[發明專利]液晶顯示器公共電極線斷線不良的檢測方法

有效

• 申請號: 200810240378.3
• 申請日: 2008-12-18
• 公開（公告）號: CN101750765A
• 公開（公告）日: 2010-06-23
• 發明（設計）人: 何祥飛;彭志龍
• 申請（專利權）人: 北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/02
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 曲鵬

技術領域

本發明涉及一種液晶顯示器的檢測方法，特別是一種液晶顯示器公共電 極線斷線不良的檢測方法。

背景技術

液晶顯示器(Liquid?Crystal?Display，簡稱LCD)具有體積小、功耗低、 無輻射等特點，現已占據了平面顯示領域的主導地位。液晶顯示器的主體結 構包括對盒在一起并將液晶夾設其間的陣列基板和彩膜基板，陣列基板上形 成有提供掃描信號的柵線、提供數據信號的數據線、形成像素點的像素電極 以及提供公共電壓的公共電極線，彩膜基板上形成有黑矩陣和彩色樹脂。

為保證產品質量，陣列基板和彩膜基板對盒形成液晶顯示器后需要進行 灰度畫面檢測，以發現有關缺陷并進行相應維修。液晶顯示器的缺陷包括像 素點不良和斷線不良，而斷線不良又分為柵線斷線不良、數據線斷線不良和 公共電極線斷線不良。實際使用表明，現有技術的畫面檢測方法很難檢測出 公共電極線斷線不良，其后果不僅浪費了后續工藝的原材料，而且會在客 戶使用中造成品質下降。

圖10為現有技術陣列基板上公共電極線的結構示意圖，是一種典型的 存儲電容在公共電極線上(Cst?On?Common)的陣列基板結構，且公共電極 線為網狀結構。現有技術中，公共電極線網狀結構是普遍采用的一種結構， 特別是尺寸大的產品中，為了公共電極信號更均一，因此采用公共電極從 兩端輸入的形式。可以想見，這種網狀結構的公共電極線上的任意點的電 壓均等于外部施加在公共電極線上的公共電極電壓Vcom。如圖10所示， 公共電極線1與像素電極2交疊，在每個交疊處形成存儲電容。工作時， 公共電極電壓Vcom與施加在像素電極上的像素電極電壓Vpx1不等，由于 存儲電容的存在，根據電容效應，將有一部分電荷充向該存儲電容，使得 沿著公共電極線上的電壓有所變化。當公共電極線上某點發生斷線時，斷 線處破壞了公共電極線兩端的傳輸機制，相對于其它沒有發生斷線的公共 電極線，發生斷線的公共電極線上的公共電極信號將產生差異。具體地說， 對于一個公共電極線方向上有m個像素(m為正整數)的液晶屏幕產品，假定 某一條公共電極線在第n像素(n為正整數，n＜m)處發生斷線，即這條公共電極 線斷線兩邊的信號都是單端傳輸的，其中較長的一端的負載是n(假設m/2＜n) 個像素的長度，而正常公共電極線由于信號是兩端傳輸機制，其兩邊的負載都 可以理解為m/2；因此斷線的公共電極線和正常公共電極線之間就產生了差 異。但實際上，在現有的各類灰度畫面檢測下，公共電極線斷線引起的檢 測畫面差異非常小，甚至無法識別。

發明內容

本發明的目的是提供一種液晶顯示器公共電極線斷線不良的檢測方法， 有效解決現有技術無法檢測出公共電極線斷線不良的技術缺陷。

為了實現上述目的，本發明提供了一種液晶顯示器公共電極線斷線不良 的檢測方法，包括：

步驟1、向液晶顯示器加載檢測畫面，所述檢測畫面中包括至少一個公 共電極線斷線檢測畫面，所述公共電極線斷線檢測畫面為：在同一幀檢測畫 面內，一個極性像素電極所對應的存儲電容的電壓差大于另一個極性像素電 極所對應的存儲電容的電壓差；

步驟2、在液晶顯示器顯示所述公共電極線斷線檢測畫面時，檢測所述 公共電極線斷線檢測畫面是否出現水平漸變的黑線或白線，出現水平漸變的 黑線或白線時，判定液晶顯示器存在公共電極線斷線不良。

所述公共電極線斷線檢測畫面可以為：在常白模式下的同一幀檢測畫面 內，正極性像素電極施加有第一像素電極電壓，負極性像素電極施加有第二 像素電極電壓，且|第一像素電極電壓-公共電極電壓|＞|第二像素電極電壓- 公共電極電壓|。

所述公共電極線斷線檢測畫面也可以為：在常白模式下的同一幀檢測畫 面內，負極性像素電極施加有第一像素電極電壓，正極性像素電極施加有第 二像素電極電壓，且|第一像素電極電壓-公共電極電壓|＞|第二像素電極電壓 -公共電極電壓|。

所述公共電極線斷線檢測畫面還可以為：在常黑模式下的同一幀檢測畫 面內，正極性像素電極施加有第二像素電極電壓，負極性像素電極施加有第 一像素電極電壓，且|第一像素電極電壓-公共電極電壓|＞|第二像素電極電壓 -公共電極電壓|。