[發(fā)明專利]計(jì)算機(jī)測試系統(tǒng)及方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810301614.8
• 申請日: 2008-05-16
• 公開（公告）號: CN101582045A
• 公開（公告）日: 2009-11-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 汪永安
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G06F11/267
• 分類號: G06F11/267
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)及方法，尤指一種計(jì)算機(jī)測試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

計(jì)算機(jī)產(chǎn)品處于測試階段時(shí)，必須經(jīng)過反復(fù)嚴(yán)格的測試以確保其品質(zhì)。測試計(jì)算機(jī)時(shí)，通常可由人工操作計(jì)算機(jī)的電源按鈕，檢驗(yàn)該計(jì)算機(jī)是否能通過嚴(yán)格的開關(guān)機(jī)測試，檢測計(jì)算機(jī)的電源管理功能是否穩(wěn)定正常。這種人工測試的方法雖然簡單易行，但是測試效率低，不便于成批量地測試計(jì)算機(jī)產(chǎn)品。

業(yè)界也采用控制電路自動(dòng)測試計(jì)算機(jī)產(chǎn)品，所述控制電路包括一控制芯片，所述控制芯片按照測試需求燒錄有測試程序，所述測試程序運(yùn)行時(shí)可發(fā)出開機(jī)信號至所述待測計(jì)算機(jī)，所述待測計(jì)算機(jī)經(jīng)過開機(jī)自檢并進(jìn)入操作系統(tǒng)后，所述控制芯片重新發(fā)出關(guān)機(jī)信號至待測計(jì)算機(jī)，如此循環(huán)，可以測試計(jì)算機(jī)的穩(wěn)定性。但是，所述控制芯片只能發(fā)出信號至待測計(jì)算機(jī)，不能實(shí)時(shí)獲取計(jì)算機(jī)的反饋信息，不利于根據(jù)實(shí)際情況調(diào)整測試信號以重點(diǎn)測試出錯(cuò)點(diǎn)。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種能實(shí)時(shí)讀取待測計(jì)算機(jī)的反饋信息的計(jì)算機(jī)測試系統(tǒng)及方法。

一種計(jì)算機(jī)測試系統(tǒng)，用于測試一待測計(jì)算機(jī)，其包括一用以發(fā)送測試信號至所述待測計(jì)算機(jī)的控制電路，所述控制電路還用以接收所述待測計(jì)算機(jī)的測試信息，當(dāng)所述測試信息中有錯(cuò)誤代碼時(shí)，所述控制電路輸出重啟信號至所述待測計(jì)算機(jī)，當(dāng)所述測試信息沒有錯(cuò)誤代碼時(shí)，所述控制電路在所述待測計(jì)算機(jī)進(jìn)入休眠狀態(tài)后發(fā)出喚醒信號至所述待測計(jì)算機(jī)以測試所述待測計(jì)算機(jī)的喚醒功能。

一種計(jì)算機(jī)測試方法，包括以下步驟：控制電路發(fā)出測試信號至待測計(jì)算機(jī)；待測計(jì)算機(jī)開機(jī)自檢；控制電路接收所述待測計(jì)算機(jī)的測試信息；當(dāng)所述測試信息中有錯(cuò)誤代碼時(shí)，所述控制電路輸出重啟信號至所述待測計(jì)算機(jī)；及當(dāng)所述測試信息沒有錯(cuò)誤代碼時(shí)，所述控制電路在所述待測計(jì)算機(jī)進(jìn)入休眠狀態(tài)后發(fā)出喚醒信號至所述待測計(jì)算機(jī)測試所述待測計(jì)算機(jī)的喚醒功能。

本發(fā)明計(jì)算機(jī)測試系統(tǒng)及方法利用一控制電路發(fā)出測試信號至待測計(jì)算機(jī)，所述待測計(jì)算機(jī)的I/O端口的代碼亦可實(shí)時(shí)反饋至所述控制電路，所述控制電路根據(jù)所述待測計(jì)算機(jī)I/O端口的反饋信息發(fā)出相應(yīng)信號至所述待測計(jì)算機(jī)，能有針對性地自動(dòng)測試所述待測計(jì)算機(jī)。

附圖說明

圖1為本發(fā)明較佳實(shí)施方式計(jì)算機(jī)測試系統(tǒng)的工作原理圖。

圖2為圖1的詳細(xì)電路圖。

圖3為本發(fā)明較佳實(shí)施方式計(jì)算機(jī)測試方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

請參閱圖1，本發(fā)明較佳實(shí)施方式的計(jì)算機(jī)測試系統(tǒng)包括一控制電路10，所述控制電路10用于測試一待測計(jì)算機(jī)20，所述待測計(jì)算機(jī)20包括一開關(guān)模組22及一I/O端口24，所述控制電路10的輸出端與所述待測計(jì)算機(jī)20的開關(guān)模組22相連用于發(fā)送控制信號至所述待測計(jì)算機(jī)20，輸入端與所述待測計(jì)算機(jī)20的I/O端口24相連用于讀取所述待測計(jì)算機(jī)20運(yùn)行時(shí)的信息，所述控制電路10會(huì)根據(jù)讀取的信息調(diào)整輸出的控制信號，以便根據(jù)實(shí)際情況有針對性地測試所述待測計(jì)算機(jī)20。

請參閱圖2，所述控制電路10包括一燒錄有測試程序的單片機(jī)12，所述單片機(jī)12外接一電源14、一晶振電路16及一復(fù)位電路18，所述電源14提供正常工作電壓至所述單片機(jī)12，所述晶振電路16提供時(shí)鐘脈沖信號至所述單片機(jī)12，所述復(fù)位電路18提供復(fù)位信號至所述單片機(jī)12使所述單片機(jī)12開始或停止工作。所述單片機(jī)12與所述待測計(jì)算機(jī)20的開關(guān)模組22相連以便發(fā)送控制信號至所述待測計(jì)算機(jī)20，所述單片機(jī)12還與所述待測計(jì)算機(jī)20的I/O端口24相連以便讀取所述I/O端口24的信息，所述I/O端口24為所述待測計(jì)算機(jī)20的80H端口。

請參閱圖3，利用上述計(jì)算機(jī)測試系統(tǒng)測試所述待測計(jì)算機(jī)20的步驟為：

S01：所述單片機(jī)12內(nèi)的測試程序開始運(yùn)行；

S02：所述單片機(jī)12發(fā)出開機(jī)信號至所述待測計(jì)算機(jī)20；

S03：所述待測計(jì)算機(jī)20開機(jī)自檢并將自檢代碼送至其80H端口；

S04：所述單片機(jī)12讀取所述待測計(jì)算機(jī)20的80H端口的代碼；

S05：所述單片機(jī)12判斷是否讀到出錯(cuò)點(diǎn)的代碼；