[實用新型]一種深溝槽大功率P型MOS器件無效
| 申請號: | 200820030791.2 | 申請日: | 2008-01-08 |
| 公開(公告)號: | CN201146192Y | 公開(公告)日: | 2008-11-05 |
| 發明(設計)人: | 朱袁正;秦旭光 | 申請(專利權)人: | 蘇州硅能半導體科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/088 | 分類號: | H01L27/088;H01L23/522 |
| 代理公司: | 蘇州創元專利商標事務所有限公司 | 代理人: | 馬明渡 |
| 地址: | 215021江蘇省蘇州市蘇州工*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 深溝 大功率 mos 器件 | ||
1、一種深溝槽大功率P型MOS器件,在俯視平面上,中心區由并聯的單胞組成陣列,單胞陣列的外圍設有終端保護結構;所述陣列內單胞通過溝槽導電多晶硅而并聯成整體,終端保護結構由位于內圈的至少一個保護環和位于外圈的一個截止環組成,其特征在于:
N阱層存在于整個終端保護區域;
在截面上保護環采用溝槽結構,溝槽位于輕摻雜N阱層,其深度伸入N阱層下方的輕摻雜P型外延層,溝槽壁表面生長有絕緣柵氧化層,溝槽內淀積有導電多晶硅,溝槽頂部的槽口由絕緣介質覆蓋,以此構成溝槽型導電多晶硅浮置場板結構的保護環;
在截面上截止環采用溝槽結構,該溝槽寬度大于單胞的溝槽寬度,溝槽位于輕摻雜N阱層,其深度伸入N阱層下方的輕摻雜P型外延層,溝槽壁表面生長有絕緣柵氧化層,溝槽內淀積有導電多晶硅,溝槽頂部設置金屬連線,溝槽外側為N阱層或者上方帶P+注入區域的N阱層,該金屬連線將溝槽內的導電多晶硅與溝槽外側的N阱層連接成等電位,或者將溝槽內的導電多晶硅同時與溝槽外側的P+注入區及N阱層連接成等電位,溝槽頂部的槽口由絕緣介質覆蓋,以此構成溝槽型導電多晶硅的截止環。
2、根據權利要求1所述的深溝槽大功率P型MOS器件,其特征在于:所述單胞陣列的溝槽導電多晶硅向保護環與單胞陣列之間的區域延伸,延伸端為一個直徑大于溝槽寬度的圓形引線終端,或者邊長大于溝槽寬度的多邊形引線終端,柵電極引線孔開設在該引線終端位置上,使金屬連線直接與溝槽導電多晶硅相連。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





