[發(fā)明專利]渦輪葉片CT檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810232864.0 | 申請(qǐng)日: | 2008-10-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101435784A | 公開(公告)日: | 2009-05-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曾理;李林升;悅秀娟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 重慶大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N23/18 | 分類號(hào): | G01N23/18;G01N23/04 |
| 代理公司: | 北京同恒源知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 謝殿武 |
| 地址: | 400044重*** | 國(guó)省代碼: | 重慶;85 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 渦輪 葉片 ct 檢測(cè) 裝置 及其 方法 | ||
1.一種渦輪葉片CT檢測(cè)裝置,包括工作臺(tái)(1)、射線發(fā)生裝置(12)、數(shù) 據(jù)采集裝置(13)和控制及圖像處理系統(tǒng)(14),所述射線發(fā)生裝置(12)和數(shù) 據(jù)采集裝置(13)與控制及圖像處理系統(tǒng)(14)相連,其特征在于:還包括開 合式旋轉(zhuǎn)夾具,所述開合式旋轉(zhuǎn)夾具包括旋轉(zhuǎn)臺(tái)(2)、旋轉(zhuǎn)臺(tái)驅(qū)動(dòng)裝置(17)、 拉桿(8)、拉桿驅(qū)動(dòng)裝置和分布在拉桿周圍的至少一個(gè)擺桿(6)以及夾持體(3), 所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)(2)轉(zhuǎn)動(dòng)配合設(shè)置在工作臺(tái)(1)上,可由旋轉(zhuǎn)臺(tái)驅(qū)動(dòng)裝置(17) 驅(qū)動(dòng)相對(duì)工作臺(tái)(1)轉(zhuǎn)動(dòng);所述夾持體包括U形塊(31)、夾緊彈簧(33)和 夾緊桿(32),所述夾緊桿(32)間隙配合穿過(guò)U形塊(31)一側(cè)邊,端部設(shè)置 環(huán)形凸臺(tái),夾緊彈簧(33)套在夾緊桿(32)上一端靠在夾緊桿(32)穿過(guò)U 形塊(31)的側(cè)邊內(nèi)側(cè),另一端緊靠環(huán)形凸臺(tái)并對(duì)其施加預(yù)緊力,使待檢渦輪 葉片(4)夾在環(huán)形凸臺(tái)端部和U形塊(31)另一側(cè)邊之間,所述夾持體(3) 用于夾持待檢渦輪葉片(4),夾持體(3)可相對(duì)于旋轉(zhuǎn)臺(tái)(2)繞一圓心(5) 徑向擺動(dòng);所述拉桿(8)可由拉桿驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)沿軸向往復(fù)運(yùn)動(dòng);
所述擺桿(6)一端間隙配合穿過(guò)夾持體(3),另一端與拉桿(8)鉸接構(gòu) 成平面搖桿機(jī)構(gòu);所述射線發(fā)生裝置(12)和數(shù)據(jù)采集裝置(13)固定設(shè)置在 工作臺(tái)(1)上,且射線發(fā)生裝置(12)和數(shù)據(jù)采集裝置(13)位于旋轉(zhuǎn)臺(tái)兩側(cè) 并沿旋轉(zhuǎn)臺(tái)徑向相對(duì)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦輪葉片CT檢測(cè)裝置,其特征在于:所述拉桿 驅(qū)動(dòng)裝置為氣壓或液壓驅(qū)動(dòng)裝置,包括缸體(16)和活塞(15),所述拉桿(8) 與活塞(15)以軸向固定圓周方向可轉(zhuǎn)動(dòng)的方式配合。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的渦輪葉片CT檢測(cè)裝置,其特征在于:所述旋轉(zhuǎn) 臺(tái)(2)上固定設(shè)置基座(11),所述夾持體(3)通過(guò)銷軸結(jié)構(gòu)鉸接在基座(11) 上,可相對(duì)于旋轉(zhuǎn)臺(tái)(2)徑向擺動(dòng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的渦輪葉片CT檢測(cè)裝置,其特征在于:所述拉桿 (8)與活塞(15)之間通過(guò)一個(gè)推力軸承(9)和一個(gè)角接觸軸承(10)以軸 向固定圓周方向可轉(zhuǎn)動(dòng)的方式配合。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的渦輪葉片CT檢測(cè)裝置,其特征在于:所述夾緊 桿(32)上固定設(shè)置有手柄(34),所述手柄設(shè)置在U形塊(31)外側(cè)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的渦輪葉片CT檢測(cè)裝置,其特征在于:所述數(shù)據(jù) 采集裝置(13)為圓弧形面陣探測(cè)器,所述工作臺(tái)(1)位于圓弧形面陣探測(cè)器 的內(nèi)側(cè)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的渦輪葉片CT檢測(cè)裝置,其特征在于:所述旋轉(zhuǎn) 臺(tái)驅(qū)動(dòng)裝置(17)為伺服電機(jī)。
8.一種利用權(quán)利要求1所述的渦輪葉片CT檢測(cè)裝置檢測(cè)渦輪葉片的方法, 其特征在于:包括以下步驟:
a.裝夾待檢測(cè)渦輪葉片,啟動(dòng)射線發(fā)生裝置、數(shù)據(jù)采集裝置、控制及圖像 處理系統(tǒng);
b.射線發(fā)生裝置扇形束掃描待檢測(cè)渦輪葉片,旋轉(zhuǎn)臺(tái)旋轉(zhuǎn)一周,得到扇形 束所對(duì)截面的投影數(shù)據(jù),并存入計(jì)算機(jī);
c.根據(jù)b步驟所得的灰度投影數(shù)據(jù)通過(guò)濾波反向投影法重建待檢測(cè)渦輪 葉片的CT圖像fij,其中i=1,2…,B,i代表圖像的行坐標(biāo),B代表圖像的行 數(shù),j=1,2…,C,j代表圖像的列坐標(biāo),C代表圖像的列數(shù);
d.根據(jù)步驟c所得的圖象fij進(jìn)行模擬平行束投影變換,變換公式為:
e.根據(jù)步驟d所得的投影數(shù)據(jù)矩陣Ri′j′對(duì)每行進(jìn)行高斯小波變換,計(jì)算式 為:
其中t為投影數(shù)據(jù)矩陣Ri′j′的元素,δ為標(biāo)準(zhǔn)差,Ψ(t)為小波系數(shù),
得到小波變換系數(shù)矩陣其中i1=1,2…,B1,i1代表系數(shù)矩陣的行坐標(biāo), B1代表系數(shù)矩陣的行數(shù),j1=1,2…,C1,j1代表系數(shù)矩陣的列坐標(biāo),C1代表系 數(shù)矩陣的列數(shù);
f.根據(jù)步驟e所得的小波變換系數(shù)矩陣選取行范數(shù)最大的行坐標(biāo)k, 利用平行束投影方向與圖像x軸之間的夾角關(guān)系β=k×180°/C,可得裂紋方向,其 中β表示裂紋的方向角,是裂紋與x軸的夾角;
g.根據(jù)步驟e所得的小波變換系數(shù)矩陣和步驟f所得的行坐標(biāo)k,取投 影方向k所在的行向量其中j1=1,2…C1,在行向量中尋找小波變換系 數(shù)模最小值點(diǎn)所在的列坐標(biāo)p,以p為界,將行向量分成兩個(gè)向量,即其中j2=1,2…p-1,和其中j3=p+1,p+2…C1,再分別找出這兩個(gè)向量中小 波變換系數(shù)模極大值所在的列坐標(biāo)q1、q2,最后以β為方向角,分別通過(guò)(q1cos β,q1sinβ),(q2cosβ,q2sinβ)得左右邊界直線段l1、l2;
h.采用步驟g所述的方法確定上下邊界直線段l3、l4的位置;
i.l1、l3、l2、l4圍成的區(qū)域標(biāo)記為F1,定義裂紋區(qū)域左右邊界逼近直線段 為l5、l6,設(shè)定間距W1,在區(qū)域F1內(nèi)確定與直線段l1間距為W1的平行直線段 l1′,計(jì)算由l1l3?l1′l4圍成的矩形M1的平均灰度H2,并在直線段l1′右側(cè)取間 距為W1的平行直線段l2′,計(jì)算由l1′l3l2′l4圍成的矩形M2的平均灰度H3, 設(shè)定閾值T2,當(dāng)|H2-H3|>T2時(shí),l2′即為裂紋區(qū)域左邊界逼近直線段l5,否則 在直線段l2′右側(cè)取間距為W1的平行直線段l3′,確定矩形M3,M3的平均灰 度為H4,直至確定直線段ln′,矩形區(qū)域Mn,并且|Hn-Hn+1|>T2,ln′即為裂 紋區(qū)域左邊界逼近直線段l5,采用與確定l5相同的方法可得到裂紋區(qū)域右邊界逼 近直線段l6;
j.與步驟i方法相同,在區(qū)域F1內(nèi)確定上邊界逼近直線段l7和下邊界逼近 直線段l8,獲得由直線段l5l7l6l8圍成的裂紋區(qū)域;
k.由直線段l5l7l6l8圍成的裂紋區(qū)域標(biāo)記為F2,在區(qū)域F2內(nèi)平行直線l7確定 直線l9,直線l9將區(qū)域F2二等分,對(duì)每等分區(qū)域重復(fù)步驟d至j,設(shè)定閾值T3, 判斷兩個(gè)等分區(qū)域的裂紋區(qū)域面積之和與原區(qū)域裂紋區(qū)域面積之差的模是否大 于T3,若是則將兩個(gè)等分區(qū)域繼續(xù)等分,否則停止分割該區(qū)域;
l.計(jì)算步驟k中最后等分得到區(qū)域內(nèi)直線段l5以及直線段l7的長(zhǎng)度,計(jì)算 公式為:
其中(xst,yst)為直線段l5起點(diǎn)坐標(biāo),(xend,yend)為直線段l5終點(diǎn)坐標(biāo),為直線段l5上任取的點(diǎn)坐標(biāo),為直線段l5上與相鄰的點(diǎn)坐標(biāo),得到直線段l5長(zhǎng) 度為S1;采用相同方法,計(jì)算l7直線段長(zhǎng)度S2;根據(jù)區(qū)域F2,以S1為行數(shù)、S2為列數(shù),建立矩陣其中i5=1,2,...S1,i5代表區(qū)域F2的行;j5=1,2,...S2,j5代表區(qū)域F2的列;
m.根據(jù)步驟l所得的矩陣依次沿行向量進(jìn)行搜索,記錄行向量的列的 最大值的位置,作為裂紋骨架的位置;
n.設(shè)定梯度算子閾值T4,對(duì)矩陣每行,以裂紋骨架的位置為界將其分 成兩部分,對(duì)每個(gè)部分,以裂紋骨架的位置點(diǎn)為起點(diǎn),沿行向量的左方向采用 梯度算子進(jìn)行搜索,記錄梯度超過(guò)閾值T4的位置,得到裂紋的左邊緣位置,沿 行向量的右方向采用梯度算子進(jìn)行搜索,記錄梯度超過(guò)閾值T4的位置,得到裂 紋的右邊緣位置;
o.根據(jù)步驟n所得的左邊緣位置和右邊緣位置采用多項(xiàng)式擬合得到連續(xù)的 裂紋邊緣,得到裂紋區(qū)域F3;
p.根據(jù)步驟m所的裂紋骨架,計(jì)算裂紋長(zhǎng)度,裂紋長(zhǎng)度計(jì)算公式:
其中(xst,yst)為裂紋骨架起點(diǎn)坐標(biāo),(xend,yend)為裂紋骨架終點(diǎn)坐標(biāo),為裂紋骨架 任取的點(diǎn)坐標(biāo),為裂紋骨架上與相鄰的點(diǎn)坐標(biāo),S3為裂紋的長(zhǎng)度;
q.根據(jù)步驟o所得的裂紋區(qū)域F3,采用統(tǒng)計(jì)裂紋區(qū)域內(nèi)總像素個(gè)數(shù)的方法 得到裂紋面積;
r.根據(jù)步驟p所得的裂紋長(zhǎng)度和步驟q所得的裂紋面積,按公式W2=A/S3計(jì)算裂紋寬度,其中A為裂紋面積,S3為裂紋的長(zhǎng)度,W2為裂紋寬度;
s.重復(fù)步驟l至r,計(jì)算出最后各等分區(qū)域內(nèi)裂紋的長(zhǎng)度和寬度,對(duì)最后 各等分區(qū)域內(nèi)裂紋的長(zhǎng)度進(jìn)行累加得到裂紋的總長(zhǎng),對(duì)最后各等分區(qū)域內(nèi)裂紋 采用加權(quán)平均的方法,得到裂紋總的平均寬度,其中加權(quán)是以各區(qū)域裂紋長(zhǎng)度 占裂紋總長(zhǎng)的比例為權(quán);
t.通過(guò)夾具調(diào)整渦輪葉片與射線扇束之間的夾角增量Δα,重復(fù)步驟b至s, 綜合比較渦輪葉片不同角度在旋轉(zhuǎn)臺(tái)旋轉(zhuǎn)一周掃描所獲得的裂紋長(zhǎng)度和寬度, 比較旋轉(zhuǎn)臺(tái)不同角度旋轉(zhuǎn)一周所測(cè)得的裂紋長(zhǎng)度和寬度,取其最大值為最后測(cè) 得的裂紋長(zhǎng)度和寬度。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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