[發明專利]實現電壓檢測的方法及裝置

有效

• 申請號: 200810220131.5
• 申請日: 2008-12-18
• 公開（公告）號: CN101441230A
• 公開（公告）日: 2009-05-27
• 發明（設計）人: 李耀民
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G01R19/165
• 分類號: G01R19/165
• 代理公司: 廣州三環專利代理有限公司
• 代理人: 郝傳鑫;熊賢卿

1.一種實現電壓檢測的方法，其特征在于，包括：

產生電壓值逐次遞增或逐次遞減的參考電壓；

將所述參考電壓與待測電壓進行比較；若所述參考電壓值是逐次遞增的， 則在遞增的過程中，當參考電壓值由小于某路待測電壓值，變為大于該路待測 電壓值時，產生對應于該路待測電壓的觸發信號；若所述參考電壓值是逐次遞 減的，則在遞減的過程中，當參考電壓值由大于某路待測電壓值，變為小于該 路待測電壓值時，產生對應于該路待測電壓的觸發信號；

對所述觸發信號產生時刻的參考電壓值進行消除誤差處理，獲得所述待測 電壓值。

2.如權利要求1所述的實現電壓檢測的方法，其特征在于，所述產生電壓 值逐次遞增或逐次遞減的參考電壓，包括：

產生逐次變化的數字信號；

根據所述數字信號進行數模轉換，產生電壓值逐次遞增或者逐次遞減的參 考電壓。

3.一種電壓檢測裝置，其特征在于，包括：

參考電壓產生模塊，用于產生電壓值逐次遞增或逐次遞減的參考電壓；

電壓比較模塊，用于將所述參考電壓與待測電壓進行比較；

控制處理模塊，用于根據所述參考電壓與待測電壓的大小關系變化時刻的 參考電壓值進行計算，獲得所述待測電壓值；

所述參考電壓產生模塊與所述電壓比較模塊相連接、與所述控制處理模塊 相連接，所述控制處理模塊與所述電壓比較模塊相連接；

所述電壓比較模塊包括：

電壓比較器，用于接收所述參考電壓產生模塊輸出的參考電壓，將所述參 考電壓和待測電壓進行比較，在兩者的大小關系發生變化時，輸出高低電平翻 轉的觸發信號給所述控制處理模塊；其中，若所述參考電壓產生模塊輸出的參 考電壓值是逐次遞增的，則當逐次遞增的參考電壓由小于待測電壓，變為大于 該待測電壓值時，所述電壓比較器的輸出信號的電平發生翻轉；若所述參考電 壓產生模塊輸出的參考電壓值是逐次遞減的，則當逐次遞減的參考電壓由大于 待測電壓，變為小于該待測電壓值時，所述電壓比較器的輸出信號的電平發生 翻轉；

所述控制處理模塊包括：

待測電壓計算單元，用于獲取所述電壓比較模塊產生觸發信號時的參考電 壓值，對所述參考電壓值進行消除誤差處理，獲得所述待測電壓值。

4.如權利要求3所述的電壓檢測裝置，其特征在于，所述參考電壓產生模 塊包括：

數模轉換器，用于從所述控制處理模塊接收逐次變化的數字信號，根據所 述數字信號進行數模轉換，產生電壓值逐次遞增或者逐次遞減的參考電壓并輸 出給所述電壓比較模塊。

5.如權利要求3或4所述的電壓檢測裝置，其特征在于，所述控制處理模 塊還包括：

電壓調整信號產生單元，用于產生數字信號，控制所述參考電壓產生模塊 產生電壓值逐次遞增或者逐次遞減的參考電壓。