[發明專利]一種檢測集成電路負載在線功耗的方法、裝置和設備

有效

• 申請號: 200810147367.0
• 申請日: 2008-08-12
• 公開（公告）號: CN101650408A
• 公開（公告）日: 2010-02-17
• 發明（設計）人: 朱勇發;晉兆國;韓承章;賈榮華
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 何文彬

1.一種檢測集成電路負載在線功耗的方法，其特征在于，所述方法包括：

確定源節點和負載節點在電源平面的位置，所述電源平面包括源節點和至少一個負載節 點；

獲取所述源節點和所述負載節點的電壓值；獲取所述源節點和負載節點之間的直流電阻 值以及所述負載節點之間的直流電阻值；

根據所述電壓值和所述直流電阻值，獲取集成電路負載的功耗，所述集成電路負載擁有 至少一個負載節點。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取所述源節點和負載節點之間的直流 電阻值以及所述負載節點之間的直流電阻值的步驟，具體為：

自適應剖分所述電源平面，獲取所述電源平面剖分后的近似點；

獲取所述近似點的直流電阻值；

根據所述確定的源節點位置和負載節點位置，簡化所述電源平面的近似點個數，獲取只 擁有所述源節點和所述負載節點的等效電路網絡；

根據所述近似點的直流電阻值和所述等效電路網絡，獲取所述等效電路網絡中任意兩節 點之間的直流電阻值。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取所述源節點和負載節點之間的直流 電阻值以及所述負載節點之間的直流電阻值的步驟，具體為：

根據所述確定的源節點位置和負載節點位置，通過高精密直流電阻測試儀器測試，獲取 所述源節點和所述負載節點之間的直流電阻值，以及所述負載節點之間的直流電阻值。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取所述源節點和所述負載節點的電壓 值的步驟，具體為：

根據所述源節點和負載節點在電源平面的位置，通過檢測儀器的檢測獲取所述源節點和 所述負載節點的電壓值。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述電壓值和所述直流電阻值，獲 取集成電路負載的功耗的步驟，具體為：

根據所述電壓值和所述直流電阻值，獲取所述源節點和所述負載節點的電流值；

根據獲取的源節點和負載節點的電壓值和所述電流值，獲取集成負載的功耗。

6.如權利要求1至5任一權利要求所述的方法，其特征在于，

所述集成電路負載具體為：集成電路芯片和/或集成電路模塊。

7.一種檢測集成電路負載在線功耗的裝置，其特征在于，所述裝置包括：

位置確定模塊，用于確定源節點和負載節點在電源平面的位置，所述電源平面包括源節 點和至少一個負載節點；

電壓獲取模塊，用于獲取所述位置確定模塊確定的所述源節點和所述負載節點的電壓值；

電阻獲取模塊，用于獲取所述位置確定模塊確定的所述源節點和負載節點之間的直流電 阻值以及所述負載節點之間的直流電阻值；

功耗檢測模塊，用于根據所述電壓獲取模塊獲取的電壓值和所述電阻獲取模塊獲取的直 流電阻值，獲取集成電路負載的功耗，所述集成電路負載擁有至少一個負載節點。

8.如權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述電阻獲取模塊具體包括：

剖分單元，用于自適應剖分所述電源平面，獲取所述電源平面剖分后的近似點；

第一獲取單元，用于獲取所述剖分單元剖分電源平面得到的相鄰近似點的直流電阻值；

簡化單元，用于根據所述位置確定模塊確定的源節點位置和負載節點位置，簡化所述剖 分單元剖分電源平面得到的分節點個數，獲取只擁有所述源節點和所述負載節點的等效電路 網絡；

第二獲取單元，用于根據所述第一獲取單元獲取的直流電阻值，獲取所述簡化單元得到 的等效電路網絡中任意兩節點之間的直流電阻值。

9.如權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述電阻獲取模塊具體包括：

測試單元，用于根據所述位置確定模塊確定的源節點位置和負載節點位置，通過高精密 直流電阻測試儀器測試，獲取所述源節點和負載節點之間的直流電阻值以及所述負載節點之 間的直流電阻值。