[實用新型]測量產品表面面輪廓度的裝置

無效

• 申請號: 200820058941.0
• 申請日: 2008-05-26
• 公開（公告）號: CN201199152Y
• 公開（公告）日: 2009-02-25
• 發明（設計）人: 孔嘯;黎旻
• 申請（專利權）人: 上海申模模具制造有限公司
• 主分類號: G01B5/20
• 分類號: G01B5/20
• 代理公司: 上海金盛協力知識產權代理有限公司
• 代理人: 羅大忱

技術領域

本實用新型涉及一種測量產品表面的檢具，尤其涉及一種產品中帶孔表面的面輪廓度檢測。

背景技術

機械產品的表面特征，如面輪廓度，是產品的一項重要的技術指標，在產品成型后，需要進行檢測。

目前，測量產品表面的面輪廓度，已有一些比較成熟的方法，如(1).采用模擬塊進行測量，由于某些被測的產品表面是上表面，該模擬塊在工作狀態時是位于表面的上方，影響產品安裝到檢具上，故該模擬塊必須做成翻轉或移動機構，較為復雜，在檢測表面時，還必須配合止通規或塞尺來使用。使用起來比較麻煩，不同的檢測人員在使用止通規或塞尺時，實際效果也會有些小的差異。(2).采用卡板進行測量。同樣由于被測的產品表面是上表面，該卡板在工作狀態時是位于表面的上方，影響產品安裝到檢具上，故該卡板同樣必須做成翻轉或移動機構，較為復雜。在檢測表面時，也必須配合止通規或塞尺來使用。使用起來比較麻煩，不同的檢測人員在使用止通規或塞尺時，實際效果也會有些小的差異。(3).對待測表面采用三坐標測量機進行檢測。三坐標測量，對儀器、環境要求都比較高，導致檢測的成本很高。而且在沒有三坐標測量機的場合，對該表面就無法進行檢測。該方法使用的局限性太大。

中國專利申請號01819300.5和中專利申請號200520009316.1報道了一種用于檢測產品表面的構件，但是，上述專利提供的技術，沒有普適性，不能用于機械產品的帶孔表面的面輪廓度的檢測。

發明內容

本實用新型的目的是提供一種測量產品表面面輪廓度的裝置，以克服現有技術存在的上述缺陷，滿足有關方面的需要。

本實用新型的測量產品表面面輪廓度的裝置，包括上端部設有臺階的基準銷、檢測套筒、限位銷、導向限位套和支架；

所說的檢測套筒套在基準銷的外表面，并能在基準銷的外表面上沿軸線滑動，限位銷固定在基準銷上，以限制檢測套筒的滑動距離，同時，限位銷還能防止檢測套筒與基準銷的分離；

導向限位套固定在支架上；

基準銷的前端與導向限位套是間隙配合的關系，并通過臺階固定在導向限位套上；

檢測套筒的下表面與待檢測的產品表面接觸，其上表面理論上位于臺階上、下表面的正中央。

本實用新型較好的解決了對于某些表面測量困難的問題，取得了非常好的效果，不僅結構實用、有效，而且大大降低了生產成本。既不需要做成復雜的翻轉或移動機構，也不需要借助于三坐標測量機。

附圖說明

圖1為測量產品表面面輪廓度的裝置的結構示意圖。

圖2為基準銷與檢測套筒配合圖。

圖3為產品表面面輪廓度不合格時的狀態圖。

圖4為另一種產品表面面輪廓度不合格時的狀態圖。

具體實施方式

參見圖1和圖2，本實用新型的測量產品表面面輪廓度的轉換機構，包括端部設有臺階6的基準銷1、檢測套筒2、限位銷3、導向限位套4和支架5；

所說的檢測套筒2套在基準銷1的外表面，并能在基準銷1的外表面上沿軸線滑動；

限位銷3固定在基準銷1上，以限制檢測套筒2的滑動距離，同時，限位銷3還能防止檢測套筒2與基準銷1的分離；

導向限位套4固定在支架5上，基準銷1的前端與導向限位套4是間隙配合的關系，并通過臺階固定在導向限位套4上；

檢測套筒2的下表面與待檢測的產品表面接觸，其上表面理論上位于臺階6上、下表面的正中央；

其中，基準銷1與檢測套筒2是間隙配合的關系，限位銷3與基準銷1是過盈配合的關系，基準銷1與導向限位套4是間隙配合的關系，導向限位套4與支架5是過盈配合的關系。

所說的檢測套筒2通常為圓筒，如果該待測表面處的孔直徑為d，則檢測套筒2與產品表面接觸部分的外端直徑為d+10～d+15mm(同時考慮待檢測表面區域的大小)；

所說的基準銷1通常為圓柱，其通過產品待測表面孔處的直徑為d-2mm，其與檢測套筒2配合處的直徑為d+2mm；

所說的臺階6的高度H等于被測產品表面的面輪廓度數值，如：被測表面的面輪廓度為1mm，則臺階6高度H也為1mm。

術語“面輪廓度”，在機械設計手冊上有詳細的定義。

本實用新型是這樣使用的：

將檢測套筒2套入基準銷1，插入限位銷3，將基準銷1和檢測套筒2組裝在一起，將限位套4固定在所說的支架5上。然后將基準銷1通過被檢測產品7待測表面所在的孔，插入到導向限位套4上，上下移動檢測套筒2，使其與產品待測表面自由接觸，觀察臺階6處，如檢測套筒2的上表面位于臺階6的上、下表面之間，則可認為產品被測表面的面輪廓度合格，如圖2所示；如檢測套筒2的上表面低于臺階6的下表面或者高于臺階6的上表面，則可認為產品被測表面的面輪廓度不合格，分別如圖3和圖4所示。