[發(fā)明專利]多硬盤LED燈測試系統(tǒng)及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810303757.2
• 申請日: 2008-08-14
• 公開（公告）號: CN101650681A
• 公開（公告）日: 2010-02-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃韜;趙紅波
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及測試硬盤指示燈的系統(tǒng)及方法，特別是關(guān)于一種測試多硬盤LED燈的系統(tǒng)及 方法。

背景技術(shù)

硬盤活動指示燈(Hard?Drive?Activity?LED，以下簡稱“硬盤LED”)是判斷硬盤和操 作系統(tǒng)進(jìn)行數(shù)據(jù)交互與否的一個重要提示，因此，計算機(jī)生產(chǎn)廠商有必要在組裝計算機(jī)系統(tǒng) 之后需對硬盤LED進(jìn)行測試。

目前，計算機(jī)生產(chǎn)廠商利用測試系統(tǒng)測試硬盤LED時，只能測試到當(dāng)前操作系統(tǒng)所在的 硬盤對應(yīng)的LED燈。然而，在測試系統(tǒng)以外的其它硬盤有可能是沒有進(jìn)行分區(qū)的空硬盤，當(dāng) 操作系統(tǒng)啟動后不會與空硬盤發(fā)生數(shù)據(jù)交換。因此，空硬盤的LED燈可能沒有被測試到，從 而會造成硬盤LED燈良好性測試的疏漏。若要對空硬盤進(jìn)行數(shù)據(jù)交互，則需要先將硬盤進(jìn)行 格式化等動作。這種測試方案加重了整個測試流程的復(fù)雜性，并且增加了測試時間以及測試 成本。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種多硬盤LED燈測試系統(tǒng)，能夠快速簡易地測試大批量硬 盤LED燈的良好性，提高了測試的覆蓋面，節(jié)約了測試時間以及測試成本。

此外，還有必要提供一種多硬盤LED燈測試方法，能夠快速簡易地測試大批量硬盤LED燈 的良好性，提高了測試的覆蓋面，節(jié)約了測試時間以及測試成本。

一種多硬盤LED燈測試系統(tǒng)，安裝并運(yùn)行于計算機(jī)的操作系統(tǒng)中，該計算機(jī)連接有多個 硬盤。該系統(tǒng)包括：硬盤偵測模塊，用于偵測每一個硬盤是否正常連接到計算機(jī)上，并獲取 連接到計算機(jī)上的硬盤數(shù)量；線程創(chuàng)建模塊，用于通過調(diào)用操作系統(tǒng)中的API函數(shù)來創(chuàng)建一 個主線程，并通過該主線程的線程函數(shù)為每一個正常連接到計算機(jī)上的硬盤分別創(chuàng)建一個對 應(yīng)的子線程；LED燈驅(qū)動模塊，用于通過每一個子線程與其對應(yīng)的硬盤進(jìn)行數(shù)據(jù)交互來分別 驅(qū)動每一個硬盤上的LED燈；LED燈狀態(tài)檢測模塊，用于檢測每個硬盤上的LED燈狀態(tài)，根據(jù) 該LED燈狀態(tài)判斷硬盤上的LED燈是否通過測試，并產(chǎn)生每一個硬盤上LED燈的測試結(jié)果。

一種多硬盤LED燈測試方法，用于測試連接到計算機(jī)上的多個硬盤LED的燈良好性。該方 法包括如下步驟：獲取正常連接到計算機(jī)上的硬盤數(shù)量；調(diào)用計算機(jī)的操作系統(tǒng)中的API函 數(shù)來創(chuàng)建一個主線程；通過該主線程的線程函數(shù)為每一個正常連接到計算機(jī)上的硬盤分別創(chuàng) 建一個對應(yīng)的子線程；通過每一個子線程與其對應(yīng)的硬盤進(jìn)行數(shù)據(jù)交互來驅(qū)動每一個硬盤上 的LED燈；檢測每一個硬盤上的LED燈狀態(tài)；若硬盤上的LED燈處于點(diǎn)亮狀態(tài)，則提示該硬盤 上的LED燈符合標(biāo)準(zhǔn)；若硬盤上的LED燈處于熄滅狀態(tài)，則警示該硬盤上的LED燈不符合標(biāo)準(zhǔn) ；根據(jù)每一個硬盤上的LED燈的測試結(jié)果生成多硬盤LED燈的測試報告，并將該多硬盤LED燈 的測試報告輸出并顯示于計算機(jī)上。

所述的多硬盤LED燈測試系統(tǒng)及方法采用了直接與被測硬盤進(jìn)行數(shù)據(jù)交換的方式點(diǎn)亮 LED燈，無需附加硬件設(shè)備輔助就可以對大批量硬盤LED燈的良好性進(jìn)行測試，提高了測試的 覆蓋面，節(jié)約了測試時間以及測試成本。

附圖說明

圖1是本發(fā)明多硬盤LED燈測試系統(tǒng)較佳實施例的應(yīng)用環(huán)境圖。

圖2是圖1中的多硬盤LED燈測試系統(tǒng)的功能模塊圖。

圖3是本發(fā)明多硬盤LED燈測試方法較佳實施例的流程圖。

具體實施方式

參閱圖1所示，是本發(fā)明多硬盤LED燈測試系統(tǒng)10較佳實施例的應(yīng)用環(huán)境圖。在本實施例 中，該多硬盤活動指示燈(Hard?Drive?Activity?LED，以下簡稱“硬盤LED燈”)測試系統(tǒng) 10安裝并運(yùn)行于計算機(jī)1的操作系統(tǒng)12中。該計算機(jī)1通過IO端口分別與多個硬盤2相連接， 所述的IO端口可以為RS232、USB等一般通用性的端口，也可以為一種網(wǎng)路連接，例如LAN。 每個硬盤2包括一個LED燈20，用于指示該硬盤2是否與操作系統(tǒng)12進(jìn)行正常數(shù)據(jù)交互。例如 ，當(dāng)硬盤2與操作系統(tǒng)12進(jìn)行正常數(shù)據(jù)交互，則該硬盤2的LED燈20處于點(diǎn)亮狀態(tài)；當(dāng)硬盤2與 操作系統(tǒng)12不能進(jìn)行正常數(shù)據(jù)交互，則該硬盤2的LED燈20處于熄滅狀態(tài)。每個硬盤2可以存 儲有測試數(shù)據(jù)，也可以是沒有格式化的新硬盤2，例如在新硬盤2的前幾個扇區(qū)存儲有硬盤屬 性及分區(qū)信息，其可以與操作系統(tǒng)12進(jìn)行數(shù)據(jù)交互。