[發明專利]壓鑄件熒光檢驗工藝方法

無效

• 申請號: 200810243035.2
• 申請日: 2008-11-28
• 公開（公告）號: CN101762601A
• 公開（公告）日: 2010-06-30
• 發明（設計）人: 施小弟;施國春;王澤民;劉洪軍;周興寶;蒲朝輝;施再明
• 申請（專利權）人: 吳江市天龍機械有限公司
• 主分類號: G01N21/91
• 分類號: G01N21/91
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

所屬技術領域

本發明涉及一種熒光檢驗工藝方法，尤其適用于壓鑄件的熒光檢驗。

背景技術

熒光檢驗是檢查鑄件表面缺陷常采用的方法。它是一種用于發現微小的不連貫性缺陷(如裂紋、冷隔等)的靈敏的非破壞性方法。熒光檢驗是利用水銀石英燈所發出的紫外線來激發發光材料，使其發出可見光以便進行觀察。在熒光檢驗中有多種方法，本發明公布一種經過本公司使用較為成熟的熒光檢驗工藝方法。

發明內容

本發明提供一種熒光檢驗工藝方法，滿足熒光檢驗的實際使用。

本發明的有益效果是，按照本發明工藝方法，可成熟而穩定地進行鑄件微小缺陷檢驗。

具體實施方式

1、鑄件在檢驗前，清除油垢和油跡。

2、將鑄件投入已攪拌好并加熱至50℃的熒光液中，保持一定時間，時間根據鑄件的壁厚、復雜程度而定，使熒光液充分滲透到鑄件表面的缺陷內，然后，將鑄件從槽中取出，濾干。

3、去除表面的熒光液，并干燥鑄件。

4、鑄件表面涂顯像粉。將已干燥好的鑄件放入已配制好的顯像粉槽中，并不斷輕輕晃動，以使顯像粉能良好地附著在鑄件上。

5、在水銀石英燈下，觀察鑄件。如鑄件有缺陷時，由于熒光液及顯像粉的作用，便在缺陷處出現強烈熒光，根據發光程度，可判定缺陷的大小，需記錄時，還可進行照相。