[發明專利]光學式谷物選別機

有效

• 申請號: 200810213310.6
• 申請日: 2008-08-22
• 公開（公告）號: CN101372007A
• 公開（公告）日: 2009-02-25
• 發明（設計）人: 今井猛;田中謙光
• 申請（專利權）人: 株式會社佐竹
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;B07C5/36
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司
• 代理人: 許靜

技術領域

本發明涉及一種光學式谷物選別機。該選別機用于從市場上流通的谷物中 選別作為谷物其外觀不正常的谷粒(不良谷粒)。更詳細地說，涉及如下的光 學式選別機，通過觀察該選別機具備的顯示裝置的顯示，能夠調整該選別機具 有的用于選別正常谷粒(外觀正常的谷粒)和不良谷粒的判斷靈敏度(在光學 式谷物選別機中設定的閾值)。

背景技術

在使谷物在市場上流通時，作為谷粒應該消除外觀不正常的不良谷粒來提 高商品價格。光學式谷物選別機既是為此而作出的，雖然關于選別的程度只要 作為商品價值沒有問題即可，但當利用光學式谷物選別機時，有時由于谷物的 種類、品種或者由于精制的程度，其選別的級別不適當。在這樣的情況下，選 別機的操作者需要一邊觀察選別機的選別狀態，一邊將選別機的選別程度調整 為目的狀態。

圖1是現有的光學式谷物選別機所采用的谷粒選別的原理。這是與進行了 碾米后的米粒有關的原理。該原理是：關于CCD線傳感器的信號等級，將背 景信號設為100％時，將75％以下的等級的谷粒作為具有淺的著色部分的谷 粒，并且將50％以下的谷粒作為具有深的著色部分的谷粒，將這些谷粒判斷 為不良谷粒。

具有淺的著色部分的谷粒是在谷粒的表面上具有一定面積以上的、能夠與 正常谷粒區分的著色淺的部分，其著色程度低(顏色淺)的谷粒；具有深的著 色部分的谷粒是在谷粒的表面上具有能夠與正常谷粒區分的顏色的部分，其著 色程度高(深)的谷粒。在為具有深的著色部分的谷粒時，與著色部分的面積 無關是具有深的著色的谷粒。另外，將具有淺的著色部分的谷粒和具有深的著 色部分的谷粒統稱為著色谷粒，是不良谷粒。

在現有的光學式谷物選別機中，所謂從正常谷粒中選別不良谷粒，是指將 背景的信號等級設為100％，將信號等級相對于正常谷粒降低了何種程度的谷 粒判斷為不良谷粒。這是調整在光學式谷物選別機中設定的閾值。但是，設定 的閾值的調整需要一邊觀察實際的選別狀態，一邊在示波器或觸摸面板的監視 器畫面上顯示光學式傳感器的信號，并且一邊觀察該信號一邊進行調整。

在特開2005-74412號公報中記載的光學式谷粒選別機將CCD線傳感器 等攝像單元拍攝的谷粒的圖像(與谷粒的外形有關的二進制數據)、具有淺的 著色部分的谷粒的著色部分的圖像(與該部分的形狀有關的二進制數據)、以 及具有深的著色部分的谷粒的著色部分的圖像(與該部分的形狀有關的二進制 數據)顯示在操作板的監視器上。然后，選別機的操作者一邊觀察實際選別谷 粒的狀態，一邊觀察該監視器畫面的顯示，從而可以判斷通過光學式谷粒選別 機是否如所期待的那樣判別了不良谷粒。

在特開2005-74412號公報中記載的光學式谷粒選別機所采用的方法在 需要判斷是否如所期待的那樣判別了不良谷粒時，改善了利用示波器的現有的 探查狀態。即，在特開2005-74412號公報中記載的光學式谷粒選別機的操作 者，與通過示波器的簡單的數據顯示不同，通過監視器畫面的顯示可以將光學 式谷粒選別機實際掌握的谷粒的外形或不良谷粒中的著色部分的大小和形狀 作為谷粒自身的實際圖像直接掌握，因此能夠容易地設定在光學式谷粒選別機 中設定的閾值，以便如所期待地那樣判別不良谷粒。

結果，操作者可以相比目前更高效地調整所述閾值，另外，該閾值的精度 也提高。

在特開2005-74412號公報中記載的光學式谷粒選別機所采用的方法的 優點在于，一邊在監視器畫面上觀察谷粒的實際圖像，一邊可以進行用于判別 正常谷粒和不良谷粒的閾值的調整。但是，由于圖像顯示技術上的問題，存在 難以判別在監視器上顯示的正常谷粒和不良谷粒的難點。即，在同一監視器畫 面上顯示很多谷粒的外形，并且與其重疊一同顯示不良谷粒的著色部份的形狀 和大小，因此監視器圖像煩雜，難以判別具有淺的著色部分的不良谷粒和具有 深的著色部分的不良谷粒，操作者有時會看漏。特別是必須要選別具有深的著 色部分的不良谷粒。由于看漏了具有深的著色部分的不良谷粒，在選別后從正 常谷粒群中發現不良谷粒這樣的情況是對選別作業的成果產生憂慮的原因。

另外，在特開2005-74412號公報中記載的光學式谷粒選別機的技術存在 對于操作者來說不明確用于從正常谷粒中分離不良谷粒的吹風噴嘴是否正確 地分離不良谷粒的問題。

發明內容