[發明專利]測試排程系統與方法

有效

• 申請號: 200810135557.0
• 申請日: 2008-09-03
• 公開（公告）號: CN101666853A
• 公開（公告）日: 2010-03-10
• 發明（設計）人: 梁文山;陳福泰
• 申請（專利權）人: 京元電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京中原華和知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 壽 寧;張華輝

技術領域

本發明涉及一種測試排程系統與方法，特別是涉及一種用以在測試流程中自動最佳化測試參數下載流程的測試排程系統與方法。

背景技術

電子元件在制作完成后，通常需要經過晶片測試(circuit?probe?test)，用以在封裝前區分晶粒的良莠，確認晶粒的品質以進行封裝，避免對于品質不良的晶粒進行封裝而造成不必要的浪費；而在封裝后需要進行成品測試(final?test)，以確定封裝過程中晶片未受損傷，以及晶片在封裝后仍符合規格。

然而，無論是合上述那一種測試，都需要建立一測試模式(pattern)，而依此測試模式決定信號傳遞給誰、何時傳遞、以及持續的時間等相關測試狀態，亦即在測試流程中，根據此測試模式決定提供給晶粒上的各個信號接點Low或是High的信號(即0或1的信號)，以及此一信號維持或發生的時間(即為時間產生速率(time?generation?rate；簡稱TG?rate))等測試參數，而進行測試。

隨著現今電子元件的復雜化、多功能化以及積集化，因此晶粒所需測試的功能與步驟也日趨復雜，因此，其所使用來達成的測試模式所決定測試狀態的測試參數也隨之明顯的增加，造成測試機臺中的存儲器常常容量有限，無法一次性地將此全部的測試參數下載，而無法進行測試。此外，因測試機臺中的存儲器容量有限，無法將所有測試模式所需要的參數接下載于其中，因此，一旦更改測試模式或測試流程，往往需要重新下載測試參數，而造成測試效能的降低。

目前所采用解決此一問題的方法有兩種，其中一種為采用一次下載法，亦即更換或購買存儲器容量夠大的測試機臺，以使得可以一次將所有測試參數下載的存儲器中進行測試。然而，此一方法的缺點為存儲器容量越大的測試機臺，其價格往往成倍數成長，購買一存儲器容量足夠容納所有測試模式需要的所有測試參數的測試機臺，將造成測試成本的大幅提升。此外，雖然需要容量如此大的存儲器的測試機臺來進行測試的電子元件有增加的趨勢，但是在目前所生產電子元件的比例上來說仍然偏低，因此，購買此一大存儲器容量的測試機臺來因應可能需要大量測試參數但機率卻不高的電子元件，將增加無謂的成本。

另一種方式則為分次下載法，即在所需的測試參數無法一次性地下載的時候，將其分次下載，優先下載當前會使用到的測試參數，待這些測試參數皆使用完之后，再下載其他所需測試參數進行測試，但是此一方式的缺點在于每一次的測試參數下載，皆將前一次的測試參數移除后再下載或是直接覆蓋，使得如果有重復使用的測試參數，也需重新下載，因此造成整個下載次數與時間的增加，進而造成測試效能的減低。此外，在面對動態的測試流程，例如分級測試(grade)，或是測試分枝，例如測試不通過(fail)的回測等復雜的測試，其所需要的測試模式與相對應的測試參數繁多，往往因存儲器容量的限制而無法采用一次下載法，但采用分次下載法則又會耗費需多時間下載參數，導致測試效能的大幅減低。

因此，為解決前述習知等問題，亟需一種測試排程系統與方法，可以在測試流程中，自動最佳化測試參數下載流程，而在測試機臺有限的存儲器容量下，以最少的下載次數與下載時間所有所需測試參數，進而增加測試效能與減少測試成本。

有鑒于上述現有的測試機臺或下載法存在的缺陷，本發明人基于從事此類產品設計制造多年豐富的實務經驗及專業知識，并配合學理的運用，積極加以研究創新，以期創設一種新的測試排程系統與方法，能夠改進一般現有的測試機臺或下載法，使其更具有實用性。經過不斷的研究、設計，并經反復試作及改進后，終于創設出確具實用價值的本發明。

發明內容

本發明的目的在于，克服現有的測試排程系統與方法存在的缺陷，而提供一種新的測試排程系統與方法，所要解決的技術問題是使其解決習知的測試機臺因存儲器容量不足所造成的測試參數無法下載至存儲器中的問題，或是重復下載相同的測試參數而無法以最少的下載次數與下載時間進行測試參數的下載導致測試效能降低的問題，從而更加適于實用。

本發明的目的及解決其技術問題是采用以下技術方案來實現的。依據本發明提出的一種測試排程系統，包含:一測試模式(pattern)，用以決定測試信號發送以及進行測試所需測試參數；一儲存裝置，用以下載與儲存測試所需的測試參數；一切換開關，分別連接該測試模式(pattern)與該儲存裝置；以及一排程裝置，分別連接該切換開關與該儲存裝置，用以最佳化該測試模式(pattern)所需的測試參數的下載流程。

本發明的目的及解決其技術問題還可采用以下技術措施進一步實現。