[發明專利]漿料成分及利用其的CMP方法無效
| 申請號: | 200810131102.1 | 申請日: | 2004-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN101345209A | 公開(公告)日: | 2009-01-14 |
| 發明(設計)人: | 崔在光;李在東;洪昌基 | 申請(專利權)人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L21/321;H01L21/304;C09G1/02;C09G1/16 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 黃啟行;陸錦華 |
| 地址: | 韓國京畿道水*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 漿料 成分 利用 cmp 方法 | ||
1.一種除去形成在包括停止層的圖形上的多晶硅層的上部的方法,包括:
采用研磨漿料拋光多晶硅層以除去多晶硅層的上部,形成拋光的多晶硅表面,并暴露停止層的上表面,拋光的多晶硅表面和暴露的停止層的表面基本上共平面,其中
該研磨漿料包括選擇地在多晶硅層上形成鈍化層的非離子表面活性劑,以及
其中:
非離子表面活性劑包括一種或多種選自:通過化學式I
CH3-(CH2)n-(CH(CH3)CH2O)y-(CH2CH2O)x-OH????????(I)
表示的環氧乙烷-環氧丙烷嵌段共聚物醇;
通過化學式II
R2-C6H4O-(CH(CH3)CH2O)y-(CH2CH2O)x-OH??????????(II)
表示的環氧乙烷-環氧丙烷嵌段共聚物芳基醇,
其中
R2為-C9H19或-C8H17;
通過化學式III
(CH2CH2O)z-(CH(CH3)CH2O)y-(CH2CH2O)x-OH????????(III)
表示的環氧乙烷-環氧丙烷-環氧乙烷三嵌段聚合物;
和
由化學式IV
(CH(CH3)CH2O)z-(CH2CH2O)y-(CH(CH3)CH2O)x-OH????(IV)
表示的環氧丙烷-環氧乙烷-環氧丙烷三嵌段聚合物,
其中
n為滿足關系式3≤n≤22的整數;
z為滿足關系式1≤z≤30的整數;
y為滿足關系式1≤y≤30的整數;和
x為滿足關系式1≤x≤30的整數。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于三星電子株式會社,未經三星電子株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200810131102.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:相機模組
- 下一篇:光伏模塊以及制造該光伏模塊的互連方法
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





