[實用新型]測試機構無效
| 申請號： | 200820037303.0 | 申請日： | 2008-06-05 |
| 公開（公告）號： | CN201237548Y | 公開（公告）日： | 2009-05-13 |
| 發明（設計）人： | 龔蓓 | 申請（專利權）人： | 昆達電腦科技(昆山)有限公司 |
| 主分類號： | G01M7/06 | 分類號： | G01M7/06;G01M7/08 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 21530*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 機構 | ||
【權利要求書】：
1、一種測試機構，其特征在于，該測試機構包括：
一振動平臺；
一振動機，其與振動平臺相連接；
一測試支架，其固定在振動平臺上；
三支撐吸盤，其分別吸附在上述測試支架的三個不同方向面的中心位置；
三撐接架，其分別與上述支撐吸盤一端相連接；
三電子設備，其分別固定在上述撐接架上。
2、如權利要求1所述的測試機構，其特征在于，該測試機構還包括：該測試支架為一長方體，其側面由鋼化玻璃構成，該測試支架邊緣處及內部支架由不銹鋼制成。
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