[發明專利]用于測試電路板的測試裝置和方法

有效

• 申請號: 200810223469.6
• 申請日: 2008-09-28
• 公開（公告）號: CN101685135A
• 公開（公告）日: 2010-03-31
• 發明（設計）人: 許亮
• 申請（專利權）人: 四川虹歐顯示器件有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 尚志峰

技術領域

本發明涉及一種測試裝置和方法，更具體地，涉及一種用于測 試電路板的測試裝置和方法。

背景技術

在PDP電路的生產開發中，通常需要對產品進行測試以進行質 量控制，而目前PDP模組電路所采用的測試設備通常都結構復雜， 功能繁鎖，而且價格也非常昂貴，這在大規模的生產測試中會使成 本增加，影響產品的競爭力。PDP顯示模組控制電路板上面的控制 信號非常多，并且由于很多信號頻率很高，需要一個能同時檢測多 路信號，而且檢測速度快的測試裝置。

發明內容

本發明的目的是簡化用于測試電路板的測試裝置和方法，從而 簡化測試裝置的結構并降低了制造成本。

為實現上述目的，本發明一方面提出了一種用于測試電路板的 測試裝置，包括測試信號產生模塊，用于產生測試信號；測試信號 輸出模塊，與測試信號產生模塊連接，用于將測試信號輸出至待測 的電路板；待測信號接收模塊，用于接收來自電路板的待測信號； 信號處理模塊，與待測信號接收模塊連接，用于根據預定的標準信 號對待測信號進行處理，并產生處理結果信號；以及控制模塊，用 于控制測試信號產生模塊產生測試信號，以及接收來自信號處理模 塊的處理結果信號，處理結果信號用于判斷電路板是否合格：。

其中，所述信號處理模塊包括：比較單元，將待測信號與標準 信號進行比較，得到比較結果信號；以及計數單元，用于獲取比較 結果信號的脈沖信息。

此外，所述信號處理模塊還包括：采樣單元，設置在比較單元 后，采用頻率可變的時鐘對比較結果信號進行采樣，以過濾比較結 果信號中脈沖寬度小于時鐘脈沖的部分，并將過濾后的波形傳輸至 計數單元。

本發明另一方面提出了一種用于測試電路板的測試方法，包括 以下步驟：產生測試信號；將測試信號輸出至待測的電路板；接收 來自電路板的待測信號；根據預定的標準信號對待測信號進行處 理，并產生處理結果信號；接收處理結果信號，處理結果信號用于 判斷電路板是否合格。

其中，所述的根據預定的標準信號對待測信號進行處理包括以 下步驟：將待測信號與標準信號進行比較，得到比較結果信號；獲 取比較結果信號的脈沖信息。

此外，所述的根據預定的標準信號對待測信號進行處理還包括 以下步驟：在得到比較結果之后，采用頻率可變的時鐘對比較結果 信號進行采樣，以過濾比較結果信號中脈沖寬度小于時鐘脈沖的部 分。

本發明的有益效果是提供了更為簡化的電路設計和檢測流程， 并且，由于本發明的比較單元運用了諸如異或門的邏輯電路，故使 得該裝置可以測試較高頻率的信號。此外，本發明主要針對PDP 電路模組中信號數量種類較多而且數據速率最快的控制電路，該電 路的原理和方法同樣可以用來測試其它電路。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本發明的進一步理解，構成本申 請的一部分，本發明的示意性實施例及其說明用于解釋本發明，并 不構成對本發明的限定。在附圖中：

圖1是根據本發明示例性實施例的用于測試電路板的測試裝置 的框圖。

圖2是根據本發明示例性實施例的對待測信號和標準信號進行 比較和采樣的波形圖。

圖3是根據本發明示例性實施例的對經采樣的比較結果進行計 數的波形圖。

具體實施方式

下面將參照附圖，詳細地說明本發明的實施例。

圖1是根據本發明示例性實施例的用于測試電路板的測試裝置 的框圖。如圖1所示，本示例性實施例的測試裝置100可以采用以 下電路模塊：控制模塊101、測試信號產生模塊103、測試信號輸 出模塊105、待測信號接收模塊107、信號處理模塊109、和通信模 塊110等。

根據本發明，測試裝置100的測試信號發生模塊103產生一個 測試信號，通過測試信號輸出模塊105輸出到待測電路板上，待測 電路板對測試信號進行處理，即模擬正常工作時的狀態，并將處理 后的待測信號輸入回測試電路中，再通過待測信號接收模塊107輸 入到信號處理模塊109。信號處理模塊109通常存儲一個標準信號， 待測信號在測試裝置100中需要通過信號處理模塊109與標準信號 進行比較，并將比較結果進行分析，然后通過通信模塊110傳輸到 計算機上。其中，測試信號可以通過查表產生，即將預設好的多個 波形數據存儲在測試裝置100的內部存儲器中，測試的時候由測試 信號產生模塊103讀取該波形數據并將其輸出。