[發(fā)明專利]多元素分析儀系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810243083.1 | 申請日: | 2008-11-28 |
| 公開(公告)號: | CN101424633A | 公開(公告)日: | 2009-05-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周怡君;戴挺;楊立新 | 申請(專利權(quán))人: | 南京華欣分析儀器制造有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/27 | 分類號: | G01N21/27 |
| 代理公司: | 南京天翼專利代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 黃明哲 |
| 地址: | 211300江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 多元 分析 系統(tǒng) | ||
1、多元素分析儀系統(tǒng),其特征是包括上位機(jī)和下位機(jī),下位機(jī)采集測試通道的數(shù)據(jù)傳輸給上位機(jī),上位機(jī)為一計算機(jī),下位機(jī)包括一單片機(jī)和模/數(shù)轉(zhuǎn)換模塊,兩者通過RS232串行接口連接;其中上位機(jī)包括圖形用戶界面、多元素分析控制系統(tǒng)和數(shù)據(jù)庫三個模塊,圖形用戶界面模塊實現(xiàn)人機(jī)交互,多元素分析控制系統(tǒng)模塊分析用戶指令、接收處理下位機(jī)采集的數(shù)據(jù)、向下位機(jī)發(fā)出分析指令、對數(shù)據(jù)庫模塊進(jìn)行讀寫和維護(hù)操作;下位機(jī)的模/數(shù)轉(zhuǎn)換模塊同時采集所連接的各測試通道的數(shù)據(jù),單片機(jī)接收來自上位機(jī)的指令,依據(jù)上位機(jī)的指令完成相應(yīng)的數(shù)據(jù)采集和預(yù)處理,并按指令向上位機(jī)傳送相應(yīng)的數(shù)據(jù)。
2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的多元素分析儀系統(tǒng),其特征是多元素分析控制系統(tǒng)模塊設(shè)有人機(jī)交互、通訊和數(shù)據(jù)處理三個工作線程,人機(jī)交互線程處理圖形用戶界面模塊的人機(jī)交互操作,生成操作指令集合,按用戶需求輸出顯示相應(yīng)數(shù)據(jù);通訊線程接收和發(fā)送上位機(jī)與下位機(jī)傳輸?shù)拇袛?shù)據(jù),對發(fā)送的數(shù)據(jù)包裝,對接收的數(shù)據(jù)解包;數(shù)據(jù)處理線程處理串行數(shù)據(jù),讀取和處理數(shù)據(jù)庫模塊的數(shù)據(jù),制定工作曲線,測試分析。
3、根據(jù)權(quán)利要求2所述的多元素分析儀系統(tǒng),其特征是數(shù)據(jù)處理線程采用高階最小二乘方法提高標(biāo)準(zhǔn)曲線數(shù)據(jù)擬合精度。
4、根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的多元素分析儀系統(tǒng),其特征是上位機(jī)與下位機(jī)之間傳輸?shù)闹噶罨驍?shù)據(jù)包由起始符、指令/數(shù)據(jù)、終止符和校驗位組成,上位機(jī)與下位機(jī)設(shè)有相應(yīng)的指令/數(shù)據(jù)包包裝算法子模塊和解包算法子模塊。
5、根據(jù)權(quán)利要求3所述的多元素分析儀系統(tǒng),其特征是其中校驗位以從起始符開始的每位數(shù)據(jù)與相臨位數(shù)據(jù)按位取反相加而得,上位機(jī)/下位機(jī)發(fā)起通訊時,將數(shù)據(jù)按“起始符+指令/數(shù)據(jù)+終止符+校驗位”格式進(jìn)行打包,下位機(jī)/上位機(jī)接收后按形成校驗位的方法反操作實現(xiàn)解包。
6、根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的多元素分析儀系統(tǒng),其特征是下位機(jī)采集測試通道的數(shù)據(jù)時,對一個測試通道多次采樣,在結(jié)果中舍棄偏大和偏小的端值結(jié)果,對中間值求平均作為采樣的最終結(jié)果。
7、根據(jù)權(quán)利要求4所述的多元素分析儀系統(tǒng),其特征是下位機(jī)采集測試通道的數(shù)據(jù)時,對一個測試通道多次采樣,在結(jié)果中舍棄偏大和偏小的端值結(jié)果,對中間值求平均作為采樣的最終結(jié)果。
8、根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的多元素分析儀系統(tǒng),其特征是上位機(jī)使用ACCESS和ODBC數(shù)據(jù)庫管理和維護(hù)標(biāo)準(zhǔn)曲線和分析結(jié)果數(shù)據(jù),下位機(jī)采用51系列單片機(jī),模/數(shù)轉(zhuǎn)換模塊為一片ICL?7135?A/D芯片,對連接的所有測試通道不間斷依次采樣,各測試通道間采用4051數(shù)字開關(guān)進(jìn)行切換。
9、根據(jù)權(quán)利要求4所述的多元素分析儀系統(tǒng),其特征是上位機(jī)使用ACCESS和ODBC數(shù)據(jù)庫管理和維護(hù)標(biāo)準(zhǔn)曲線和分析結(jié)果數(shù)據(jù),下位機(jī)采用51系列單片機(jī),模/數(shù)轉(zhuǎn)換模塊為一片ICL?7135?A/D芯片,對連接的所有測試通道不間斷依次采樣,各測試通道間采用4051數(shù)字開關(guān)進(jìn)行切換。
10、根據(jù)權(quán)利要求6所述的多元素分析儀系統(tǒng),其特征是上位機(jī)使用ACCESS和ODBC數(shù)據(jù)庫管理和維護(hù)標(biāo)準(zhǔn)曲線和分析結(jié)果數(shù)據(jù),下位機(jī)采用51系列單片機(jī),模/數(shù)轉(zhuǎn)換模塊為一片ICL?7135?A/D芯片,對連接的所有測試通道不間斷依次采樣,各測試通道間采用4051數(shù)字開關(guān)進(jìn)行切換。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





