N29/30
• 分類號: G01N29/30
• 代理公司: 石家莊新世紀(jì)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司
• 代理人: 董金國

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種超聲波探傷試塊。屬于對比試塊。

技術(shù)背景

不同領(lǐng)域、種類的工件超聲波探傷需采用不同的超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)，如壁厚小于等于120毫米的鍋爐集箱焊縫探傷應(yīng)采用JB1152-81《鍋爐和鋼制壓力容器對接焊縫超聲波探傷》，壁厚大于120毫米的鍋爐集箱、鋼結(jié)構(gòu)等焊縫探傷應(yīng)采用GB11345-89《鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級》，管子和管道焊縫探傷采用DL/T820-2002《管道焊接接頭超聲波檢驗(yàn)技術(shù)規(guī)程》，集中下降管角焊縫探傷采用JB3144-82《鍋爐大口徑管座角焊縫超聲波探傷》，壓力容器等承壓部件焊縫探傷采用JB/T4730-2005《承壓設(shè)備無損檢測》。上述不同的超聲波檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)都對試塊作了不同的規(guī)定，同時各標(biāo)準(zhǔn)均認(rèn)為在滿足靈敏度要求的情況下，可以采用其它型式的試塊。

各種超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)常用試塊特點(diǎn)分析如下：

1、JB1152-81標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定試塊

JB1152-81《鍋爐和鋼制壓力容器對接焊縫超聲波探傷》標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA三種試塊。另外該標(biāo)準(zhǔn)3.3要求：“在滿足靈敏度要求下，可以采用其他型式的試塊”。

(1)CSK-IA試塊又稱船形試塊，其主要用途：

①利用R100曲面測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度。

②利用Φ50和Φ1.5圓孔測定斜探頭的折射角。

③利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況。

④利用厚度尺寸25mm測定探傷儀的水平線性，垂直線性和動態(tài)范圍。

⑤利用厚度尺寸25mm調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度。

⑥利用R50和R100曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度。

⑦利用Φ50、Φ44、Φ40三個臺階孔，測定斜探頭的分辨力。

(2)CSK-IIA試塊含有Φ2×40的長橫孔，其主要用途：

①繪制距離—波幅曲線。

②調(diào)整探測范圍和掃描速度。

③測定斜探頭的K值。

(3)CSK-IIIA試塊含有7個不同深度的Φ1×6短橫孔，深度間隔10毫米。為了克服試塊側(cè)面和端面反射的影響，在試塊側(cè)面短橫孔處加工了兩個R10圓弧槽。其主要用途：

①繪制距離—波幅曲線。

②調(diào)整探測范圍和掃描速度。

③測定斜探頭的K值。

2、GB11345-89標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定試塊

GB11345-89《鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級》，標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了CSK-IB、RB—1、RB—2、RB—3共計(jì)四種試塊。

(1)CSK-IB試塊的型式同JB1152-81中的CSK-IA試塊，其作用相同。

(2)RB—1、RB—2、RB—3為系列試塊，分別適合8∽25、8∽100、8∽150的板厚，其標(biāo)準(zhǔn)反射體為Φ3×40的橫通孔，其主要用途：

①繪制距離—波幅曲線。

②調(diào)整探測范圍和掃描速度。

③測定斜探頭的K值。

3、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定試塊

DL/T820-2002《電力建設(shè)施工及驗(yàn)收技術(shù)規(guī)范(管道焊接接頭超聲波檢篇)》，標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了CSK-IB、RB—3、SD-III、SD-IV、IIW2共計(jì)五種試塊。

(1)CSK-IB試塊的型式同JB1152-81中的CSK-IA試塊，其作用相同。

(2)RB—3試塊的型式同GB11345-89中的RB—3試塊，其作用相同。

(3)SD-III為對比試塊，長150，寬50，開有1.5毫米深單邊V形槽，主要用于管道焊接接頭根部缺陷的對比測定。

(4)SD-IV、IIW2為攜帶式試塊，其主要用途：

①利用半圓測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度。

②利用Φ5或Φ1.5圓孔測定斜探頭的折射角。

③利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況。

④利用厚度尺寸測定探傷儀的水平線性，垂直線性和動態(tài)范圍。

⑤利用厚度尺寸調(diào)縱波探測范圍和掃描速度。

⑥利用兩個不同的圓弧面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度。

4、JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定試塊

JB/T4730-2005《承壓設(shè)備無損檢測》共有幾十個超聲試塊。該標(biāo)準(zhǔn)3.5.1.2要求：“試塊應(yīng)采用與被探工件相同或近似聲學(xué)性能的材料制成。該材料用直探頭檢測時，不得有大于Φ2平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。”其主要試塊分述如下。