[發明專利]防偽材料及防偽檢測方法無效
| 申請號: | 200810183553.X | 申請日: | 2008-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN101424059A | 公開(公告)日: | 2009-05-06 |
| 發明(設計)人: | 陳征;張俊峰;張宏浩;種挺;李德仁;盧志超;周少雄 | 申請(專利權)人: | 安泰科技股份有限公司 |
| 主分類號: | D21H21/42 | 分類號: | D21H21/42 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人: | 李 玲 |
| 地址: | 100081*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 防偽 材料 檢測 方法 | ||
技術領域
本發明涉及防偽領域,尤其涉及一種防偽材料及防偽檢測方法。
背景技術
目前紙張防偽技術主要有水印、安全線、激光全息、熒光涂飾、防偽纖維、磁性油墨等技術,在這些紙張防偽技術當中,采用非晶態合金的防盜防偽標簽得到了廣泛應用,這是由于非晶態合金具有巴克豪森效應(在磁化過程中疇壁發生跳躍式的不可逆位移過程),以及在交變磁場的激勵下能夠產生豐富的高次諧波的效應,這兩種效應可能實現優良的防盜防偽功能。
現有技術中對采用非晶態合金的防盜防偽標簽進行防偽檢測的方案如圖1所示,可以看出防偽標簽中含有多根不同矯頑力的非晶絲材,其中的非晶絲材2a、2b、2c、2d按照矯頑力的由小至大的順序,依次平行且按固定間隔的排列分布在防偽標簽1中。在檢測時,防偽標簽1由傳送系統按照矯頑力小的非晶絲材先進入、矯頑力大的非晶絲材后進入的方式送至檢測區域。在交變磁場的激勵下,防偽標簽在不同的磁場下感生出多個脈沖信號,形成一個磁場強度的脈沖序列(Ha、Hb、Hc、Hd),根據該脈沖序列間隔的比率來判斷標簽的真偽。此外利用這種方式,通過調整非晶絲材的根數以及材料矯頑力的大小,在實現防偽功能的同時,還實現了對標簽的簡單編碼。
但這種防偽檢測技術存在著以下的缺點:
1、防偽標簽必須以特定的方向進入檢測區域,以使得非晶絲材依次按照矯頑力從小到大的順序被激勵,如果矯頑力大的非晶絲材先進入檢測區域,而矯頑力小的非晶絲材后進入,則可能會導致激勵順序錯亂,造成誤報。
2、由于判斷標簽真偽的依據是脈沖序列間隔的比率,那么如果防偽標簽出現皺褶,使得非晶絲材之間的間隔發生變化,則會導致感生的脈沖序列間隔發生改變,從而造成誤報。
發明內容
本發明的一個目的是提出一種防偽材料,能夠便于使用,且不易仿造,誤報率低。
本發明的另一目的是提出一種防偽檢測方法,能夠避免現有技術中防偽標簽必須以特定方向進入檢測區域導致的誤報,且降低因防偽材料不規范導致的誤報情況。
為實現上述目的,本發明提供了一種防偽材料,所述防偽材料中嵌入或貼附有至少兩根非晶合金細長材料,所述非晶合金細長材料中至少有兩根具有不同的矯頑力,所述非晶合金細長材料相互平行,所述非晶合金細長材料不按矯頑力大小的順序排列。
進一步的,所述非晶合金細長材料為正磁致伸縮材料或近零磁致伸縮材料。
進一步的,所述非晶合金細長材料之間有間隔或無間隔或有間隔和無間隔混合。
進一步的,所述間隔為非等間距。
進一步的,所述非晶合金細長材料為非晶帶材或非晶絲材。
進一步的,所述非晶絲材為玻璃包覆非晶絲。
為實現上述目的,本發明提供了一種對前述防偽材料進行防偽檢測的方法,包括以下步驟:
將所述防偽材料置入激勵磁場,其中所述防偽材料中的非晶合金細長材料的長度方向與所述激勵磁場方向一致,并提取所述非晶合金細長材料在所述激勵磁場中感生出的感生電壓信號;
判斷所述感生電壓信號的衰減方式是否符合預設要求,所述判斷所述感生電壓信號的衰減方式是否符合預設要求的操作具體為:判斷所述感生電壓信號的峰值絕對值是否符合沿時間增加的方向非依次遞減的要求,是則確定所述防偽材料為真防偽材料,否則確定所述防偽材料為假防偽材料。
進一步的,在判斷出所述感生電壓信號的峰值絕對值沿時間增加的方向非依次遞減后,還包括進一步的防偽檢測步驟,具體為:
提取所述感生電壓信號中的前n個峰值位置和峰值幅值,n為正整數,并將所述前n個峰值位置和峰值幅值與預設的防偽編碼表進行匹配編碼,判斷該編碼是否符合預設的防偽編碼,其中所述防偽編碼表由多組峰值位置和峰值幅值進行劃分。
進一步的,在將所述前n個峰值位置和峰值幅值與預設的防偽編碼表進行匹配編碼之前,還包括對所述前n個峰值位置和/或峰值幅值進行歸一化的操作。
進一步的,當確定所述防偽材料為假防偽材料時,啟動報警系統。
基于上述技術方案,本發明以非晶合金感生出的電壓信號的衰減情況作為防偽材料真偽的判斷依據,這既不要求防偽材料中非晶合金細長材料有特定順序,也避免了在對防偽材料進行防偽檢測時,褶皺或者傾斜等帶來的誤報問題。
附圖說明
此處所說明的附圖用來提供對本發明的進一步理解,構成本申請的一部分,本發明的示意性實施例及其說明用于解釋本發明,并不構成對本發明的不當限定。在附圖中:
圖1為現有技術中對采用非晶態合金的防盜防偽標簽進行防偽檢測的方案示意圖。
圖2a-2c為本發明防偽材料的結構示意圖。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于安泰科技股份有限公司,未經安泰科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200810183553.X/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:增壓清基吸水裝置
- 下一篇:一種腈綸熒光染色的方法





