[發(fā)明專利]基于維持阻塞型D觸發(fā)器的按鍵信號(hào)去抖裝置

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200810201423.4
• 申請(qǐng)日: 2008-10-21
• 公開（公告）號(hào): CN101388657A
• 公開（公告）日: 2009-03-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 談進(jìn)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海第二工業(yè)大學(xué)
• 主分類號(hào): H03K3/013
• 分類號(hào): H03K3/013;H03K3/027;H03K3/356
• 代理公司: 上海東創(chuàng)專利代理事務(wù)所
• 代理人: 寧芝華

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種按鍵信號(hào)去抖裝置，尤其涉及一種基于維持阻塞型D觸發(fā)器的按鍵信號(hào)去抖裝置。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的按鍵方式大多都是采用機(jī)械開關(guān)結(jié)構(gòu)，因此當(dāng)按鍵時(shí)常會(huì)在臨界點(diǎn)產(chǎn)生來回跳動(dòng)的雜波，直接輸入這樣的信號(hào)可能會(huì)產(chǎn)生一次以上的誤動(dòng)作。請(qǐng)參見圖1，輸入的按鍵信號(hào)在臨界點(diǎn)T1處存在雜波，因此根據(jù)所形成的相應(yīng)抽樣信號(hào)，其輸出信號(hào)在T2處產(chǎn)生了一次誤動(dòng)作。當(dāng)然可采用調(diào)整取樣頻率來解決誤動(dòng)作的問題，如圖2所示，由于抽樣信號(hào)頻率的提高，避免了圖1中所示的誤動(dòng)作。然而，抽樣頻率不能無限制的提高，否則極為容易丟失有用信號(hào)。通常普通人的按鍵速度至多是10次/秒，亦即一次按鍵時(shí)間是100MS，所以按下鍵的時(shí)間可估算為50MS。如果取樣周期定為8MS，在鍵被按下的時(shí)間里可取樣6次。而不穩(wěn)定的噪音一般在4MS范圍之內(nèi)，所以至多只抽到一次。由于通常電路(如掃描電路和顯示電路)的工作頻率在24HZ左右，所以為消除誤動(dòng)作，現(xiàn)有去抖電路的取樣頻率選定為125HZ。如此不可避免就會(huì)因臨界點(diǎn)的雜波干擾而發(fā)生誤動(dòng)作的情形。

現(xiàn)有解決誤動(dòng)作問題的另一方法為采用RS觸發(fā)器去抖電路，如圖3所示，其為一RS觸發(fā)器去抖電路的原理圖，對(duì)該電路進(jìn)行編譯仿真后得到相應(yīng)波形圖，如圖4所示，由圖可知，所述RS觸發(fā)器去抖電路較為復(fù)雜，而且其輸出僅取決于兩個(gè)連續(xù)的取樣脈沖。此外，若在觸發(fā)器去抖電路中，增加普通的D觸發(fā)器個(gè)數(shù)，就會(huì)增加輸出的延長(zhǎng)時(shí)間而已，同樣可以用圖形輸入方式設(shè)計(jì)和仿真驗(yàn)證這一點(diǎn)。如圖5所示，其為增加一個(gè)觸發(fā)器的RS型去抖電路的輸入原理圖，對(duì)其進(jìn)行編譯仿真后得到相應(yīng)的仿真圖，如圖6所示，由圖可見，在RS型去抖電路中增加D觸發(fā)器數(shù)量，并不能增加有用信號(hào)的取樣脈沖個(gè)數(shù)，只是延長(zhǎng)了電路輸出的反應(yīng)時(shí)間而已。

因此開發(fā)一種更為有效的去抖動(dòng)電路實(shí)已成為本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的技術(shù)課題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種基于維持阻塞型D觸發(fā)器的按鍵信號(hào)去抖裝置，以使去抖動(dòng)電路線路簡(jiǎn)單，反應(yīng)速度快、同時(shí)實(shí)現(xiàn)電路的可擴(kuò)充性。

為了達(dá)到上述的目的，本發(fā)明提供一種基于維持阻塞型D觸發(fā)器的按鍵信號(hào)去抖裝置，其包括：由至少兩個(gè)維持阻塞型D觸發(fā)器形成的抽樣電路，其中，一個(gè)維持阻塞型D觸發(fā)器的置零端為輸入信號(hào)端，其輸出端與另一維持阻塞型D觸發(fā)器的置零端相連接；以及根據(jù)所述抽樣電路輸出的抽樣信號(hào)產(chǎn)生相應(yīng)一個(gè)時(shí)鐘寬度的輸出信號(hào)的微分電路。

其中，在所述抽樣電路增加維持阻塞型D觸發(fā)器的個(gè)數(shù)能使所述抽樣電路輸出的抽樣信號(hào)的個(gè)數(shù)增加。

較佳的，所述兩個(gè)維持阻塞型D觸發(fā)器的輸入端都接高電平。

較佳的，所述微分電路由第一與非門、第一D觸發(fā)器、第二與非門、第二D觸發(fā)器、及與門串接形成。

綜上所述，本發(fā)明的基于維持阻塞型D觸發(fā)器的按鍵信號(hào)去抖裝置通過由維持阻塞型D觸發(fā)器組成的抽樣電路即可實(shí)現(xiàn)對(duì)按鍵信號(hào)的去抖動(dòng)，而且所形成的去抖電路簡(jiǎn)單，通過增加維持阻塞型D觸發(fā)器的個(gè)數(shù)即可實(shí)現(xiàn)抽樣信號(hào)的擴(kuò)展。

附圖說明

圖1為現(xiàn)有因雜波而產(chǎn)生誤動(dòng)作的原理示意圖。

圖2為調(diào)整抽樣頻率后消除了誤動(dòng)作的原理示意圖。

圖3為現(xiàn)有RS觸發(fā)器去抖電路的原理圖。

圖4為對(duì)圖3所示的RS觸發(fā)器去抖電路仿真后獲得仿真結(jié)果示意圖。

圖5為現(xiàn)有增加一觸發(fā)器所形成的RS觸發(fā)器去抖電路的原理圖。

圖6為對(duì)圖5所示的RS觸發(fā)器去抖電路仿真后獲得仿真結(jié)果示意圖。

圖7為本發(fā)明的基于維持阻塞型D觸發(fā)器的按鍵信號(hào)去抖裝置的電路原理圖。

圖8為將圖7所示的基于維持阻塞型D觸發(fā)器的按鍵信號(hào)去抖裝置輸入仿真平臺(tái)后的電路仿真圖。

圖9為圖8所示的仿真圖經(jīng)過仿真后獲得的仿真結(jié)果示意圖。

圖10為增加一維持阻塞型D觸發(fā)器所形成的基于維持阻塞型D觸發(fā)器的按鍵信號(hào)去抖裝置的電路原理圖。

圖11為圖10所示的基于維持阻塞型D觸發(fā)器的按鍵信號(hào)去抖裝置的仿真結(jié)果示意圖。

具體實(shí)施方式

以下將對(duì)本發(fā)明的基于維持阻塞型D觸發(fā)器的按鍵信號(hào)去抖裝置作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。

請(qǐng)參閱圖7，其為基于維持阻塞型D觸發(fā)器的按鍵信號(hào)去抖裝置的電路原理圖。所述基于維持阻塞型D觸發(fā)器的按鍵信號(hào)去抖裝置包括：抽樣電路和微分電路。