[發明專利]觸摸位置檢測方法及觸摸屏無效
| 申請號: | 200810204447.5 | 申請日: | 2008-12-08 |
| 公開(公告)號: | CN101751172A | 公開(公告)日: | 2010-06-23 |
| 發明(設計)人: | 陳悅;邱承彬 | 申請(專利權)人: | 上海天馬微電子有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/041 | 分類號: | G06F3/041 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 李麗 |
| 地址: | 201201 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 觸摸 位置 檢測 方法 觸摸屏 | ||
1.一種觸摸位置檢測方法,其特征在于,包括步驟:
觸摸一觸摸屏,所述觸摸屏包括具有至少兩個觸控電極的觸控工作層,所述觸摸使觸控電極與觸摸點間產生電流;
測量流過所述觸控電極的電流;
根據流過所述觸控電極的電流確定距離所述觸摸點最近的觸控電極;
根據流過距離所述觸摸點最近的觸控電極的電流和該觸控電極的位置,以及流過另一個觸控電極的電流和該觸控電極的位置,計算所述觸摸點的位置。
2.根據權利要求1所述的觸摸位置檢測方法,其特征在于,所述另一個觸控電極為:與所述距離觸摸點最近的觸控電極相鄰的觸控電極。
3.根據權利要求1所述的觸摸位置檢測方法,其特征在于,所述另一個觸控電極為距離所述觸摸點第二近的觸控電極。
4.根據權利要求1所述的觸摸位置檢測方法,其特征在于,所述計算所述觸摸點的位置的方法包括:
根據流過距離所述觸摸點最近的觸控電極的電流,以及流過所述另一個觸控電極的電流,計算所述觸摸點與距離觸摸點最近的觸控電極之間的第一電阻,以及所述觸摸點與所述另一個觸控電極之間的第二電阻;
利用所述第一電阻計算所述觸摸點與距離觸摸點最近的觸控電極之間的第一距離,利用所述第二電阻計算所述觸摸點與所述另一個觸控電極之間的第二距離;
根據所述第一距離和所述第二距離,以及距離觸摸點最近的觸控電極的位置,以及所述另一個觸控電極的位置,計算所述觸摸點在所述觸控工作層上的位置。
5.一種觸摸屏,其特征在于,包括:
觸控工作層,所述觸控工作層上設置有至少兩個觸控電極,所述觸控電極與觸控工作層上的任意一點導電相連;
電流檢測模塊,用于檢測流過所述觸控電極的電流;
存儲模塊,用于存儲觸控電極的位置信息;
比較模塊,用于根據流過所述觸控電極的電流確定距離所述觸控點距離最近的觸控電極;
計算模塊,用于根據所述觸控電極的位置信息、流過距離觸摸點最近的觸控電極的電流以及流過所述另一個觸控電極的電流,計算所述觸摸點的位置。
6.根據權利要求5所述的觸摸屏,其特征在于,所述比較模塊包括確定模塊,用于確定與距離觸摸點最近的觸控電極相鄰的觸控電極,并將該觸控電極作為所述另一個觸控電極。
7.根據權利要求5所述的觸摸屏,其特征在于,所述比較模塊包括確定模塊,用于根據流過觸控電極的電流確定距離觸控點距離第二近的觸控電極,并將該觸控電極作為所述另一個觸控電極。
8.根據權利要求5所述的觸摸屏,其特征在于,所述計算模塊包括:
電阻計算模塊,用于根據流過距離所述觸摸點最近的觸控電極的電流,以及流過另一個觸控電極的電流,計算所述觸摸點與距離觸摸點最近的觸控電極之間的第一電阻,以及所述觸摸點與所述另一個觸控電極之間的第二電阻;
距離計算模塊,用于利用所述第一電阻計算所述觸摸點與距離觸摸點最近的觸控電極之間的第一距離,利用所述第二電阻計算所述觸摸點與所述另一個觸控電極之間的第二距離;
位置計算模塊,用于根據所述第一距離和所述第二距離,以及距離觸摸點最近的觸控電極的位置,以及所述另一個觸控電極的位置計算所述觸摸點在所述觸控工作層上的位置。
9.根據權利要求5所述的觸摸屏,其特征在于,還包括電源模塊,用于向觸控工作層提供電源。
10.根據權利要求5所述的觸摸屏,其特征在于,還包括控制開關,用于控制所述電源模塊與觸控電極的導通。
11.根據權利要求5所述的觸摸屏,其特征在于,
所述觸控工作層的側邊上具有均勻間隔排放的16個觸控電極。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海天馬微電子有限公司,未經上海天馬微電子有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200810204447.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種復方男士阿膠糕
- 下一篇:一種復方阿膠糕方即食粉





