[發明專利]磁阻元件以及磁存儲器無效
| 申請號: | 200810215232.3 | 申請日: | 2008-09-22 |
| 公開(公告)號: | CN101399313A | 公開(公告)日: | 2009-04-01 |
| 發明(設計)人: | 永瀬俊彥;西山勝哉;甲斐正;中山昌彥;長嶺真;天野實;吉川將壽;岸達也;與田博明 | 申請(專利權)人: | 株式會社東芝 |
| 主分類號: | H01L43/08 | 分類號: | H01L43/08;H01L27/22;H01F10/32;G11C11/16;G11C11/15 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人: | 許海蘭 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 磁阻 元件 以及 磁存儲器 | ||
1.一種磁電阻元件,其特征在于包括:
具有與膜面垂直的磁各向異性,且磁化方向被固定的第1參照層;
由磁性層與非磁性層交互地經過層疊的層狀結構組成,且具有與膜面垂直的磁各向異性,且磁化方向可以變化的記錄層;以及
被設置在上述第1參照層與上述記錄層之間,且由非磁性材料組成的第1中間層,
構成上述記錄層的磁性層包含:
與上述第1中間層相接的第1磁性層;以及
與上述第1中間層不相接的第2磁性層,
上述第1磁性層由包含鈷(Co)以及鐵(Fe)的合金組成,且其膜厚大于上述第2磁性層的膜厚。
2.按照權利要求1所述的磁電阻元件,其特征在于:
上述第1磁性層以及上述第2磁性層之中至少一層含有包含鈷(Co)及鐵(Fe)的合金Co100-x-Fex,其中x≥20at%。
3.按照權利要求1所述的磁電阻元件,其特征在于:
上述第1磁性層含有包含鈷(Co)、鐵(Fe)及硼(B)的合金(Co100-x-Fex)100-yBy,其中x≥20at%、0<y≤30at%。
4.按照權利要求1所述的磁電阻元件,其特征在于:
構成上述記錄層的非磁性層之中至少一層含有包含鈀(Pd)及金(Au)的合金。
5.按照權利要求1所述的磁電阻元件,其特征在于:
構成上述記錄層的非磁性層之中離上述第1中間層最遠的非磁性層包含金(Au)。
6.按照權利要求1所述的磁電阻元件,其特征在于:
上述第1中間層具有NaCl構造,且在(100)面上取向。
7.按照權利要求1所述的磁電阻元件,其特征在于:
上述第1中間層包含氧化鎂。
8.按照權利要求1所述的磁電阻元件,其特征在于:
上述第1磁性層具有立方晶構造或者正方晶構造,且在(100)面上進行取向。
9.按照權利要求1所述的磁電阻元件,其特征在于:
上述第1參照層包含具有L10構造的強磁性合金。
10.按照權利要求1所述的磁電阻元件,其特征在于:
上述第1參照層包含鐵(Fe)、鈷(Co)以及鎳(Ni)之中的一個以上的元素、和鈀(Pd)以及鉑(Pt)之中的一個以上的元素。
11.按照權利要求1所述的磁電阻元件,其特征在于還包括:
被設置在上述第1參照層與上述第1中間層之間的界面層,
上述界面層含有包含鈷(Co)、鐵(Fe)及硼(B)的合金(Co100-x-Fex)100-yBy,其中x≥20at%、0<y≤30at%。
12.按照權利要求11所述的磁電阻元件,其特征在于:
上述界面層具有立方晶構造或者正方晶構造,且在(100)面上進行取向。
13.按照權利要求1所述的磁電阻元件,其特征在于還包括:
具有與膜面垂直的磁各向異性,且磁化方向被固定的第2參照層;以及
被設置在上述第2參照層與上述記錄層之間,且由非磁性材料組成的第2中間層。
14.按照權利要求13所述的磁電阻元件,其特征在于:
上述第2中間層包含金(Au)。
15.按照權利要求13所述的磁電阻元件,其特征在于:
上述第1參照層以及上述第2參照層之中至少一層包含第3磁性層、第4磁性層、和在上述第3磁性層與上述第4磁性層之間所設置的第1非磁性層,
上述第3磁性層與上述第4磁性層相互反鐵磁耦合。
16.按照權利要求15所述的磁電阻元件,其特征在于:
上述第1非磁性層含有釕(Ru)、鋨(Os)、錸(Re)及銠(Rh)之中的一個元素組成的金屬、或者包含它們之中至少一個以上的元素的合金。
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