[發明專利]測試封裝后的場效應管的導通電阻的方法、裝置及系統無效
| 申請號： | 200810247313.1 | 申請日： | 2008-12-29 |
| 公開（公告）號： | CN101769964A | 公開（公告）日： | 2010-07-07 |
| 發明（設計）人： | 鄭方偉;湯畫;邱海亮 | 申請（專利權）人： | 北大方正集團有限公司;深圳方正微電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R27/14 | 分類號： | G01R27/14;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人： | 郭潤湘 |
| 地址： | 100871北京市*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 封裝 場效應 通電 方法 裝置 系統 | ||
1.一種測試封裝后的場效應管的導通電阻的系統，其特征在于，包括：
封裝后的場效應管、恒流源、電壓表以及測試插座；
所述封裝后的場效應管的漏極通過所述測試插座的第一接觸彈片與所述電壓表的正極相連，通過所述測試插座的第二接觸彈片與所述恒流源的正極相連；
所述封裝后的場效應管的源極通過所述測試插座的第三接觸彈片與所述電壓表的負極相連，通過所述測試插座的第四接觸彈片與所述恒流源的負極相連。
2.如權利要求1所述的系統，其特征在于，所述恒流源的負載大于設定值。
3.如權利要求1所述的系統，其特征在于，所述電壓表的內電阻大于設定值。
4.一種測試插座，用于測試封裝后的場效應管的導通電阻，其特征在于，包括：
至少四個接觸彈片；
其中，第一接觸彈片和第二接觸彈片的一端用于與所述場效應管的漏極相連，且所述第一接觸彈片和所述第二接觸彈片互不接觸；第三接觸彈片和第四接觸彈片的一端用于與所述場效應管的源極相連，且所述第三接觸彈片和第四接觸彈片互不接觸；
所述第一接觸彈片的另一端用于與電壓表的正極相連；
所述第二接觸彈片的另一端用于與恒流源的正極相連；
所述第三接觸彈片的另一端用于與電壓表的負極相連；
所述第四接觸彈片的另一端用于與恒流源的負極相連。
5.一種應用如權利要求4所述的測試插座測試封裝后的場效應管的導通電阻的方法，其特征在于，包括：
將封裝后的場效應管的漏極通過所述的測試插座的第一接觸彈片和第二接觸彈片分別與電壓表以及恒流源的正極相連，且將封裝后的場效應管的源極通過所述測試插座的第三接觸彈片和第四接觸彈片分別與電壓表以及恒流源的負極相連；
根據所述電壓表輸出的電壓值以及所述恒流源輸出的電流值，確定所述場效應管的導通電阻。
6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，所述恒流源的負載大于設定值。
7.如權利要求5所述的方法，其特征在于，所述電壓表的內電阻大于設定值。
8.如權利要求5所述的方法，其特征在于，根據所述電壓表輸出的電壓值以及所述恒流源輸出的電流值，確定所述場效應管的導通電阻，具體包括：
將所述電壓表輸出的電壓值與所述恒流源輸出的電流值的比值，確定為所述場效應管的導通電阻。
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