[發明專利]壽命測試系統及方法

無效

• 申請號: 200810305506.8
• 申請日: 2008-11-12
• 公開（公告）號: CN101738451A
• 公開（公告）日: 2010-06-16
• 發明（設計）人: 秦強;柳天佑;宮連仲
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種壽命測試系統，用于測試一第一探測裝置的壽命，所述壽命測試 系統包括一第二探測裝置、一處理器、一運動模塊及一存儲模塊，所述第 一、第二探測裝置、運動模塊及存儲模塊均與所述處理器相連，所述運動模 塊上設置有一第一感應物及一第二感應物，所述處理器用于控制所述運動模 塊的運動及計算所述第一及第二探測裝置分別感應到所述第一感應物及第二 感應物的次數，所述存儲模塊用于存儲所述第一及第二探測裝置分別感應到 所述第一感應物及第二感應物的次數，當所述第一及第二探測裝置每次分別 感應到所述第一及第二感應物時，所述第一及第二探測裝置均分別向所述處 理器發送一第一信號及一第二信號，所述處理器根據所接收到的第一信號及 第二信號的次數計算所述第一及第二探測裝置感應到第一感應物及第二感應 物的次數，當所述第一探測裝置感應到所述第一感應物的次數不等于所述第 二探測裝置感應到所述第二感應物的次數時，所述第一探測裝置壽命不合 格。

2.如權利要求1所述的壽命測試系統，其特征在于：所述存儲模塊內存 儲有所述運動模塊的運動循環預設次數，所述處理器讀取所述運動循環預設 次數，并根據所述運動循環預設次數控制所述運動模塊的運動。

3.如權利要求1所述的壽命測試系統，其特征在于：所述第一探測裝置 為一金屬探測裝置，所述第二探測裝置為一光電探測器，所述第一感應物為 一金屬塊，所述第二感應物為一設置于所述運動模塊的圓孔。

4.如權利要求1所述的壽命測試系統，其特征在于：所述運動模塊包括 一轉盤、一電動機及一驅動芯片，所述驅動芯片連接于所述處理器與電動機 之間，用于根據所述處理器的指令控制所述電動機，所述電動機用于帶動所 述轉盤運動，所述第一感應物及第二感應物設置于所述轉盤。

5.如權利要求1所述的壽命測試系統，其特征在于：所述壽命測試系統 還包括一顯示模塊，所述顯示模塊與所述處理器相連，用于實時顯示所述處 理器所計算的第一及第二探測裝置分別感應到所述第一感應物及第二感應物 的次數。

6.如權利要求1所述的壽命測試系統，其特征在于：所述壽命測試系統 還包括一控制模塊，所述控制模塊與所述處理器相連，用于設定所述運動模 塊的運動循環次數，當所述運動模塊運動的次數達到設定的運動循環次數 時，所述處理器控制所述運動模塊停止運動。

7.一種壽命測試系統，用于測試一金屬探測裝置的壽命，所述壽命測試 系統包括一光電探測器、一處理器、一運動模塊及一存儲模塊，所述運動模 塊包括一轉盤、一驅動芯片及一電動機，所述轉盤的側壁上設置有一金屬 塊，所述轉盤上還設置有一貫穿整個轉盤的圓孔；所述金屬探測裝置、光電 探測器、驅動芯片及存儲模塊均與所述處理器相連，所述驅動芯片還與所述 電動機相連；所述存儲模塊內存儲有所述電動機的運動循環預設次數，所述 處理器用于讀取所述運動循環預設次數并控制所述電動機的運動；所述金屬 探測裝置及光電探測器每次分別感應到所述金屬塊及圓孔時，所述金屬探測 裝置及光電探測器向所述處理器分別發送一第一信號及一第二信號，所述處 理器根據接收到的第一信號及第二信號的次數分別計算所述金屬探測裝置及 光電探測器感應到所述金屬塊及圓孔的次數，并將所述金屬探測裝置及光電 探測器感應到的金屬塊及圓孔的次數存儲于所述存儲模塊中，當所述處理器 所接收到的第一信號的次數不等于所接收到的第二信號的次數時，表示所述 金屬探測裝置的壽命不合格。

8.一種應用如權利要求1中所述壽命測試系統進行測試的方法，包括以 下步驟：

所述處理器控制所述運動模塊開始運動；

當所述第一探測裝置每次感應到所述第一感應物時發送一第一信號給所 述處理器；

所述處理器計算接收到的第一信號的次數，并將其存儲于所述存儲模 塊；

當所述第二探測裝置每次感應到所述第二感應物時發送一第二信號給所 述處理器；

所述處理器計算接收到的第二信號的次數，并將其存儲于所述存儲模 塊；以及

當所述處理器所接收到的第一信號的次數不等于所接收到的第二信號的 次數時，表示所述第一探測裝置的壽命不合格。

9.一種運用如權利要求7所述的壽命測試系統進行測試的方法，包括以 下步驟：

所述處理器讀取所述存儲模塊內部的運動循環預設次數；

所述處理器根據所述運動循環預設次數控制所述電動機開始運動；

當所述金屬探測裝置每次感應到所述金屬塊時發送一第一信號給所述處 理器；

所述處理器計算接收到的第一信號的次數，并將其存儲于所述存儲模 塊；

當所述光電探測器每次感應到所述圓孔時發送一第二信號給所述處理 器；

所述處理器計算接收到的第二信號的次數，并將其存儲于所述存儲模 塊；以及

當所述處理器所接收到的第一信號的次數不等于所接收到的第二信號的 次數時，表示所述金屬探測裝置的壽命不合格。