[發明專利]用于平板顯示器的缺陷確認裝置及其操作方法

有效

• 申請號: 200810241000.5
• 申請日: 2008-12-24
• 公開（公告）號: CN101718828A
• 公開（公告）日: 2010-06-02
• 發明（設計）人: 彭欽華;劉君民;王鵬年
• 申請（專利權）人: 四川虹歐顯示器件有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;G01N27/02
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛

技術領域

本發明涉及平板顯示器領域，具體而言，涉及用于平板顯示器 的缺陷確認裝置及其操作方法。

背景技術

在平板顯示器(例如等離子顯示器)面板的電極制作過程中， 不可避免地會產生一些短路和斷路缺陷。為控制產品質量，提高產 品良品率，就需要對這些缺陷進行檢查和修復。電極缺陷的檢查修 復系統主要包括：外觀檢查、缺陷復查、缺陷修復及通斷檢查。外 觀檢查是從外觀上對圖形進行缺陷檢查，而通斷檢查則是從電氣性 能上對圖形進行缺陷檢查，兩者相輔相成，確保缺陷檢出的效率和 準確率。

在工藝流程上，一般是先進行外觀檢查和缺陷復查。然后針對 缺陷復查結果，對需要進行修復的缺陷進行激光切割修復或漿料涂 敷修復。在完成所有缺陷的修復后，需進行通斷檢查，對外觀檢查 進行補充，以防有一些比較特殊的缺陷在外觀檢查中沒有被檢查出 來。如果在通斷檢查中仍有缺陷存在，則需對這些缺陷也進行修復。 修復完后，再次進行通斷檢查。如此反復，直到通斷檢查結果為沒 有缺陷為止。

由于通斷檢查的結果，只能顯示缺陷的X坐標，對Y坐標無 法確認，這使得在進行缺陷修復前需對缺陷的具體位置進行確認。

目前采用的主要方法是在修復機上進行缺陷的具體位置確認。 依據通斷檢查的顯示結果，將修復頭移動到缺陷所在的端子區域； 然后人工計數，找到缺陷的X坐標后，手動控制搖桿使修復頭沿著 缺陷所在電極線移動，直到找到缺陷為止。這種方法最大的缺點是 在進行缺陷修復前，需花大量時間來找到缺陷具體位置，不滿足量 產線對高效率和節拍時間的要求。在正常情況下，外觀檢查機和復 查機的節拍時間是固定的，理論上修復機也應在此節拍時間內至少 完成1張屏的缺陷修復。

在實現本發明過程中，發明人發現修復機要同時進行外觀檢查 機傳過來的缺陷和通斷檢查機傳過來的缺陷的修復，對效率的要求 很高。如果要花時間進行缺陷位置確認，顯然會大大降低修復機的 效率。

發明內容

本發明旨在提供一種用于平板顯示器的缺陷確認裝置及其操 作方法，能夠解決現有技術用修復機確認缺陷降低生產效率的問 題。

在本發明的實施例中，提供了一種用于平板顯示器的缺陷確認 裝置，包括：掃描單元，用于在移動過程中對玻璃基板表面進行照 相，以獲取電極圖像；顯示終端，用于顯示電極圖像；光源系統， 包括對掃描單元提供照明；控制盤，用于控制掃描單元的移動、光 源系統的調節、以及顯示終端的圖像處理。

可選的，在上述的缺陷確認裝置中，掃描單元包括：移動機構， 用于移動；探頭，用于照相。

可選的，在上述的缺陷確認裝置中，移動機構包括：橫梁，用 于安裝固定掃描探頭與光源系統，并用于滑塊滑動的導軌；滑塊， 其可沿橫梁移動，用于安裝探頭和光源系統；驅動裝置，用于在控 制盤的控制下驅動滑塊；連動裝置，其連接滑塊與驅動裝置。

可選的，在上述的缺陷確認裝置中，光源系統包括：落射照明 單元，用于對掃描單元提供落射照明；反射照明單元，用于對掃描 單元提供反射照明。

在本發明的實施例中，還提供了上述的缺陷確認裝置的操作方 法，包括以下步驟：掃描單元在移動過程中對玻璃基板表面進行照 相，以獲取電極圖像，其中，光源系統對掃描單元提供照明；顯示 終端實時顯示電極圖像；通過觀察顯示終端上的電極圖像來確定缺 陷位置。

可選的，在上述的操作方法中，掃描單元在移動過程中對玻璃 基板表面進行照相具體包括：接收通斷檢查機傳過來的缺陷信息， 缺陷信息包含：缺陷類別、數量、X坐標；依據此缺陷信息，找到 缺陷所在的端子區域；依X坐標將掃描單元移動到缺陷所在的電極 線上；掃描單元延電極線移動照相。

可選的，在上述的操作方法中，缺陷為斷路缺陷，依X坐標將 掃描單元移動到缺陷所在的電極線上具體包括：電極線位置取X坐 標數據的一半。