[實用新型]面板測試結構

無效

• 申請號: 200820001232.9
• 申請日: 2008-01-10
• 公開（公告）號: CN201138366Y
• 公開（公告）日: 2008-10-22
• 發明（設計）人: 鄭秋雄;鄭至均
• 申請（專利權）人: 環國科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/02;G01R1/067;G01M11/00;G09G3/00;G02F1/13
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司
• 代理人: 陳亮

1.一種面板測試結構，其特征在于，包括：

一面板，包含多個像素，且任一該些像素具有多個子像素；以及

一薄膜探針，設有多個導電結構，其中任一該導電結構包含多個導電凸塊凸 設于該薄膜探針表面；任一該導電結構的該些導電凸塊分別與相同顏色的任一該些 子像素形成電性連接，且該些導電凸塊利用至少一導電線路連接至一對外接點。

2.如權利要求1所述的面板測試結構，其特征在于，該薄膜探針為不導電的 撓性材質所構成。

3.如權利要求1所述的面板測試結構，其特征在于，該些導電凸塊為異方向 性導電膠或鎳合金所構成。

4.如權利要求1所述的面板測試結構，其特征在于，該些子像素為三原色子 像素。

5.如權利要求4所述的面板測試結構，其特征在于，該些導電結構為一紅色 子像素導電結構、一綠色子像素導電結構及一藍色子像素導電結構。

6.如權利要求5所述的面板測試結構，其特征在于，該紅色子像素導電結構 的該些導電凸塊與該面板上的任一該紅色子像素形成電性接觸；該綠色子像素導電 結構上的該些導電凸塊與該面板上的任一該綠色子像素形成電性接觸；以及該藍色 子像素導電結構上的該些導電凸塊與該面板上的任一該藍色子像素形成電性接觸。

7.如權利要求1所述的面板測試結構，其特征在于，該面板更含有多個信號 掃瞄線于該面板的一側邊，且任一該些信號掃瞄線電性連接該面板上任一橫向排列 的該些像素。

8.如權利要求7所述的面板測試結構，其特征在于，更包含至少一控制線路 設置于該薄膜探針上與至少一該些信號掃瞄線電性連接。

9.如權利要求8所述的面板測試結構，其特征在于，更包含多個導電凸塊凸 出該控制線路并與至少一該些信號掃瞄線電性接觸。

10.如權利要求1所述的面板測試結構，其特征在于，該面板更含有多個數據 傳輸線于該面板的另一側邊，且任一該些數據傳輸線電性連接該面板上任一縱向排 列的該些子像素。

11.如權利要求10所述的面板測試結構，其特征在于，該薄膜探針上的該些 導電凸塊與該些數據傳輸線電性接觸。