[實(shí)用新型]固體電解質(zhì)薄膜的測量裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200820054730.X | 申請日: | 2008-01-15 |
| 公開(公告)號: | CN201191307Y | 公開(公告)日: | 2009-02-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李景燁;鄧波;吉玉玲 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院上海應(yīng)用物理研究所 |
| 主分類號: | G01R27/02 | 分類號: | G01R27/02;G01R31/00 |
| 代理公司: | 上海智信專利代理有限公司 | 代理人: | 薛琦 |
| 地址: | 201800上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 固體 電解質(zhì) 薄膜 測量 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種固體電解質(zhì)薄膜的測量裝置。
背景技術(shù)
固體電解質(zhì)薄膜,特別是高分子離子導(dǎo)電薄膜,被廣泛應(yīng)用于各類電池,作為隔離陰極區(qū)和陽極區(qū)并選擇性傳導(dǎo)離子的重要組成部分。特別是在新型的質(zhì)子交換膜型燃料電池中,作為電池隔膜的質(zhì)子交換膜通常為含有磺酸基團(tuán)的致密高分子薄膜。在新型固體電解質(zhì)薄膜的研究開發(fā)中,降低成本和提高性能是兩個同時需要滿足的重要指標(biāo),而固體電解質(zhì)薄膜的離子導(dǎo)電率通常被認(rèn)為是衡量其電性能的一個重要指標(biāo)。
在測量固體電解質(zhì)薄膜的離子電導(dǎo)率的方法中,相對于直流法,交流阻抗法通過測定電解質(zhì)薄膜在不同頻率下的復(fù)阻抗,不僅能獲得電解質(zhì)薄膜縱向電導(dǎo)率數(shù)據(jù),還能獲得在不同工作條件下電解質(zhì)薄膜與電極的電荷轉(zhuǎn)移電阻和界面電容等信息。因此,交流阻抗譜不僅能測定固體電解質(zhì)薄膜的離子導(dǎo)電率,還能測定膜電極組件的相應(yīng)電性能。在通常的交流阻抗譜測定中,固體電解質(zhì)薄膜或其組件被夾于兩片電極中,然后通過導(dǎo)線連接到交流阻抗譜儀上,以獲得不同工作條件下的交流阻抗譜。
以往的交流阻抗譜測試中,單片固體電解質(zhì)薄膜或其組件被夾于帶螺絲或夾子夾緊的電極中,然后在不同的溫濕度條件下進(jìn)行測量。但是這種夾具有其本身的缺點(diǎn):首先,其夾緊壓力不易控制,因此導(dǎo)致各次測量中,測試電極與固體電解質(zhì)薄膜之間的接觸略有差異,給實(shí)驗(yàn)結(jié)果來帶偏差,影響待測固體電解質(zhì)薄膜樣品與標(biāo)準(zhǔn)參比樣品之間的可比較性;第二,每個樣品的測試均需要調(diào)節(jié)其環(huán)境溫濕度至指定值,費(fèi)時費(fèi)力,并且其環(huán)境條件不可避免的具有輕微差異。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的主要目的在于提供一種固體電解質(zhì)薄膜的測量裝置,該固體電解質(zhì)薄膜的測量裝置在同一環(huán)境條件下同時測量多個樣品,提高測試工作效率和準(zhǔn)確率。
為達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型提供一種固體電解質(zhì)薄膜的測量裝置,其特征在于,其包括:兩個底座;與上述一底座連接的一轉(zhuǎn)盤;固定于該轉(zhuǎn)盤邊緣的一手柄;與該兩個底座兩側(cè)連接的螺紋桿和限位螺紋桿;以及由該限位螺紋桿形成空間內(nèi)的復(fù)數(shù)個測試單元。
優(yōu)選地,所述轉(zhuǎn)中央具有一凸出部,與該凸出部定連接的一螺絲。
優(yōu)選地,所述螺絲和測試單元之間設(shè)置一壓緊塊。
優(yōu)選地,所述底座上具有對應(yīng)該螺絲的第一螺紋孔、對應(yīng)限位螺紋桿的第二螺紋孔以及對應(yīng)螺紋桿的第三螺紋孔。
優(yōu)選地,所述底座由不銹鋼片構(gòu)成。
優(yōu)選地,所述測試單元包括兩片絕緣片以及具有固定在該些絕緣片上的兩個平板電極,該些電極背面焊接有導(dǎo)線,在該些絕緣片上與電極背面導(dǎo)線對應(yīng)處開有一溝槽。
優(yōu)選地,所述絕緣片的使用材料為聚四氟乙烯片。
優(yōu)選地,所述電極為銅片且與待測樣品接觸面鍍金。
本實(shí)用新型由于采用了上述的技術(shù)方案,使之與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下的優(yōu)點(diǎn)和積極效果:本實(shí)用新型固體電解質(zhì)薄膜的測量裝置能夠?qū)⒍鄠€待測樣品和對比樣品以同樣的夾緊壓力固定于測試電極中,并能在同一環(huán)境條件下進(jìn)行測量,這樣既可以避免各樣品在測試中夾緊壓力和環(huán)境條件的差異,并且可以使用單路交流阻抗譜儀逐個測量樣品或配合多路交流阻抗譜儀同時測量多個樣品,實(shí)現(xiàn)一次調(diào)節(jié)環(huán)境溫濕度測量多個樣品,節(jié)約了大量的測試等待時間,提高工作效率和準(zhǔn)確率。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型固體電解質(zhì)薄膜的測量裝置一實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)立體示意圖;
圖2為本實(shí)用新型固體電解質(zhì)薄膜的測量裝置一實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)俯視示意圖;
圖3為本實(shí)用新型固體電解質(zhì)薄膜的測量裝置中的底座一實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4為本實(shí)用新型固體電解質(zhì)薄膜的測量裝置中的絕緣片一實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下將結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的固體電解質(zhì)薄膜的測量裝置作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。
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