[發(fā)明專利]利用全反射角的改變進(jìn)行傳感的折射率傳感方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810240936.6 | 申請(qǐng)日: | 2008-12-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101762563A | 公開(公告)日: | 2010-06-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 於豐;闞強(qiáng);許興勝;王春霞;劉宏偉;陳弘達(dá) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/41 | 分類號(hào): | G01N21/41 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 周國城 |
| 地址: | 100083 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 利用 反射角 改變 進(jìn)行 傳感 折射率 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光傳感技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種利用全反射角的改變進(jìn)行傳感的折射率傳感方法。
背景技術(shù)
光傳感激技術(shù)是目前發(fā)展與研究的一個(gè)重要方向。光傳感技術(shù)主要原理是當(dāng)系統(tǒng)中目標(biāo)參數(shù)發(fā)生變化,比如溫度變化、壓力變化、折射率變化等,光波的特性也隨著發(fā)生變化,利用光波的這種變化來檢測(cè)目標(biāo)參數(shù)的變化。利用光波的角度特性進(jìn)行折射率傳感是一種常見的傳感方法,這類方法主要有表面等離子體共振傳感,光波導(dǎo)傳感等。
目前國際上有很多利用角度進(jìn)行光傳感的文獻(xiàn)報(bào)道和專利:[1]HomolaJ;Yee?SS;Gauglitz,G.?Source?Surface?plasmon?resonance?sensors:review.SENSORS?AND?ACTUATORS?B-CHEMICAL?Volume?54,JAN?25?1999.[2]MALMQVIST?M.BIOSPECIFIC?INTERACTION?ANALYSIS?USINGBIOSENSOR?TECHNOLOGY.NATURE?Volume?361,JAN?14?1993.[3]William?J.H.Bender,Raymond?E.Dessy.SURFACE?PLASMONRESONANCE?SENSOR.United?States?Patent.Patent?Number:5,327,225.Date?of?Patent:Jul.5,1994.[4]Shuichi?Okubo,Yasushi?Nagasawa,KazunariNaya.TOTAL-REFLECTION?TYPE?REFRACTIVE?INDEX?SENSOR.United?Stated?Patent.Patenti?Numbers:5,565,978.Date?of?Patent:Oct.15,1996
現(xiàn)有的角度傳感方法,靈敏度高,但是存在以下問題:其物理過程復(fù)雜:表面等離子體共振傳感需要實(shí)現(xiàn)光波與表面等離子體波的共振才能進(jìn)行傳感,而波導(dǎo)傳感存在耦合的問題與模式問題;角度變化與折射率變化之間關(guān)系復(fù)雜,這樣不利用傳感的實(shí)現(xiàn);傳感器實(shí)現(xiàn)與測(cè)量比較復(fù)雜:表面等離子體共振傳感對(duì)金屬的介電常數(shù)特行有一定要求,實(shí)際中只有金、銀、銅等有限的金屬可供選擇;金屬的厚度一般要求在50-100nm之間,對(duì)光波的波長與偏振態(tài)都有一定的限定,這對(duì)傳感的實(shí)現(xiàn)帶來了很大的困難;光波導(dǎo)傳感對(duì)光波導(dǎo)本身的材料與尺寸制作有很高的要求。
發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問題
有鑒于此,本發(fā)明的主要目的在于提供一種利用全反射角的改變進(jìn)行傳感的折射率傳感方法,以簡化測(cè)試過程,提高傳感精度和靈敏度。
(二)技術(shù)方案
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明提供了一種利用全反射角的改變進(jìn)行傳感的折射率傳感方法,該方法包括:
步驟1、光從折射率為N的材料入射至折射率為n1的傳感物質(zhì)時(shí),測(cè)出在不同入射角時(shí)的反射率,得到反射數(shù)據(jù)與曲線,其中N>n1;
步驟2、對(duì)反射率求角度微分,得到反射率角度微分?jǐn)?shù)據(jù)與曲線,從反射率角度微分?jǐn)?shù)據(jù)與曲線中提取出全反射角θ1;
步驟3、光從折射率為N的材料入射至折射率為n1+Δn的傳感物質(zhì)時(shí),測(cè)出不同入射角時(shí)的反射率,得到反射數(shù)據(jù)與曲線,其中N>n1+Δn;
步驟4、對(duì)反射率求角度微分,得到反射率角度微分?jǐn)?shù)據(jù)與曲線,從反射率角度微分?jǐn)?shù)據(jù)與曲線中提取出全反射角θ2;
步驟5、根據(jù)公式Δn=N(sin(θ1)-sin(θ2))計(jì)算出折射率的變化。
上述方案中,步驟1和步驟3中所述的光,其波長處在對(duì)于折射率為N的材料透明的波段,光的偏振態(tài)選擇TE模式或者TM模式。
上述方案中,步驟2中所述對(duì)反射率求角度微分時(shí),采用簡單差分方法,將兩個(gè)采樣點(diǎn)反射率數(shù)據(jù)之差除以采樣點(diǎn)角度間隔得到微分值。
上述方案中,所述步驟2和步驟4中,采用求反射率角度微分的方法得到反射率角度微分曲線。
上述方案中,所述求反射率角度微分的方法采用的簡單差分方法,將兩個(gè)采樣點(diǎn)反射率數(shù)據(jù)之差除以采樣點(diǎn)角度間隔得到微分值。
上述方案中,所述步驟2和步驟4中所述提取出全反射角,具體采用以下方式:
從數(shù)據(jù)中找到反射率角度微分值最大的點(diǎn),該點(diǎn)對(duì)應(yīng)的角度就是全反射角;或者
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所,未經(jīng)中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200810240936.6/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 請(qǐng)求沒有進(jìn)行IMS注冊(cè)的用戶進(jìn)行注冊(cè)的方法
- 對(duì)要進(jìn)行紋理操作的像素進(jìn)行分組
- 對(duì)餐盤進(jìn)行溫度調(diào)節(jié)和進(jìn)行分配的獨(dú)立小車
- 對(duì)圖像進(jìn)行編碼
- 對(duì)任務(wù)進(jìn)行調(diào)度
- 對(duì)任務(wù)進(jìn)行調(diào)度
- 蛋糕(甜蜜進(jìn)行時(shí))
- 對(duì)定位輔助數(shù)據(jù)進(jìn)行分級(jí)和分組以進(jìn)行廣播
- 對(duì)物體進(jìn)行分離和定向以進(jìn)行供料
- 對(duì)工件進(jìn)行評(píng)價(jià)以進(jìn)行加工的方法





