[發明專利]一種電路放電檢測系統

有效

• 申請號: 200810242718.6
• 申請日: 2008-12-26
• 公開（公告）號: CN101458300A
• 公開（公告）日: 2009-06-17
• 發明（設計）人: 徐毅剛;李東躍
• 申請（專利權）人: 無錫市星迪儀器有限公司
• 主分類號: G01R31/308
• 分類號: G01R31/308
• 代理公司: 無錫市大為專利商標事務所
• 代理人: 曹祖良

1.一種電路放電檢測系統，包括紫外輻射成像系統、可見光成像系統、圖像融合處理系統(6)和熱成像系統(15)，其特征是：利用所述紫外輻射成像系統、所述可見光成像系統和所述熱成像系統(15)同時對被測電路(2)進行成像觀測；所述紫外輻射成像系統捕獲放電火花(1)所發出的紫外輻射，產生并輸出放電火花圖像(8)；所述可見光成像系統捕獲并輸出被測電路的實體圖像(5)；所述熱成像系統(15)獲取被測電路熱輻射強度分布圖(16)；所述熱成像系統(15)獲取的被測電路熱輻射強度分布圖(16)與所述紫外成像系統獲取的放電火花圖像(8)、所述可見光成像系統獲取的被測電路的實體圖像(5)一同輸入到所述圖像融合處理系統(6)，由所述圖像融合處理系統(6)對上述放電火花圖像(8)、被測電路的實體圖像(5)及被測電路熱輻射強度分布圖(16)的數據進行處理與融合計算，從而獲得包含了標識出放電火花圖像(8)及其位置與被測電路溫度分布梯度的被測電路圖像(17)；

其中，所述紫外輻射成像系統用于在全光譜輻射背景中去除紫外輻射以外的部分，并將放電火花產生的微弱紫外輻射放大并成像，所述紫外輻射成像系統包括紫外物鏡(11)、位于所述紫外物鏡后面的紫外像增強器(10)及圖像采集系統(9)；所述紫外物鏡(11)捕獲放電火花(1)所發出的紫外輻射，經所述紫外像增強器(10)增強后，由所述圖像采集系統(9)產生并輸出放電火花圖像(8)；

所述可見光成像系統包括物鏡和位于所述物鏡后面的可見光攝像系統(4)；所述物鏡捕獲被測電路(2)的圖像，經所述可見光攝像系統(4)產生并輸出被測電路的實體圖像(5)；所述物鏡為所述紫外輻射成像系統中的同一所述紫外物鏡(11)，在所述紫外物鏡(11)的后面與所述可見光攝像系統(4)之間設置一個分光鏡(12)；利用所述分光鏡(12)將除紫外波段以外的光譜輻射成像光束反射至所述可見光攝像系統(4)；

在所述可見光攝像系統(4)上設置可見像增強器(13)，利用所述可見像增強器(13)對圖像信號的放大功能捕獲并輸出黑暗環境中被測電路的實體圖像(5)。