[發(fā)明專利]一種比較智能天線性能的測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810216452.8
• 申請日: 2008-09-28
• 公開（公告）號: CN101686089A
• 公開（公告）日: 2010-03-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 姬舒平;趙黎波;劉學(xué)斌
• 申請（專利權(quán)）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;H04W24/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種比較智能天線性能的測試方法，其特征在于：配置待比較的多幅智能天線為相同的發(fā)射功率、相同的高度、相同的下傾角和不同的廣播權(quán)值；將所述的待比較的多幅智能天線對應(yīng)的小區(qū)建立在基帶池上，所述的各小區(qū)配置為異頻相鄰小區(qū)，各小區(qū)運(yùn)行各自的基帶算法軟件，并關(guān)閉小區(qū)切換功能；同時(shí)測量待比較的多幅智能天線的性能參數(shù)。

2.如權(quán)利要求1所述的一種比較智能天線性能的測試方法，其特征在于，所述的性能參數(shù)包括主公共控制信道接受信號碼功率PCCPCH覆蓋值和賦形增益值。

3.如權(quán)利要求2所述的一種比較智能天線性能的測試方法，其特征在于，所述的PCCPCH覆蓋值的測量步驟還包括：通過基帶工具軟件選擇所述小區(qū)中的任一個(gè)并打開該小區(qū)，打開測量工具，使其駐留在該小區(qū)并鎖定該小區(qū)頻點(diǎn)；依次打開剩下的小區(qū)，通過所述的測試工具測量并記錄各智能天線的PCCPCH覆蓋值。

4.如權(quán)利要求2所述的一種比較智能天線性能的測試方法，其特征在于，所述的賦形增益值的測量步驟還包括：通過基帶工具軟件選擇所述小區(qū)中的任一個(gè)并打開該小區(qū)，配置該小區(qū)功率，功率值小于測試規(guī)范要求(n-1)*a，打開一部測量工具，使其駐留在該小區(qū)，撥打一種業(yè)務(wù)并保持，所述測量工具鎖定在該小區(qū)的頻點(diǎn)上；打開另一小區(qū)，配置該小區(qū)功率，功率值小于測試規(guī)范要?求(n-2)*a，打開另一部測量工具，使其駐留在該小區(qū)，撥打同一種業(yè)務(wù)并保持，所述另一部測量工具鎖定在該小區(qū)的頻點(diǎn)上；以此類推，直到最后一個(gè)小區(qū)的功率配置為測試規(guī)范要求的功率；配置前(n-1)個(gè)小區(qū)的功率為測試規(guī)范要求的值；通過所述的各測量工具測量并記錄各智能天線的值，并將記錄的所述各智能天線的值通過賦形增益算法計(jì)算出每副天線的賦形增益值，其中n為待比較的智能天線的副數(shù)，a為常數(shù)。

5.如權(quán)利要求2至4中的任一項(xiàng)所述的一種比較智能天線性能的測試方法，其特征在于，每測試完一次，關(guān)閉各小區(qū)，循環(huán)改變小區(qū)頻率，再進(jìn)行測試，直至每個(gè)小區(qū)都使用了其他所有小區(qū)的頻率；求出待比較智能天線對應(yīng)不同小區(qū)頻率時(shí)的PCCPCH覆蓋值和賦形增益值的平均值。

6.如權(quán)利要求3或4所述的一種比較智能天線性能的測試方法，其特征在于，所述待比較的多幅智能天線通過所述的基帶工具軟件將對應(yīng)的小區(qū)建立在基帶池上，所述的基帶工具軟件是單獨(dú)編制的，或者是已嵌入到NodeB的操作維護(hù)中心?OMCB和本地管理工具LMT軟件，軟件的形式是腳本形式或者是命令行形式。

7.如權(quán)利要求3或4所述的一種比較智能天線性能的測試方法，其特征在于，所述的測量工具是路測儀。

8.如權(quán)利要求1所述的一種比較智能天線性能的測試方法，其特征在于，所述的異頻按照各系統(tǒng)規(guī)定使用的頻點(diǎn)規(guī)劃。?

9.如權(quán)利要求4所述的一種比較智能天線性能的測試方法，其特征在于，所述a的取值為3db。?