[實用新型]小型碎樣裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200820065604.4
• 申請日: 2008-02-02
• 公開（公告）號: CN201156025Y
• 公開（公告）日: 2008-11-26
• 發(fā)明（設計）人: 金成國;魯立強;李珍;李飛
• 申請（專利權）人: 中國地質(zhì)大學(武漢)
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28
• 代理公司: 武漢華旭知識產(chǎn)權事務所
• 代理人: 劉榮

技術領域

本實用新型涉及一種粉碎樣品的裝置，具體的說是用于粉碎少量陶瓷、玻璃、晶體或礦石等材料的裝置。

背景技術

在材料研究領域，經(jīng)常涉及到材料的物相、結構和成分的分析。XRD(X射線衍射)、SEM(掃描電子顯微鏡)IR(紅外光譜)和TEM(透射電子顯微鏡)等都是材料分析的常用手段，這些分析手段通常要求供試的樣品為粉體。材料的化學成分分析一般也需要供試的樣品為粒徑小的粉體。在粉碎少量僅供檢測的樣品時，通常所用的粉碎裝置氣流磨、砂磨機、攪拌磨、振動磨、高速行星式輥輪磨機等均不能使用。另外，由于一些陶瓷、玻璃、晶體、礦石等材料價格昂貴，制備出的樣品少，故不可能有大量的樣品用來粉碎，僅供檢測的少量樣品遠不夠在這些大型的粉碎裝置中消耗損失，而且還有可能污染樣品，引入一些雜質(zhì)(主要為Fe等元素)，不利于檢測。所以在粉碎少量樣品時，只能用研缽來粉碎樣品。

陶瓷、玻璃、晶體、礦石等材料硬度都很大，一般都用瑪瑙研缽來粉碎樣品。但在碎樣時，必須將樣品擊碎至顆粒狀，然后研磨。在擊碎過程中，大部分樣品都濺出研缽，浪費了樣品，如果重新回收濺出的樣品，又容易造成污染，影響檢測結果。

發(fā)明內(nèi)容

本實用新型目的在于克服上述現(xiàn)有技術不足而提供一種小型碎樣裝置，該裝置能夠粉碎少量樣品，且避免粉碎的樣品濺出，并能有效地防止污染樣品。

實現(xiàn)本實用新型目的采用的技術方案是：一種小型碎樣裝置至少包括研缽和杵，研缽外罩有遮擋蓋，遮擋蓋頂部設有圓孔，圓孔直徑大于杵的直徑。

所述遮擋蓋上部分呈半球形，遮擋蓋下部分內(nèi)設有環(huán)形擋片，環(huán)形檔片外環(huán)邊固定于遮擋蓋內(nèi)側(cè)，環(huán)形檔片內(nèi)環(huán)邊擱置于研缽上，可以起密封作用，避免粉碎的樣品泄出。其中環(huán)形擋片的中心軸與遮擋蓋中心軸重合。研缽的直徑大于環(huán)形擋片的內(nèi)環(huán)直徑，小于環(huán)形擋片的外環(huán)直徑。

或者研缽上直接蓋有遮擋蓋，且兩者的結合面呈臺階狀。所用研缽的內(nèi)凹面呈半球面。

上述所用杵的下部直徑小于遮擋蓋頂部圓孔直徑，可以方便地從遮擋蓋頂部圓孔進入，從而方便地粉碎研缽內(nèi)的樣品。

使用本實用新型時，將樣品置于研缽上，合上遮擋蓋，將杵通過遮擋蓋頂部圓孔把樣品擊碎至顆粒狀，然后移去遮擋蓋，用杵將顆粒狀的樣品研磨至粉末狀。

本實用新型的有益效果是：(1)可以粉碎少量的樣品，降低了粉碎過程中樣品的損失；(2)避免樣品濺出，節(jié)約了樣品；(3)有效地防止在粉碎過程中污染樣品，降低了引入雜質(zhì)元素的可能。

附圖說明

下面結合附圖和具體實施方式對本實用新型作進一步的說明。

圖1為本實用新型第一個實施例的剖面示意圖。

圖2為本實用新型第二個實施例的剖面示意圖。

圖中，1.杵，2.遮擋蓋頂部圓孔，3.遮擋蓋上部分，4.遮擋蓋，5.遮擋蓋下部分，6.環(huán)形擋片，7.研缽，8.遮擋蓋頂部圓孔，9.遮擋蓋，10.遮擋蓋與研缽的結合面，11.研缽。

具體實施方式

實施例1

如圖1所示的小型碎樣裝置，包括杵1、遮擋蓋4和研缽7。遮擋蓋4的材質(zhì)可為玻璃、塑料等，研缽2的材質(zhì)可為瑪瑙、陶瓷、硬質(zhì)金屬等。遮擋蓋4的頂部設有圓孔2，圓孔2直徑大于杵1的直徑。遮擋蓋上部分3呈半球形，遮擋蓋下部分5內(nèi)設有環(huán)形擋片6，環(huán)形檔片6外環(huán)邊固定于遮擋蓋下部分5的內(nèi)側(cè)，環(huán)形檔片內(nèi)環(huán)邊擱置于研缽上7，防止粉碎的樣品泄出。使用本實用新型時，將樣品置于研缽7上，合上遮擋蓋4，將杵1通過遮擋蓋頂部圓孔2把樣品擊碎至顆粒狀，在粉碎樣品的過程中，環(huán)形檔片6可防止樣品濺出，節(jié)約了樣品。然后移去遮擋蓋4，用杵將顆粒狀的樣品研磨至粉末狀。

實施例2

如圖2所示的小型碎樣裝置，包括杵1、遮擋蓋9和研缽11，研缽11的內(nèi)凹面呈半球面。遮擋蓋8的材質(zhì)可為玻璃、塑料等，研缽11的材質(zhì)可為瑪瑙、陶瓷、硬質(zhì)金屬等。遮擋蓋8的頂部設有圓孔8，圓孔8直徑大于杵1的直徑。研缽11上直接蓋有遮擋蓋9，且遮擋蓋9與研缽11的結合面10結合面呈臺階狀。使用本實用新型時，將樣品置于研缽7上，合上遮擋蓋4，將杵1通過遮擋蓋頂部圓孔2把樣品擊碎至顆粒狀后，在粉碎樣品的過程中遮擋蓋9直接防止樣品濺出。移去遮擋蓋9，用杵1將顆粒狀的樣品研磨至粉末狀。