[發(fā)明專利]長(zhǎng)度測(cè)量裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810136161.8 | 申請(qǐng)日: | 2008-07-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101344380A | 公開(公告)日: | 2009-01-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | A·阿法;J·豪恩賴特 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 約翰尼斯海登海恩博士股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/02 | 分類號(hào): | G01B11/02;G12B15/06 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 曹若;梁冰 |
| 地址: | 德國(guó)特勞*** | 國(guó)省代碼: | 德國(guó);DE |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 長(zhǎng)度 測(cè)量 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種長(zhǎng)度測(cè)量裝置。?
背景技術(shù)
例如DE?29?29?989?A所述的,這樣一種類型的長(zhǎng)度測(cè)量機(jī)用于測(cè)量長(zhǎng)度以及行程,并且特別是在加工機(jī)器中用于測(cè)量刀具相對(duì)于待加工的工件的相對(duì)運(yùn)動(dòng),并且在坐標(biāo)測(cè)量機(jī)中得到應(yīng)用,并且也在半導(dǎo)體工業(yè)中得到越來越多的應(yīng)用。?
在這種情況中刻度尺用作尺度。為了防止外界環(huán)境的影響將刻度尺設(shè)置在殼體中。在殼體內(nèi)部溫度的變化會(huì)根據(jù)刻度尺材料引起刻度尺的長(zhǎng)度的變化。這些長(zhǎng)度的變化導(dǎo)致測(cè)量誤差。?
為了使這種溫度的變化盡可能的小,根據(jù)DE?101?64?404?A1建議對(duì)有外殼的長(zhǎng)度測(cè)量裝置的內(nèi)腔室進(jìn)行溫度調(diào)節(jié)。其措施是經(jīng)調(diào)節(jié)的冷卻介質(zhì)流過該內(nèi)腔室。通過這一措施應(yīng)達(dá)到刻度尺具有機(jī)床的溫度水平。其中的缺點(diǎn)是,其中并未考慮由于長(zhǎng)度測(cè)量裝置的電元器件本身所產(chǎn)生的溫度變化。?
通常所要求的分辨率越高,位置測(cè)量的精度和可重復(fù)性越高對(duì)長(zhǎng)度測(cè)量裝置的要求也越來越高。在這種情況中應(yīng)具有一種結(jié)構(gòu)緊湊以及一種簡(jiǎn)單和抗干擾的測(cè)量值生成和測(cè)量值傳輸裝置。?
這些要求需要具有外殼的長(zhǎng)度測(cè)量裝置,并且刻度尺有保護(hù)地設(shè)置。高的分辨率規(guī)定了越來越小的,并且在整個(gè)測(cè)量長(zhǎng)度上恒定的掃描距離。這一方面通過小的100μm的比較小的掃描距離,并且另一方面通過掃描單元在刻度尺和/或殼體上導(dǎo)引達(dá)到,其中,為了掃描單元的無干擾的精確導(dǎo)引,隨動(dòng)件通過僅沿著測(cè)量方向?yàn)閯傂缘鸟詈蠙C(jī)構(gòu)耦合在掃描單元上。這種耦合機(jī)構(gòu)使得隨動(dòng)件沿所有其它方向的運(yùn)動(dòng)成為可能,同時(shí)對(duì)掃描單元沿測(cè)量方向的精確導(dǎo)引和運(yùn)動(dòng)沒有反作用。?
一種緊湊的結(jié)構(gòu)和一種抗干擾的測(cè)量值生成以及測(cè)量值傳輸裝置要求將越來越多的電元器件集成在掃描單元本身中。為此使用越來越多的傳感器芯片。一系列的掃描傳感器,例如可光電掃描的刻度尺中的光敏探測(cè)器,以及信號(hào)處理機(jī)構(gòu),例如A/D變換器,放大器,微處理器和接口都以最小的空間設(shè)置在這些傳感器芯片中。其結(jié)果是在掃描單元中產(chǎn)生越來越多的熱量。由于要求掃描距離要小,這種熱產(chǎn)生過度地加熱了刻度尺。這種加熱導(dǎo)致刻度尺的長(zhǎng)度發(fā)生變化,并且導(dǎo)致測(cè)量不精確。?
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的任務(wù)是提供一種具有高的測(cè)量精確度的長(zhǎng)度測(cè)量裝置。?
根據(jù)本發(fā)明這個(gè)任務(wù)通過一種用于測(cè)量?jī)蓚€(gè)物體的相對(duì)位置的長(zhǎng)度測(cè)量裝置得以完成。其中為了所述測(cè)量,該長(zhǎng)度測(cè)量裝置的殼體能固定在所述物體中的一個(gè)物體上,并且長(zhǎng)度測(cè)量裝置的隨動(dòng)件能固定在所述物體中的另一個(gè)物體上,其中該長(zhǎng)度測(cè)量裝置具有?
-在所述殼體中的刻度尺,?
-相對(duì)于刻度尺和殼體單元沿測(cè)量方向X能夠移動(dòng)的掃描單元,其中,所述掃描單元設(shè)置在殼體內(nèi),并具有至少一個(gè)產(chǎn)生熱的電元器件;?
-所述隨動(dòng)件,該隨動(dòng)件通過沿測(cè)量方向X為剛性的、而橫交于測(cè)量方向X為柔性的耦合機(jī)構(gòu)固定在掃描單元上,并且該隨動(dòng)件朝向設(shè)置在殼體外的安裝區(qū)域延伸;?
根據(jù)本發(fā)明設(shè)置一種導(dǎo)熱元件,這個(gè)導(dǎo)熱元件被構(gòu)造用于將在電元器件上產(chǎn)生的熱傳遞到隨動(dòng)件上,并且這個(gè)導(dǎo)熱元件允許在隨動(dòng)件和掃描單元之間至少橫交于測(cè)量方向X進(jìn)行相對(duì)運(yùn)動(dòng)。?
采用本發(fā)明可使長(zhǎng)度測(cè)量裝置的結(jié)構(gòu)緊湊,其中,也可達(dá)到高的測(cè)量精確度和位置測(cè)量的可重復(fù)性。?
通過在掃描單元的產(chǎn)生熱的電元器件,特別是傳感器芯片和隨動(dòng)件之間設(shè)置一種導(dǎo)熱元件,在電元器件和隨動(dòng)件之間提供了一種導(dǎo)熱通道,以便將在電元器件上生成的熱量傳遞到隨動(dòng)件上。隨動(dòng)件在殼體的外部通到安裝區(qū)域,這樣熱量會(huì)繼續(xù)沿著隨動(dòng)件傳到外部。參加導(dǎo)熱通道的構(gòu)件具有小的傳熱阻力。此外,導(dǎo)熱元件是如此設(shè)計(jì)的,即它允許在掃描單元和隨動(dòng)件之間至少橫交于測(cè)量方向的相對(duì)運(yùn)動(dòng),也就是在這樣的一些方向中,即位于掃描單元和隨動(dòng)件之間的耦合機(jī)構(gòu)所允許的那些方向。也就是說采用本發(fā)明,有針對(duì)性地從傳感器芯片朝著殼體外的方向提供了導(dǎo)熱通道。?
本發(fā)明還涉及一些有利的方案。?
附圖說明
借助實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行更加詳細(xì)的說明。?
這些附圖是:?
圖1:長(zhǎng)度測(cè)量裝置的縱向截面圖。?
圖2:根據(jù)圖1的長(zhǎng)度測(cè)量裝置的A-A截面圖。?
圖3:截面詳圖。?
圖4:圖3中B-B的俯視圖。?
具體實(shí)施方式
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于約翰尼斯海登海恩博士股份有限公司,未經(jīng)約翰尼斯海登海恩博士股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200810136161.8/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 路徑長(zhǎng)度算出裝置及路徑長(zhǎng)度算出方法
- 損傷長(zhǎng)度測(cè)定系統(tǒng)及損傷長(zhǎng)度測(cè)定方法
- 長(zhǎng)度計(jì)算系統(tǒng)及長(zhǎng)度計(jì)算方法
- 長(zhǎng)度計(jì)算系統(tǒng)及長(zhǎng)度計(jì)算方法
- 長(zhǎng)度量測(cè)方法與長(zhǎng)度量測(cè)裝置
- 可調(diào)節(jié)測(cè)量長(zhǎng)度的長(zhǎng)度傳感器
- 長(zhǎng)度測(cè)量裝置及長(zhǎng)度測(cè)量系統(tǒng)
- 長(zhǎng)度測(cè)量設(shè)備及長(zhǎng)度測(cè)量方法
- 中等長(zhǎng)度導(dǎo)管長(zhǎng)度電子測(cè)量尺
- 中等長(zhǎng)度導(dǎo)管長(zhǎng)度機(jī)械測(cè)量尺
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量配件和測(cè)量方法
- 測(cè)量尺的測(cè)量組件及測(cè)量尺
- 測(cè)量輔助裝置、測(cè)量裝置和測(cè)量系統(tǒng)
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量容器、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量程序以及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量電路、測(cè)量方法及測(cè)量設(shè)備





