[實用新型]一種電子元器件自動測試裝置

無效

• 申請號: 200820051519.2
• 申請日: 2008-07-30
• 公開（公告）號: CN201237623Y
• 公開（公告）日: 2009-05-13
• 發明（設計）人: 吳啟權;曹勇祥
• 申請（專利權）人: 珠海市運泰利自動化設備有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;B07C5/344
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司
• 代理人: 李彥孚

1、一種電子元器件自動測試裝置，包括底座(1)、立柱I(2)、立柱II(3)、立柱III(4)、立柱IV(5)、下料固定板(6)、固定橫桿I(7)、固定橫桿II(8)，所述立柱I(2)、所述立柱II(3)、所述立柱III(4)、所述立柱IV(5)、所述下料固定板(6)分別固定安裝于所述底座(1)上，所述固定橫桿II(8)橫架于所述立柱I(2)和所述立柱II(3)之間并固定，所述固定橫桿I(7)橫架于所述立柱IV(5)與所述固定橫桿II(8)之間并固定，其特征在于：所述底座(1)還設置有XY移動臺、自動測試轉盤，所述XY移動臺包括下滑軌(9)、上滑軌(10)，所述下滑軌(9)固定安裝于所述底座(1)上，所述上滑軌(10)與所述下滑軌(9)相配合，所述上滑軌(10)設置有待測品盤(11)，所述待測品盤(11)沿所述上滑軌(10)作滑移動作，所述自動測試轉盤圓周設置有至少兩個測試夾具(13)，所述固定橫桿I(7)設置有上料位導軌(14)，所述上料位導軌(14)配合有上料位(15)，所述固定橫桿I(7)還設置有上測試位I(23a)、上測試位II(24a)，所述底座(1)還設置有下測試位I(23b)、下測試位II(24b)，所述上測試位I(23a)和上測試位II(24a)在所述測試夾具(13)的上方對應位置，所述下測試位I(23b)和下測試位II(24b)在所述測試夾具(13)的下方對應位置，所述固定立柱III(4)的頂部安裝有壞品處理位導軌I(16)，所述壞品處理位導軌I(16)配合有壞品處理位I(17)，所述固定橫桿I(7)還設置有壞品處理位導軌II(18)，所述壞品處理位導軌II(18)配合有壞品處理位II(19)，所述下料固定板(6)的上端固定安裝有下料位導軌(20)，所述下料位導軌(20)配合有下料位(21)，所述下料位(21)沿所述下料位導軌(20)作來回滑移傳輸工作。

2、根據權利要求1所述的一種電子元器件自動測試裝置，其特征在于：所述XY移動臺的上滑軌(10)和下滑軌(9)包括端板I(25)、端板II(26)、底板(27)、步進電機(12)、絲桿(28)、移動導軌(29)位移臺(30)，所述端板I(25)和端板II(26)分別與所述底板(27)固定配合，所述步進電機(12)安裝于所述端板I(25)上，所述移動導軌(29)的兩端分別與端板I(25)、端板II(26)相配合，所述絲桿安裝在所述底板(27)上，所述位移臺(30)與所述絲桿及所述移動導軌相配合。

3、根據權利要求1所述的一種電子元器件自動測試裝置，其特征在于：所述自動測試轉盤包括轉盤體(31)、傳動軸(32)、軸筒(33)、伺服電機(34)、支架(35)，所述測試夾具(13)設置在所述轉盤體(31)上，所述傳動軸(32)的兩軸端分別與所述伺服電機(34)及所述轉盤體(31)相配合，所述伺服電機(34)通過所述傳動軸(32)控制所述轉盤體(31)的旋轉，所述轉動軸置于所述軸筒(33)內部，所述軸筒(33)固定于所述支架(35)上，所述支架(35)固定安裝于所述底座(1)上。

4、根據權利要求1所述的一種電子元器件自動測試裝置，其特征在于：所述底座(1)還設置有壞品回收盒(22)，所述壞品回收盒(22)位于所述壞品處理位下方，與所述壞品處理位相對應。