[發明專利]仿真系統中仿真結果的檢驗和狀態確定方法

無效

• 申請號: 200810227592.5
• 申請日: 2008-11-28
• 公開（公告）號: CN101430736A
• 公開（公告）日: 2009-05-13
• 發明（設計）人: 傅惠民;鄔文娟
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京永創新實專利事務所
• 代理人: 周長琪

1.仿真系統中仿真結果的檢驗和狀態確定方法，其特征在于如下步驟：

步驟一、對仿真結果進行檢驗；

結合小樣本的試驗結果，根據如下檢驗公式：

F=SA/mSE/(n-m)≥Fα(m,n-m)]]>

對仿真結果進行檢驗，若上式成立，則仿真結果不正確，即仿真結果未通過檢驗；反之，仿真結果正確，即通過檢驗，則結束判斷；

其中，m為總狀態數；n=Σi=1mni]]>為各狀態樣本量n_i之和，即總樣本量；α為顯著性水平；F_α(m，n-m)為F(m，n-m)分布的上α分位點；SA=Σi=1mniY‾i·2]]>為樣本組間平方和；SE=Σi=1mΣj=1ni(Yi,j-Y‾i·)2]]>為樣本組內平方和，即誤差平方和；Y‾i·=1niΣj=1niYi,j]]>為第i個狀態下的樣本平均值；Yij=Xij-μi′]]>為試驗結果X_ij與仿真結果之差；

步驟二、對仿真結果進行狀態確定；

若在步驟一中，仿真結果未通過檢驗，則根據如下狀態確定公式：

Fi=niY‾i·2/1SE/(n-m)≥Fα(1,n-m)]]>

對仿真結果進行狀態確定，若在某狀態下，上式成立，則該狀態下的仿真結果不正確；反之，則該狀態下的仿真結果正確；

其中，m為總狀態數；n=Σi=1mni]]>為各狀態樣本量n_i之和，即總樣本量；α為顯著性水平；F_α(1，n-m)為F(1，n-m)分布的上α分位點；SE=Σi=1mΣj=1ni(Yij-Y‾i·)2]]>為樣本組內平方和，即誤差平方和；Y‾i·=1niΣj=1niYij]]>為第i個狀態下的樣本平均值；Yij=Xij-μi′]]>為試驗結果X_ij與仿真結果之差；

步驟三、根據步驟二的狀態確定結果，針對仿真結果錯誤的狀態對仿真系統進行修改，重新仿真得到新的仿真結果，再次重復步驟一對新的仿真結果進行檢驗，如此循環操作，直到修改后的仿真系統的仿真結果通過步驟一的檢驗。