[發(fā)明專(zhuān)利]一種通用串行總線控制器的測(cè)試方法和測(cè)試系統(tǒng)

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200810246591.5
• 申請(qǐng)日: 2008-12-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101446623A
• 公開(kāi)（公告）日: 2009-06-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張浩
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 北京中星微電子有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/3181
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/3181;G06F11/263
• 代理公司: 北京國(guó)昊天誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 顧惠忠

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及通用串行總線通道測(cè)試領(lǐng)域，特別是涉及一種通用串行總線控制器的測(cè)試方法和測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

USB(Universal?Serial?Bus，通用串行總線)是連接外部設(shè)備的一個(gè)串口總線標(biāo)準(zhǔn)，由于其具有較高的傳輸速率而被廣泛應(yīng)用，特別是多媒體數(shù)據(jù)傳輸應(yīng)用領(lǐng)域。USB器件一般包括發(fā)送器、接收器、USB控制器以及USB接口，通過(guò)USB控制器控制發(fā)送器或接收器從USB接口發(fā)生或接收數(shù)據(jù)。

通常，USB器件在制造完成之后，需要測(cè)試其工作性能是否完善，首要的重點(diǎn)就是測(cè)試該USB器件是否能夠正常工作，而正常工作的最重要環(huán)節(jié)就是USB器件的發(fā)送器或接收器能夠完整而且正確無(wú)誤地將數(shù)據(jù)進(jìn)行發(fā)送或接收。因此，對(duì)USB通道內(nèi)數(shù)據(jù)的發(fā)送或接收的準(zhǔn)確性進(jìn)行測(cè)試是USB器件檢測(cè)中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。

目前，市場(chǎng)上絕大部分USB接口的器件都已經(jīng)采用USB2.0接口標(biāo)準(zhǔn)，這種標(biāo)準(zhǔn)的接口能提供480Mbps的數(shù)據(jù)通信帶寬，并且接口的頻率可以高達(dá)480MHz。因此，很難使用ATE(Automatic?Test?Equipment，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備)測(cè)試臺(tái)直接對(duì)該USB2.0接口輸入測(cè)試向量進(jìn)行數(shù)據(jù)發(fā)送或接收的測(cè)試。現(xiàn)有技術(shù)中一般采用掃描鏈測(cè)試對(duì)USB器件進(jìn)行數(shù)據(jù)發(fā)送或接收的測(cè)試。通過(guò)測(cè)試臺(tái)使用自動(dòng)測(cè)試向量生成工具(Automatic?Test?Pattern?Generation，ATPG)產(chǎn)生的測(cè)試向量(pattern)進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試時(shí)，ATPG自動(dòng)生成的測(cè)試向量按順序加載于掃描鏈中的各個(gè)寄存器上，將寄存器輸出的信號(hào)收集并與預(yù)算好的測(cè)試向量相比較，從而判斷是否測(cè)試到錯(cuò)誤。但是，掃描鏈中的一部分寄存器間的待測(cè)組合邏輯不能完成測(cè)試，因而不能被測(cè)試到，造成掃描鏈測(cè)試的覆蓋率不能達(dá)到100％。這時(shí)，就會(huì)導(dǎo)致USB通道中的發(fā)送器、接收器及USB控制器的部分邏輯功能的漏測(cè)。

一般，可以通過(guò)物理層收發(fā)器嵌入式自我測(cè)試(phy?build?in?self?test，簡(jiǎn)稱(chēng)phybist)完成對(duì)USB物理層收發(fā)器(phy)，即發(fā)送器及接收器的測(cè)試。物理層收發(fā)器嵌入式自我測(cè)試的測(cè)試向量由ATE測(cè)試臺(tái)提供。ATE測(cè)試臺(tái)通過(guò)檢測(cè)返回的物理層收發(fā)器嵌入式自我測(cè)試故障(phybist-fail)信號(hào)來(lái)檢測(cè)物理層收發(fā)器的好壞。

雖然，USB通道內(nèi)的物理層收發(fā)器可以通過(guò)物理層收發(fā)器嵌入式自我測(cè)試進(jìn)行覆蓋，但現(xiàn)有技術(shù)中仍然缺少一種測(cè)試方法可以將USB控制器進(jìn)行覆蓋。

總之，需要本領(lǐng)域技術(shù)人員迫切解決的一個(gè)技術(shù)問(wèn)題就是：如何創(chuàng)新地提出一種通用串行總線控制器的測(cè)試方法和測(cè)試系統(tǒng)，使得通過(guò)該測(cè)試方法和測(cè)試系統(tǒng)，能夠?qū)SB通道內(nèi)的USB控制器的功能測(cè)試進(jìn)行覆蓋。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種通用串行總線控制器的測(cè)試方法和測(cè)試系統(tǒng)，使得通過(guò)該測(cè)試方法和測(cè)試系統(tǒng)，能夠?qū)SB通道內(nèi)的USB控制器的功能測(cè)試進(jìn)行覆蓋。

為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明公開(kāi)了一種通用串行總線控制器的測(cè)試方法，所述方法包括以下步驟：

在測(cè)試通用串行總線控制器的信號(hào)觸發(fā)下，將通用串行總線控制器的UTMI接口切換至測(cè)試模式；

在所述測(cè)試模式下，通過(guò)外部測(cè)試臺(tái)向通用串行總線控制器輸入測(cè)試向量，將通用串行總線控制器輸出的信號(hào)與預(yù)算好的測(cè)試向量相比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷所述通用串行總線控制器是否正常。

優(yōu)選的，所述測(cè)試向量被引接到雙向輸入/輸出焊墊上，輸入至通用串行總線控制器；以及，所述通用串行總線控制器輸出的信號(hào)被引接到雙向輸入/輸出焊墊上，輸出至外部測(cè)試臺(tái)。

優(yōu)選的，所述測(cè)試向量被引接到雙向輸入/輸出焊墊上后，還包括：

將ULPI接口形式的測(cè)試向量信號(hào)轉(zhuǎn)換為UTMI接口形式的測(cè)試向量信號(hào)，進(jìn)而輸入至通用串行總線控制器。

優(yōu)選的，所述通用串行總線控制器輸出的信號(hào)被引接到雙向輸入/輸出焊墊上之前還包括：將UTMI接口形式的通用串行總線控制器輸出信號(hào)轉(zhuǎn)換為ULPI接口形式的輸出信號(hào)。

進(jìn)一步，還可將所述通用串行總線控制器的UTMI接口在退出測(cè)試模式時(shí)切換至功能模式，在所述功能模式下，通用串行總線控制器的UTMI接口與通用串行總線物理層收發(fā)器相連接。

根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，還公開(kāi)了一種通用串行總線控制器的測(cè)試系統(tǒng)，包括外部測(cè)試臺(tái)和一測(cè)試器，其中，測(cè)試器包括：通用串行總線控制器以及通用串行總線物理層收發(fā)器，所述測(cè)試器還包括：