[發(fā)明專利]用于電線和電纜的偏心度計以及用于測量同心度的方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810161966.8
• 申請日: 2008-10-06
• 公開（公告）號: CN101713634A
• 公開（公告）日: 2010-05-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: R·利文斯頓
• 申請（專利權(quán)）人: 貝塔·萊塞邁克
• 主分類號: G01B7/312
• 分類號: G01B7/312;G01B7/12;G01B11/27;G01B11/10
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 范曉斌;曹若

1.一種用于測量基本沿z軸移動的長型物體的偏心度和直徑的裝置，所述裝置包括：

至少三個分立測量設(shè)備，所述至少三個分立測量設(shè)備沿所述z軸在軸向上間隔開，使得每個設(shè)備可以獲得用以存儲的在z軸預(yù)定點處的不同測量平面中的物體測量值，其中，每個平面相對于z軸以預(yù)定角度定向，并且每個所述設(shè)備配備為獲得用以存儲的在給定預(yù)定時刻和實際x-y坐標處的物體測量值；和

基于計算機的設(shè)備，所述基于計算機的設(shè)備可操作地連接到所述測量設(shè)備，所述基于計算機的設(shè)備具有軟件裝置以接收并存儲所述三組實際測量坐標值，采用兩組所述實際坐標值以推導(dǎo)第三組預(yù)計坐標值，并借助于計算第三組預(yù)計坐標值和實際第三組坐標值之間的差來計算偏心度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測量基本沿z軸移動的長型物體的偏心度和直徑的裝置，其特征在于，所述物體是包括絕緣套管和內(nèi)部金屬絲的電纜，第一所述設(shè)備能夠測量金屬絲的直徑，第二所述設(shè)備能夠測量套管的直徑，第三個所述設(shè)備能夠測量金屬絲直徑和套管直徑之一。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測量基本沿z軸移動的長型物體的偏心度和直徑的裝置，其特征在于，至少一個所述設(shè)備包括光學(xué)測量設(shè)備，且所述設(shè)備之一包括磁性測量設(shè)備。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于測量基本沿z軸移動的長型物體的偏心度和直徑的裝置，其特征在于，進一步地包括兩個光學(xué)設(shè)備，所述兩個光學(xué)設(shè)備在形成磁性平面的所述磁性設(shè)備的兩側(cè)上形成平面。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于測量基本沿z軸移動的長型物體的偏心度和直徑的裝置，其特征在于，進一步地包括兩個光學(xué)設(shè)備，所述兩個光學(xué)設(shè)備在形成磁性平面的所述磁性設(shè)備的一側(cè)上形成平面。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于測量基本沿z軸移動的長型物體的偏心度和直徑的裝置，其特征在于，進一步地包括兩個磁性設(shè)備，所述兩個磁性設(shè)備在形成光學(xué)平面的所述光學(xué)設(shè)備的一側(cè)上形成平面。

7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于測量基本沿z軸移動的長型物體的偏心度和直徑的裝置，其特征在于，進一步地包括兩個磁性設(shè)備，所述兩個磁性設(shè)備在形成光學(xué)平面的所述光學(xué)設(shè)備的兩側(cè)上形成平面。

8.一種用于測量基本沿z軸移動的長型物體的偏心度和直徑的方法，所述方法包括步驟：

(a)采用沿z軸在軸向上間隔開的至少三個分立測量設(shè)備，使得每個設(shè)備可以獲得在z軸預(yù)定點處的不同測量平面中的物體測量值，其中每個平面相對于z軸以預(yù)定角度定向；

(b)當(dāng)物體移動時在給定預(yù)定時刻用每個設(shè)備獲取測量值，由此獲得物體待測量區(qū)域的三組x-y坐標值；和

(c)使用所述三組坐標值來確定物體的偏心度。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述物體為電纜。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，還包括采用基于計算機的設(shè)備執(zhí)行步驟(c)。

11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中步驟(a)特征在于使得所述分立測量設(shè)備配備為獲得用以存儲的所述測量值，且特征還在于步驟(c)包括采用在其上具有軟件的基于計算機的設(shè)備來處理所述坐標值以確定偏心度。

12.一種用于計算導(dǎo)體在絕緣護套內(nèi)的位置的方法，所述方法包括步驟：

(a)采用至少三個測量平面，其中至少一個平面能夠測量內(nèi)部導(dǎo)體的位置以推導(dǎo)第一平面的第一組坐標值，至少一個平面能夠測量外部護套的位置以推導(dǎo)第二平面的第二組坐標值，其余平面能夠測量外部護套的位置和內(nèi)部導(dǎo)體的位置之一以推導(dǎo)第三平面中的第三組坐標值；和

(b)使用所述第一組坐標值和所述第二組坐標值推導(dǎo)所述平面中的所述第三平面中的預(yù)計坐標組，且將所述預(yù)計坐標組與所述第三組坐標值比較以確定所述導(dǎo)體在所述護套內(nèi)的偏心度和位置。