[發明專利]輪廓度分析系統及方法

無效

• 申請號: 200810301298.4
• 申請日: 2008-04-24
• 公開（公告）號: CN101566466A
• 公開（公告）日: 2009-10-28
• 發明（設計）人: 張旨光;丁勇紅;蔣理
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種輪廓度分析系統及方法。

背景技術

影像量測是目前精密量測領域中最廣泛使用的量測方法，該方 法不僅精確度高，而且量測速度快。影像量測主要用于零件或者部 件的尺寸誤差和形位誤差的量測，對保證產品質量起著重要的作 用。

但是，現有影像量測系統給出的誤差只是籠統的誤差范圍，不 能直觀的表達各個量測點的誤差范圍，同時，現有影像量測系統的 輪廓度計算很單一，不能根據用戶不同的需求進行不同基準的輪廓 度計算。

發明內容

鑒于以上內容，有必要提供一種輪廓度分析系統，可以根據用 戶的不同需求進行不同的輪廓度計算，并直觀的表達出每一量測點 的誤差狀況。

此外，還有必要提供一種輪廓度分析方法，可以根據用戶的不 同需求進行不同的輪廓度計算，并直觀的表達出每一量測點的誤差 狀況。

一種輪廓度分析系統，該系統運行于計算機中，該計算機相 連一數據庫，該系統包括：獲取模塊，用于從該數據庫中獲取需 進行輪廓度計算的物件的所有理論輪廓數據和量測點數據；設置 模塊，用于設置輪廓度計算的公差及精確度，所述輪廓度計算的 方式包括無基準要求的計算方式、基于軸的計算方式及基于平面 的計算方式，所述無基準要求的計算方式是指將物件各個量測點 在平面上通過平移和旋轉得到最接近理論輪廓數據的坐標值，并 根據平移和旋轉后的物件各個量測點坐標值進行輪廓度計算，所 述基于軸的計算方式是指將物件各個量測點在X軸或Y軸上平移 一段距離得到最接近理論輪廓數據的坐標值，并根據平移后的物 件各個量測點坐標值進行輪廓度計算，所述基于平面的計算方式 是指物件各個量測點不能進行平移和旋轉，直接利用物件各個量 測點坐標值進行輪廓度計算；平移模塊，用于當輪廓度的計算方 式為無基準要求或基于軸的計算方式時，所述獲取的量測點需要 向理論輪廓平移，根據設置的精確度依次將各量測點向理論輪廓 平移，并記錄平移后的各量測點相對于理論輪廓平移的距離；所 述設置模塊還用于當輪廓度的計算方式為基于平面的計算方式 時，所述獲取的量測點不需要向理論輪廓平移，將各量測點相對 于理論輪廓的平移距離設置為零；旋轉模塊，用于當輪廓度的計 算方式為無基準要求時，所述獲取的量測點需要向理論輪廓旋 轉，根據設置的精確度依次將各量測點向理論輪廓旋轉，并記錄 各量測點相對于理論輪廓旋轉的角度；所述設置模塊，還用于當 輪廓度的計算方式為基于平面或基于軸的計算方式時，所述量測 點不需要向理論輪廓旋轉，將各量測點相對于理論輪廓的旋轉角 度設置為零；及計算模塊，用于根據所述各量測點相對于理論輪 廓平移的距離及旋轉的角度依次計算各量測點平移和旋轉后的點 的坐標，根據所述平移和旋轉后的點到理論輪廓的距離計算各量 測點的最小誤差距離，根據所述所有量測點的最小誤差距離計算 該被測物件的輪廓度及殘差。